一种光学膜的缺陷判别方法技术

本发明专利技术涉及光学膜的缺陷判别方法。本发明专利技术涉及光学膜的缺陷判别方法，根据具备：(S1)对在两面层叠有保护膜的光学膜进行检查并确认是否包括异物的阶段；(S2)剥离包括所述异物的光学膜两面的保护膜，并将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的阶段；(S3)得到所述合格品性异物和缺陷的选自下式1的密度、下式2的厚度、以及面积之中的一个以上的值与强度的关系相关的信息，并获取将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的基准的阶段；以及(S4)将根据所述得到的信息，光学膜的异物之中判别为合格品性异物的异物从缺陷中除外的阶段，从而根据正确地判定以往被判别为缺陷但实际上并不是缺陷等的物质，能够显著提升光学膜的制造收率，大幅减少制造成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学膜的缺陷判别方法。更详细而言，涉及对于偏振片，能够减少合格 品的不良判定的不良检测方法。
技术介绍
最近，液晶显示器或有机发光显示器、场致发射显示器（FED)、等离子体显示面板 (rop)等各种图像显示装置得到广泛开发使用。 另一方面，由于图像显示装置在进入市场之前在制造过程中产生各种不良，因此 会经过很多检查过程，其中，在图像显示装置中使用最多的一个部件是偏光膜、相位差膜等 各种光学膜，因此，光学膜的缺陷成为图像显示装置的不良的一个主要原因。检测光学膜的 缺陷，首先判别是否是缺陷并进行正确的判定，然后，判别是缺陷时，缺陷的修复（repair) 或废弃、进而缺陷原因的去除等从制造工序的生产收率的侧面来看无疑是重要的部分。 光学膜的制造为了产业性的大量生产而通常使用生产线工序。因此，缺陷的检测 包括在生产线的特定的位置连续拍摄光学膜并在拍摄的部分判别缺陷。 在缺陷判别中，以往重要的是不漏掉各种缺陷来进行检测。对此，韩国公开专利第 2010-24753号公报记载了对包括异物的封闭曲线与异物的面积进行比较来判别线状的异 物的方法。 但是，由于近年的光学膜的大型化倾向导致部件的成本上升，要求更正确的缺陷 判别方法，因此，仍然要求能够正确地判别缺陷的方法。 现有技术文献 专利文献 【专利文献1】韩国公开专利第2010-24753号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题 本专利技术的目的在于提供一种正确地判别光学膜的缺陷及非缺陷的方法。 本专利技术的目的在于提供，将以往被判别为缺陷等但实 际上并不是缺陷的判别为不是缺陷。 本专利技术的目的在于提供一种光学膜的缺陷判别装置，将以往被判别为缺陷等但实 际上并不是缺陷的判别为不是缺陷。 解决技术问题的技术手段 1. -种光学膜的缺陷判别方法，具备： (SI)对在两面层叠有保护膜的光学膜进行检查并确认是否包括异物的阶段； (S2)剥离包括所述异物的光学膜两面的保护膜，并将所述异物分类为合格品性异 物与缺陷的阶段； (S3)得到所述合格品性异物和缺陷的选自下式1的密度、下式2的厚度、以及面积 之中的一个以上的值与强度的关系相关的信息，并获取将所述异物分类为合格品性异物与 缺陷的基准的阶段；以及 (S4)根据所述得到的信息，将光学膜的异物之中判别为合格品性异物的异物从缺 陷中除外的阶段， 【式1】 异物的密度=异物的面积/以异物的长轴为直径的圆的面积 【式2】 异物的厚度=异物的面积/异物的长轴的长度 2.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目1中，所述阶段（S3)具备阶段（S3-1)，其 中，获取根据各异物的强度与密度的关系对合格品性异物和缺陷进行分类的一次分类基 准。 3.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目2中，所述阶段（S3)进一步具备阶段 (S3-2)，其中，获取根据各异物的强度与厚度的关系，对根据一次分类基准被分类为缺陷的 异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的二次分类基准。 4.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目3中，所述阶段（S3)进一步具备阶段 (S3-3)，其中获取根据各异物的强度与面积的关系，对根据二次分类基准被分类为缺陷的 异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的三次分类基准。 5.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目4中，所述阶段（S3)进一步具备阶段 (S3-4)，其中获取根据各异物的强度与面积的关系，对根据三次分类基准被分类为缺陷的 异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的四次分类基准。 6.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目5中，所述阶段（S3)进一步具备阶段 (S3-5)，其中，获取根据各异物的强度与密度的关系，对根据所述一次、二次、三次和四次分 类基准被分类为合格品性异物的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的五次分类基准。 7.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目6中，所述阶段（S3)进一步具备阶段 (S3-6)，其中，获取根据各异物的强度与密度的关系，对根据所述五次分类基准被分类为缺 陷的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的六次分类基准。 8.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目7中，所述阶段（S3)进一步具备阶段 (S3-7)，其中，获取根据各异物的纵长与横长的关系，对根据所述六次分类基准被分类为合 格品性异物的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的七次分类基准。 9.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目8中，所述阶段（S3)进一步具备阶段 (S3-8)，其中，获取根据各异物的纵长与横长的关系，对根据所述七次分类基准被分类为合 格品性异物的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的八次分类基准。 10.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目9中，所述阶段（S3)进一步具备阶段 (S3-9)，其中，获取在横长超过被预先确定为缺陷的横长值，纵长超过被预先确定为缺陷的 纵长值时，将根据所述八次分类基准被分类为缺陷的异物分类为缺陷的九次分类基准。 11.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目10中，所述阶段（S3-9)在横长超过被预 先确定为缺陷的横长值，纵长超过被预先确定为缺陷的纵长值时，将根据六次和七次分类 基准被分类为缺陷的异物进一步分类为缺陷。 12.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目1中，在所述阶段（S4)，合格品性异物为 非团簇缺陷的异物，所述团簇缺陷为在以任意一个异物为中心半径5mm的圆内存在两个以 上其他异物时，包括中心的异物的所述异物的集合。 13.光学膜的缺陷判别方法，在所述项目1中，在所述阶段（S4)，将由光透射检查 和正交尼科耳棱镜检查均筛选出的异物之中满足下式3的异物从缺陷中除外， 【式3】 (由正交尼科耳棱镜检查筛选的面积/由光透射检查筛选的面积）多8 14. -种光学膜的缺陷判别装置，具备： 光源，对在两面层叠有保护膜的光学膜的一面照射光； 拍摄设备，拍摄所述光学膜的光的照射部位； 异物筛选部，以所述拍摄设备拍摄的映像筛选异物； 保护膜剥离部，剥离所述光学膜两面的保护膜； 信息获取部，在保护膜剥离后，得到被去除的异物与保护膜剥离后仍残存的异物 的选自下式1的密度、下式2的厚度、以及面积之中的一个以上的值与强度的关系相关的信 息；以及 判定部，根据在所述信息获取部得到的信息，将在两面层叠有保护膜的光学膜的 所述异物分类为合格品性异物与缺陷， 【式1】 异物的密度=异物的面积/以异物的长轴为直径的圆的面积 【式2】 异物的厚度=异物的面积/异物的长轴的长度 15.光学膜的缺陷判别装置，在所述项目14中，所述信息获取部获取根据各异物 的强度与密度的关系对合格品性异物和缺陷进行分类的一次分类基准。 16.光学膜的缺陷判别装置，在所述项目15中，所述信息获取部进一步得到根据 各异物的强度与厚度的关系，对根据一次分类基准被分类为缺陷的异物进一步分类为合格 品性异物与缺陷的二次分类基准。 17.光学膜的缺陷判别装置，在所述项目16中，所述信息获取部进一步得到根据 各异物的强度与面积的关系，对根据二次分类基准被分类为缺陷的异物进一步分类为合格 品性异物与缺陷的三次分类基准。 18.光学膜的缺陷判别装置，在所述项目17中，所述信息获取部进一步得到根据 各异物的强度与面积的关系，对根据三次分类基准被分类为缺陷的异物进一步分类为合格 品性异物与缺陷的四次分类基准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，具备：(S1)对在两面层叠有保护膜的光学膜进行检查并确认是否包括异物的阶段；(S2)剥离包括所述异物的光学膜两面的保护膜，并将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的阶段；(S3)得到所述合格品性异物和缺陷的选自下式1的密度、下式2的厚度、以及面积之中的一个以上的值与强度的关系相关的信息，并获取将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的基准的阶段；(S4)根据所述得到的信息，将光学膜的异物之中判别为合格品性异物的异物从缺陷中除外的阶段，【式1】异物的密度＝异物的面积/以异物的长轴为直径的圆的面积【式2】异物的厚度＝异物的面积/异物的长轴的长度。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：李银珪，朴宰贤，许宰宁，
申请(专利权)人：东友精细化工有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR