铁氧体颗粒及使用其的电子照相显影用载体、电子照相用显影剂以及铁氧体颗粒的制造方法技术

本发明专利技术的铁氧体颗粒的特征在于，其是将Mn铁氧体作为主相且含有Sr铁氧体的铁氧体颗粒，颗粒表面的凹凸度为2.5μm～4.5μm的范围，显露在颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差为1.5μm～3.5μm的范围。由此，覆盖树脂随着长期使用仍残留在颗粒表面，能够抑制带电特性的降低。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】铁氧体颗粒及使用其的电子照相显影用载体、电子照相用显影剂以及铁氧体颗粒的制造方法
本专利技术涉及表面为凹凸形状、具有规定的磁特性的铁氧体颗粒及使用其的电子照相显影用载体(以下，有时简称为“载体”)、电子照相用显影剂(以下，有时简称为“显影剂”)以及铁氧体颗粒的制造方法。
技术介绍
例如，在使用电子照相方式的传真机、打印机、复印机等图像形成设备中，使调色剂附着于感光体的表面上形成的静电潜像，进行可视图像化，将该可视图像转印到纸张等后，进行加热/加压来进行定影。从高画质化、色彩化的观点出发，作为显影剂，广泛使用了包含载体和调色剂的所谓的双组分显影剂。在使用双组分显影剂的显影方式中，在显影设备内搅拌混合载体和调色剂，利用摩擦使调色剂带电至规定量。然后，向旋转的显影辊供给显影剂，在显影辊上形成磁刷，介由磁刷使调色剂向感光体电移动，使感光体上的静电潜像可视图像化。调色剂移动后的载体残留在显影辊上，在显影设备内再次与调色剂混合。因此，作为载体的特性，要求用于形成磁刷的磁特性、向调色剂赋予所需的电荷的带电特性以及反复使用时的耐久性。因此，目前为止较多地使用用树脂覆盖磁铁矿、各种铁氧体等磁性颗粒的表面的所谓的涂层载体。然而，颗粒表面的覆盖树脂层由于在显影设备内的长期的搅拌等而磨损。若颗粒表面的覆盖树脂层整体磨损，则载体的带电特性降低，产生调色剂的带电不良，图像质量下降。专利文献1提出了为了提高与覆盖树脂层的粘接强度，对于特定组成的铁氧体颗粒，在晶粒(結晶粒)的表面形成微小的凹凸。另外，专利文献2提出了在铁氧体颗粒的表面形成细条状褶纹的凹凸。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开平10-104884号公报(权利要求书和(0029)段等)专利文献2：WO2007/63933号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题专利文献1提出的铁氧体颗粒中，在晶粒的表面形成的凹凸的优选的深度为0.5μm以下，另外，专利文献2提出的铁氧体颗粒中，颗粒表面的凹凸也为褶纹，因此认为随着长期使用，颗粒表面的覆盖树脂层整体均等地磨损。因此，不能充分地抑制载体的带电特性的降低。本专利技术是鉴于这样的现有问题而做出的，其目的在于，提供一种覆盖树脂随着长期使用仍部分地残留在颗粒表面，能够抑制带电特性的降低的铁氧体颗粒。另外，本专利技术的目的在于，提供一种稳定地维持带电性能的电子照相显影用载体和电子照相用显影剂。进而，本专利技术的目的在于，提供一种高效地制造颗粒表面的凹凸度为特定范围、显露在颗粒表面的晶粒(グレイン)的大小的波动为规定范围的铁氧体颗粒的方法。用于解决问题的方案用于实现前述目的的本专利技术的铁氧体颗粒是将Mn铁氧体作为主相且含有Sr铁氧体的铁氧体颗粒，颗粒表面的凹凸度为2.5μm～4.5μm的范围，显露在颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差为1.5μm～3.5μm的范围。需要说明的是，本说明书中“凹凸度”和“标准偏差”是根据实施例中所示测定方法测定的值。另外，根据本专利技术，提供一种电子照相显影用载体，其特征在于，前述铁氧体颗粒的表面被树脂覆盖。进而，根据本专利技术，提供一种电子照相用显影剂，其包含前述电子照相显影用载体和调色剂。另外，根据本专利技术，提供一种铁氧体颗粒的制造方法，其特征在于，其具有：将Fe成分原料、Mn成分原料、体积平均粒径(以下，有时简称为“平均粒径”)为1.0μm～4.5μm的Sr铁氧体颗粒投入到分散剂中而得到浆料的工序；对前述浆料进行喷雾干燥而得到造粒物的工序；以及对前述造粒物进行焙烧而得到焙烧物的工序。另外，Sr铁氧体颗粒的添加量优选为2.5wt％～15wt％的范围。专利技术的效果对于本专利技术的铁氧体颗粒，覆盖树脂随着长期使用仍部分地残留在颗粒表面，能够抑制带电特性的降低。本专利技术的电子照相显影用载体和电子照相用显影剂能够稳定地维持带电性能。本专利技术的制造方法能够高效地制造颗粒表面的凹凸度为特定范围、显露在颗粒表面的晶粒的大小的波动为规定范围的铁氧体颗粒。附图说明图1是实施例1的铁氧体颗粒的SEM照片。图2是示出Sr铁氧体颗粒的平均粒径和铁氧体颗粒表面的凹凸度的关系的图。