【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种测量电阻器、尤其是一种低电阻电流检测电阻器。本专利技术还涉及 一种对应的测量方法。
技术介绍
多年来从现有技术（例如文献DE4243349A1)已经知晓利用低电阻电流检测电阻 器通过所谓的四线技术（"分流器"）来测量电流。在这种技术中，待测量的电流供给至低 电阻电流检测电阻器，并且测量低电阻电流检测电阻器的电阻元件上的电压下降。根据欧 姆定律，测得的电压此时就是流过电流检测电阻器的电流的测量值。 这样的电流检测电阻器可以具有平面式设计，例如如文献EP0605800A1和 DE4243349A1 中所描述的那样。例如，文献W02007/068409A1 和DE102005059561A1 描述了 这样的电流检测电阻器的另一种设计结构，其中，该电流检测电阻器是一种同轴电阻器。 然而，这些已知的电流检测电阻器的测量精度并非完全令人满意。 还参考现有技术文献US6181234B1。该文献公开一种平面式低值电阻器，该平面式 低值电阻器具有居中布置的电阻条，该电阻条例如可以由镍铝合金制成。两个同样是平面 形、可以例如由铜制成并且仅用于缓冲和散发...
【技术保护点】
一种测量电阻器(1；10)、尤其是一种低电阻电流检测电阻器，所述测量电阻器包括：a)由导电材料制成的第一连接部(2)，所述第一连接部(2)用于将电流导入所述测量电阻器(1；10)，b)由导电材料制成的第二连接部(3)，所述第二连接部(3)用于将电流导出所述测量电阻器(1；10)，c)由电阻材料制成的电阻元件(4；13)，所述电阻元件(4；13)沿着电流方向布置在所述第一连接部与所述第二连接部之间，电流流过所述电阻材料，并且所述测量电阻器还包括d)第一对电压测量触点(7；14)，所述第一对电压测量触点用于测量所述电阻元件(4；13)上的电压下降，所述第一对电压测量触点中的一个...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：U·黑茨勒，
申请(专利权)人：伊莎贝尔努特·霍伊斯勒两合公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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