侦测方法及其触控面板技术

本发明专利技术公开了一种用于触控面板的侦测方法及其相关触控面板。所述触控面板包含多个第一感测电极以及多个第二感测电极。所述侦测方法包括：当物体接触到所述触控面板时，侦测所述触控面板的所述多个第一感测电极的总自容值、所述多个第二感测电极的多个自容值以及多个互容值；根据所述多个第一感测电极的所述总自容值、该多个第二感测电极的所述多个自容值以及所述多个互容值，取得所述多个第一感测电极的多个自容值；以及根据所述多个第一感测电极的所述多个自容值计算所述物体于所述触控面板的坐标。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种侦测方法，尤涉及一种用于一触控面板整合一自容式触控以及一互容式触控的侦测方法。
技术介绍
由于触控显示设备提供使用者更直觉及便利的操作方式，因而已广泛地运用于各种消费性电子产品中。一般来说，触控显示设备是由一显示器及一透明触摸板所组成，并且经由将透明触控面板贴合于显示器上而能同时实现触控及显示功能。在当前的应用中尤以电容式触控技术最受欢迎。电容式触控面板的操作原理，主要是利用触控面板上铟锡氧化物(ITO)透明电极与人体手指或导电物体间，因接触而形成的电容感应，通过控制芯片的运算的后，转为可供操作系统判读的坐标数据。关于电容式触控技术的详细实施方式，可参考以下美国专利:美国专利US4，087, 625以及美国专利US2010/0309167A1提出单层铟锡氧化物结构(三角单层自容结构)，以达成单指触控的设计。请参考图1A，图1A为现有技术一三角单层自容式触控面板10的示意图。图1A中，斜线区块为复数条驱动线，斜线区块外围的实线则为复数条感测线。复数条驱动线会先耦接至一共节点，然后耦接至感测芯片。以图1A来说，其最主要的缺点在功能上只能做到单指加手势的功能，因为在三角对叉的方向无法分办二指。请参考图1B，当两指触碰时，触控芯片内部会有四条感测通道产生感应电容变化的信号，分别是X1、X2、YU Y2，假设实际碰触的点是(Χ1，Υ1)、(Χ2，Υ2)，对触控芯片而言，碰触(Χ1，Υ1)、(Χ2, Υ2)与碰触(XI，Υ2)、(Χ2, Yl)时，同样都是Χ1、Χ2、Υ1、Υ2这四条轴线感测通道产生感应电容变化的信号反应，因此，触控芯片本身并没有办法准确判断究竟那两个坐标点才是实际触碰的坐标点，于是便会有误报蓝色鬼点(Ghost Points)情况发生。所以自容式的感测方式并不符合真实多点触碰回报准备坐标点的功能需求。另一方面，现有技术公开一种单层互容结构。就单层互容结构，若接触点在一个基本单元内无法得知坐标，一定要接触到二个以上的基本单元才能得到精准的坐标，因为往往在相同尺寸下，需要较多的通道数来达到精准度的要求。请参考图1C，互容式是采取类似液晶显示器主动扫瞄的方式，在扫瞄某一条Y轴线时，同时侦测所有X轴线的感应电容值变化，依序扫瞄下来，便可以得到每个X、Y轴交错点感应电容值的变化，如此一来便不会有自容式感测因为共享x、Y感测通道而造成的鬼点现象。理论上有几个x、Y交错点便可以支持到多少个坐标点回报，但由于多点触影响到系统的运算资源，越多的触控点运算，需要指令周期更快的控制芯片以及更高的功耗。
技术实现思路
因此，本专利技术的主要目的即在于提供一种用于一触控面板的侦测方法，通过整合自容式触控以及互容式触控的侦测方法来弥补现有仅用单层自容侦测的缺点以及仅用单层互容侦测的缺点。本专利技术公开一种用于一触控面板的侦测方法。所述触控面板包含多个第一感测电极以及多个第二感测电极，其特征在于所述多个第一感测电极以及所述多个第二感测电极形成多个感测区块。所述侦测方法包含有于一物体接触到所述触控面板时，侦测所述触控面板的所述多个第一感测电极的一总自容值、所述多个第二感测电极的多个自容值以及所述多个感测区块的多个互容值，所述多个第一感测电极耦接至一共节点，所述多个第二电极耦接至不同节点；根据所述多个第一感测电极的所述总自容值、所述多个第二感测电极的所述多个自容值以及所述多个感测区块的所述多个互容值，取得所述多个第一感测电极的多个自容值；以及根据所述多个第一感测电极的所述多个自容值计算所述物体于所述触控面板的一坐标。本专利技术还公开一种触控面板。所述触控面板包含有多个第一感测电极以及多个第二感测电极以及一计算单元。所述多个第一感测电极，耦接于一共节点，用来于一物体接触到所述触控面板时侦测所述多个第一感测电极的一总自容值。所述每一第一感测电极包含有至少一第一凸部以及至少一第一凹部。所述多个第二感测电极，分别耦接至多个节点，用来与所述多个第一感测电极形成多个感测区块以及于所述物体接触到所述触控面板时侦测所述多个第二感测电极的多个自容值。所述每一第二感测电极包含有至少一第二凸部以及至少一第二凹部。所述计算单元，用来根据所述多个第一感测电极的所述总自容值、所述多个第二感测电极的所述多个自容值以及所述多个感测区块的多个互容值，取得所述多个第一感测电极的多个自容值以及根据所述多个第一感测电极的所述多个自容值计算所述物体于所述触控面板的一坐标。【附图说明】图1A为现有技术一单层自容式触控面板的示意图。图1B为现有技术一自容式触控原理的示意图。图1C为现有技术一互容式触控原理的示意图。图2为本专利技术实施例一侦测流程的示意图。图3为本专利技术实施例用于一触控面板的一样式的TJK意图。图4为本专利技术实施例用于一触控面板的一样式的TJK意图。图5为本专利技术实施例用于一触控面板的一样式的TJK意图。图6为本专利技术实施例用于一触控面板的一样式的TJK意图。其中，附图标记说明如下:10三角单层自容式触控面板20侦测流程200,202,204,206,208 步骤30、40、50、60样式X1、X2、-,Xn感测电极Y1、Y2、…η感测电极A1、A2、—,An感测区块Π1、Π2、Π3、…Χ54感测电极Υ11、Υ12、Υ13、-Υ54感测电极【具体实施方式】请参考图2，图2为本专利技术实施例一侦测流程20的示意图。侦测流程20可用于一触控面板中，用来侦测一物体于所述触控面板上的一坐标。其中，所述触控面板包含有感测电极Χ1、Χ2、…、Xn以及感测电极Υ1、Υ2、…、Υη。感测电极Χ1、Χ2、…、Xn以及感测电极Υ1、Υ2、…、Yn可形成感测区块Al、Α2、…、An。侦测流程20可包含下列步骤:步骤200:开始。步骤202:于一物体接触到所述触控面板时，侦测所述触控面板的感测电极X1、X2、.'Xn的一总自容值SC_total、感测电极Y1、Y2、....、Υη的个别的自容值sc_yl、sc_y2、…、sc_yn以及感测区块A1、A2、…、An的互容值mc_l、mc_2、.'mcji,其中感测电极X1、X2、…、Xn耦接至一共节点。步骤204:根据总自容值SC_total、自容值sc_yl、sc_y2、…、sc_yn以及互容值mc_l、mc_2、.“、mc_n,取得感测电极 Χ1、Χ2、“.、Χη 的个别的自容值 sc_xl、sc_x2、…、sc_ΧΠο步骤206:根据自容值sc_xl、sc_x2、…、sc_xn计算所述物体于所述触控面板的所述坐标。步骤208:结束。根据流程20，当物体(如:手指或触控笔)接触触控面板时，在触控面板上会产生电容变化。通过感测电极X1、X2、…、Xn以及感测电极Yl、Y2、….、Yn，可侦测感测电极X1、X2、.'Xn的总自容值SC_total、感测电极Υ1、Υ2、....、Υη的个别的自容值sc_yl、sc_y2当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种侦测方法，用于一触控面板，所述触控面板包含多个第一感测电极以及多个第二感测电极，所述多个第一感测电极以及所述多个第二感测电极形成多个感测区块，所述侦测方法包含有：于一物体接触到所述触控面板时，侦测所述触控面板的所述多个第一感测电极的总自容值、所述多个第二感测电极的多个自容值以及所述多个感测区块的多个互容值，其中，所述多个第一感测电极耦接至一共节点，所述多个第二电极耦接至不同节点；根据所述多个第一感测电极的所述总自容值、所述多个第二感测电极的所述多个自容值以及所述多个感测区块的所述多个互容值，取得所述多个第一感测电极的多个自容值；以及根据所述多个第一感测电极的所述多个自容值计算所述物体于所述触控面板的坐标。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：叶云翔，
申请(专利权)人：联咏科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71