图3是示出Sr铁氧体颗粒的平均粒径和铁氧体颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差σ的关系的图。图4是示出铁氧体颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差σ的计算例的图。具体实施方式首先，对本专利技术的铁氧体颗粒进行说明。本专利技术的铁氧体颗粒的一大特征在于，颗粒表面的凹凸度为2.5μm～4.5μm的范围。由此，铁氧体颗粒表面被树脂覆盖时，凹部的覆盖树脂随着长期使用也不会磨损，因此能够抑制带电特性的降低。颗粒表面的凹凸度小于2.5μm时，覆盖树脂整体均匀地磨损，另一方面，颗粒表面的凹凸度大于4.5μm时，铁氧体颗粒的流动性极度恶化，将铁氧体颗粒用作载体芯材时，调色剂的带电特性降低。颗粒表面的凹凸度的更优选的范围为3.1μm～4.5μm的范围。另外，本专利技术的铁氧体颗粒的另外一大特征在于，显露在颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差为1.5μm～3.5μm的范围。如此，通过晶粒的大小某种程度地波动并结合前述颗粒表面的凹凸度，能够防止颗粒表面被树脂覆盖情况下的、铁氧体颗粒表面的覆盖树脂的均匀的磨损，覆盖树脂残留在凹部，能够抑制带电特性的降低。为了使铁氧体颗粒的颗粒表面的凹凸度和晶粒的大小的标准偏差为前述范围，如后述那样，重要的是使用Sr铁氧体颗粒作为铁氧体颗粒的原料，并且调整Sr铁氧体颗粒的平均粒径。图2示出Sr铁氧体颗粒的平均粒径和铁氧体颗粒表面的凹凸度的关系。另外，图3示出Sr铁氧体颗粒的平均粒径和显露在铁氧体颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差的关系。由图2可知，用作原料的Sr铁氧体颗粒的平均粒径与铁氧体颗粒表面的凹凸度大致成比例关系，增大作为原料的Sr铁氧体颗粒的平均粒径时，所得铁氧体颗粒的表面的凹凸度变大。另外，由图3可知，用作原料的Sr铁氧体颗粒的平均粒径与显露在铁氧体颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差也大致成比例关系，增大作为原料的Sr铁氧体颗粒的平均粒径时，显露在铁氧体颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差也变大。如此，推测通过将Sr铁氧体用作原料而使所得铁氧体颗粒的表面的凹凸度以及显露在铁氧体颗粒表面的晶粒的标准偏差变大是由于，作为原料的Sr铁氧体作为晶种促进纵向晶体生长，其结果，所得铁氧体颗粒的表面的凹凸度以及显露在铁氧体颗粒表面的晶粒的波动变大。用作原料的Sr铁氧体颗粒的平均粒径为1.0μm～4.5μm的范围。更优选为1.0μm～3.5μm的范围。将Sr铁氧体颗粒的平均粒径设定为该范围，由此所得铁氧体颗粒表面的凹凸度以及晶粒的大小的标准偏差容易处于本专利技术的规定范围。需要说明的是，本专利技术的铁氧体颗粒将Mn铁氧体作为主相，因此容易得到所需的磁特性和电阻。本专利技术的铁氧体颗粒的体积平均粒径优选为10μm～100μm的范围。通过使体积平均粒径为10μm以上，能够确实地赋予各个颗粒所需的磁力，例如，将铁氧体颗粒用作电子照相显影用载体时，变得能够抑制载体附着于感光体。另一方面，使体积平均粒径为100μm以下，由此变得能够良好地保持图像特性。为了将铁氧体颗粒的平均粒径设定为上述范围，在铁氧体颗粒的制造工序中或者制造工序后，使用筛等进行分级处理即可。另外，优选的是粒径分布窄。本专利技术的铁氧体颗粒的表观密度优选为2.5g/cm3以下。通过使表观密本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种铁氧体颗粒，其特征在于，其是将Mn铁氧体作为主相且含有Sr铁氧体的铁氧体颗粒，颗粒表面的凹凸度为2.5μm～4.5μm的范围，显露在颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差为1.5μm～3.5μm的范围。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.03.28 JP 2013-0696221.一种铁氧体颗粒，其特征在于，其是将Mn铁氧体作为主相且含有Sr铁氧体的铁氧体颗粒，颗粒表面的凹凸度为2.5μm～4.5μm的范围，显露在颗粒表面的晶粒的大小的标准偏差为1.5μm～3.5μm的范围。2.一种电子照相显影用载体，其特征在于，权利要求1所述的铁氧体颗粒的表面被树脂覆盖。3.一种电子照相用显影剂...

【专利技术属性】
技术研发人员：河内岳志，小川翔，松田行弘，
申请(专利权)人：同和电子科技有限公司，同和铁粉创新有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP