一种恒力测量电子数显卡尺，包括主尺，主尺1的前方设置有贴面10，主尺外圈设置有尺框，尺框与主尺上方的间隙之间设置有尺框塞片，尺框的后方设置有恒力装置，恒力装置包括拉杆、恒力框、弹簧、压力调节螺钉；恒力框为C形结构，恒力框与主尺上方的间隙之间设置有恒力框塞片，恒力框顶部设置有紧固螺钉，恒力框在主尺下方的左侧设置有拉杆，拉杆的左端与数显元件的右端连接，拉杆的右端通过弹簧与压力调节螺钉的小端连接。本实用新型专利技术结构合理，解决了检测时测量力恒定且可直接读出工件的误差值的问题。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于测量工具领域，特别涉及一种恒力测量电子数显卡尺，适用于零件批量生产的恒定测量力检测。
技术介绍
目前的电子数显卡尺对于大批量的零件测量都要反复拉动尺框对工件进行测试，而每次测量时的测量力不可能一致，从而带来了对工件的误判，而且读数不能反应工件的误差值，必须通过计算才能确定。
技术实现思路
本技术的目的要解决上述技术问题。本技术的目的是这样实现的:一种恒力测量电子数显卡尺，包括主尺，主尺的前方设置有贴面，主尺外圈设置有尺框，尺框与主尺上方的间隙之间设置有尺框塞片，其特征在于:所述的尺框的后方设置有恒力装置，恒力装置包括拉杆、恒力框、弹簧、压力调节螺钉；恒力框为C形结构，恒力框与主尺上方的间隙之间设置有恒力框塞片，恒力框顶部设置有紧固螺钉，恒力框在主尺下方的左侧设置有拉杆，拉杆的左端与数显元件的右端连接，拉杆的右端通过弹簧与压力调节螺钉的小端连接。本技术结构合理，解决了检测时测量力恒定且可直接读出工件的误差值的问题。【附图说明】图1是本技术的主视图。图2是本技术的恒力装置左视图。图3是本技术的恒力装置主视图。图4是本技术的使用图。图中:1、主尺，2、尺框，3、数显元件，4、紧固螺钉，5、拉杆，6、恒力框塞片，7、恒力框，8、弹簧，9、压力调节螺钉，10、贴面，11、挡板。【具体实施方式】下面结合附图对本技术作进一步说明，但不作为对本技术的限制:一种恒力测量电子数显卡尺，包括主尺1，主尺I的前方设置有贴面10，主尺I外圈设置有尺框2，尺框2与主尺I上方的间隙之间设置有尺框塞片，主尺I与尺框2之间的间隙小于0.03mm ;尺框2的顶部从左到右设置有开槽平端紧定螺钉、紧固螺钉4、开槽圆柱端紧定螺钉，开槽平端紧定螺钉和开槽圆柱端紧定螺钉调节，保证合理移动力；紧固螺钉4用于锁紧尺框2静止于主尺I上；所述的尺框2的后方设置有恒力装置，恒力装置包括拉杆5、恒力框7、弹簧8、压力调节螺钉9 ;恒力框7为C形结构，恒力框7与主尺I上方的间隙之间设置有恒力框塞片6，恒力框7的顶部从左到右设置有开槽平端紧定螺钉、紧固螺钉、开槽圆柱端紧定螺钉，开槽平端紧定螺钉和开槽圆柱端紧定螺钉调节，保证合理移动力；紧固螺钉用于锁紧恒力框7静止于主尺I上；为防止误操作而使尺框2、恒力框7脱离主尺1，在主尺I尾部加装止挡；恒力框7在主尺I下方的左侧设置有拉杆5，拉杆5的左端与数显元件3的右端连接，拉杆5的右端通过弹簧8与压力调节螺钉9的小端连接，通过调节螺钉9可改变弹簧力的大小，从而保证在恒力框7锁紧的状态下尺框2移动力的大小。具体实施时，1)、主尺1、尺框2、紧固螺钉4、拉杆5、恒力框7、压力调节螺钉9、挡板11、元件固定螺钉12、圆杆深度尺15、尾挡螺钉16、开槽圆柱端紧定螺钉、开槽平端紧定螺钉采用不锈钢材料制成；恒力框塞片6、尺框塞片用铜材料制成，弹簧8用高碳钢65Mn制成。使用时操作步骤如下:1)、将尺框2、恒力框7上的紧固螺钉松开，将尺框2平稳拉开，移动至合适的位置，用洁净软布将测量面、导向面擦干净；2)、夹持所需尺寸的量块或环规，拧紧恒力框7上的紧固螺钉；3)、将数显元件3读数清“0”;4)、锁紧恒力框7紧固螺钉，移去量块或环规；5)、拉动尺框2对加工零件进行测量，每次的测量，数显元件3上均显示加工零件与标准块误差值(土数值)，从而很方便地判断加工工件是否合格；6)、其它测量功能与正常电子数显卡尺相同。本技术的上述实施例，仅仅是清楚地说明本技术所做的举例，但不用来限制本技术的保护范围，所有等同的技术方案也属于本技术的范畴，本技术的专利保护范围应由各项权利要求限定。【主权项】1.一种恒力测量电子数显卡尺，包括主尺(I)，主尺(I)的前方设置有贴面(10)，主尺(I)外圈设置有尺框(2)，尺框(2)与主尺(I)上方的间隙之间设置有尺框塞片，其特征在于:所述的尺框(2)的后方设置有恒力装置，恒力装置包括拉杆(5)、恒力框(7)、弹簧(8)、压力调节螺钉(9);恒力框(7)为C形结构，恒力框(7)与主尺(I)上方的间隙之间设置有恒力框塞片(6)，恒力框(7)顶部设置有紧固螺钉，恒力框(7)在主尺(I)下方的左侧设置有拉杆(5)，拉杆(5)的左端与数显元件(3)的右端连接，拉杆(5)的右端通过弹簧(8)与压力调节螺钉(9)的小端连接。【专利摘要】一种恒力测量电子数显卡尺，包括主尺，主尺1的前方设置有贴面10，主尺外圈设置有尺框，尺框与主尺上方的间隙之间设置有尺框塞片，尺框的后方设置有恒力装置，恒力装置包括拉杆、恒力框、弹簧、压力调节螺钉；恒力框为C形结构，恒力框与主尺上方的间隙之间设置有恒力框塞片，恒力框顶部设置有紧固螺钉，恒力框在主尺下方的左侧设置有拉杆，拉杆的左端与数显元件的右端连接，拉杆的右端通过弹簧与压力调节螺钉的小端连接。本技术结构合理，解决了检测时测量力恒定且可直接读出工件的误差值的问题。【IPC分类】G01B3/20【公开号】CN204806995【申请号】CN201520350309【专利技术人】瞿仲林 【申请人】靖江量具有限公司【公开日】2015年11月25日【申请日】2015年5月27日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种恒力测量电子数显卡尺，包括主尺（1），主尺（1）的前方设置有贴面（10），主尺（1）外圈设置有尺框（2），尺框（2）与主尺（1）上方的间隙之间设置有尺框塞片，其特征在于：所述的尺框（2）的后方设置有恒力装置，恒力装置包括拉杆（5）、恒力框（7）、弹簧（8）、压力调节螺钉（9）；恒力框（7）为C形结构，恒力框（7）与主尺（1）上方的间隙之间设置有恒力框塞片（6），恒力框（7）顶部设置有紧固螺钉，恒力框（7）在主尺（1）下方的左侧设置有拉杆（5），拉杆（5）的左端与数显元件（3）的右端连接，拉杆（5）的右端通过弹簧（8）与压力调节螺钉（9）的小端连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：瞿仲林，
申请(专利权)人：靖江量具有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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