一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法技术

一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，包括如下步骤：A.对GIS设备进行局放检测，将检测到的局放数据进行分析，确定缺陷大致位置；B.将CR胶片固定在检测出缺陷的GIS罐体上，利用X射线发射机，对局放出现异常的区域照射X射线投影于CR胶片上；C.将经过X射线照射的CR胶片放置在CR扫描仪中，并与电脑相连，将胶片上的数据读入电脑中，形成可视化图像；D.分析结果，确定GIS设备缺陷的位置及其性质。本发明专利技术可以确定GIS设备内部是否存在缺陷以及何种缺陷，同时直观地确定和识别出GIS设备内部缺陷的位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电力设备内部缺陷检测方法
，尤其涉及一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法。
技术介绍
GIS (Gas Insulated Switchgear)，指的是“气体绝缘金属封闭开关设备”，它将一座变电站中除变压器以外的一次设备，包括断路器、隔离开关、接地开关、电压互感器、电流互感器、避雷器、母线、电缆终端、进出线套管等，有机地组合成一个整体。GIS因其明显的优点被广大变电系统所采用，它以紧凑的布置、全封闭的带电体使得变电站占地面积大大减小。但近年来，电网的电压等级和装机容量不断增加，GIS设备的故障率也渐渐增加。检修发生故障的全封闭的GIS设备极其困难，停电检修在时间和金钱上会造成惊人的损失，因此，GIS设备的稳定运行对于电力行业的稳定运行乃至对居民稳定的电力供应有着十分重要的意义。近年来，X射线无损检测技术在电力设备内部缺陷探伤有着独特的优势，作为无损检测家族中最年轻的技术，它有着快速、准确、直观的优势，推动着无损检测快速发展，X射线无损检测技术可以在不拆卸设备、不停电的情况下对GIS内部进行探伤试验，并直观的看出设备是否异常。针对GIS设备紧凑、密闭的特点，X射线无损检测可以直观的对GIS设备的部件松落、脱落、变形等缺陷进行判断，及时发现GIS设备中的缺陷，可以将损失降低到最小。
技术实现思路
本专利技术目的是为了确定GIS设备内部是否存在缺陷以及何种缺陷，同时直观地确定和识别出GIS设备内部缺陷的位置，提出一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法。本专利技术的技术方案如下:一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，包括如下步骤:A.对GIS设备进行局放检测，将检测到的局放数据进行分析，确定缺陷大致位置；B.将CR胶片固定在检测出缺陷的GIS罐体上，利用X射线发射机，对局放出现异常的区域照射X射线投影于CR胶片上；C.将经过X射线照射的CR胶片放置在CR扫描仪中，并与电脑相连，将胶片上的数据读入电脑中，形成可视化图像；D.分析结果，确定GIS设备缺陷的位置及其性质。本专利技术所述步骤A采用超声波检测法。本专利技术所述步骤B是指将X射线透照GIS罐体缺陷部位，并投射到CR胶片上进行成像。本专利技术所述步骤B的具体步骤为:B1.在GIS设备局放异常位置一侧放置CR胶片，由于胶片重量很轻，粘贴或悬挂均可；另一侧放置X射线发射机，将X射线发射机的X射线发射口的中心对准GIS设备局放异常位置，保持CR胶片中心、脉冲X射线机的发射口中心和GIS设备局放异常位置在一条直线上；B2.将X射线发射机与远程控制装置相连接，将CR扫描仪与移动工作站相连接；B3.通过远程控制装置设定系统参数后，按下远程控制装置上的射线启动按钮，对GIS设备内部局放异常位置进行无损检测，并在CR胶片上成像；B4.如图像不清晰，调整CR胶片或X射线机的位置，并重复步骤B1、B4、B5，透照不同部位。本专利技术的有益效果是:在针对GIS设备应用X射线进行无损检测时，能够实现对GIS设备内部缺陷位置和性质的可视化识别，大大减少了电力系统工作人员对GIS设备缺陷检测的盲目性，提高了 GIS设备内部缺陷检测和诊断的科学性、高效性和准确性。【附图说明】图1为一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法流程图；图2为一种基于CR成像的GIS可视化无损检测示意图；图3和图4为CR扫描仪示意图。图中，1.CR胶片2.CR数字扫描仪3.控制按钮4.液晶显示屏5.电源开关6.USB接口 7.电源线插口 8.GIS罐体9.X射线发射机。【具体实施方式】见图1，图2，图3，图4，一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，包括如下步骤:A.对GIS设备进行局放检测，将检测到的局放数据进行分析，确定缺陷大致位置；B.将CR胶片I固定在检测出缺陷的GIS罐体8上，利用X射线发射机9，对局放出现异常的区域照射X射线投影于CR胶片I上；C.将经过X射线照射的CR胶片I放置在CR扫描仪2中，将CR扫描仪并与电脑相连，将胶片上的数据读入电脑中，形成可视化图像；D.分析结果，确定GIS设备缺陷的位置及其性质。所述步骤A采用超声波检测法。所述步骤B是指将X射线透照GIS罐体缺陷部位，并投射到CR胶片上进行成像。 所述步骤B的具体步骤如下:B1.在GIS设备局放异常位置一侧放置CR胶片，由于胶片重量很轻，粘贴或悬挂均可；另一侧放置X射线发射机，将X射线发射机的X射线发射口的中心对准GIS设备局放异常位置，保持CR胶片中心、脉冲X射线机的发射口中心和GIS设备局放异常位置在一条直线上；B2.将X射线发射机与远程控制装置相连接，将CR扫描仪与移动工作站相连接；B3.通过远程控制装置设定系统参数后，按下远程控制装置上的射线控制按钮4，对GIS设备内部局放异常位置进行无损检测，并在CR胶片上成像；B4.如图像不清晰，调整CR胶片或X射线机的位置，并重复步骤B1、B4、B5，透照不同部位。【主权项】1.一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤: A.对GIS设备进行局放检测，将检测到的局放数据进行分析，确定缺陷大致位置； B.将CR胶片固定在检测出缺陷的GIS罐体上，利用X射线发射机，对局放出现异常的区域照射X射线投影于CR胶片上； C.将经过X射线照射的CR胶片放置在CR扫描仪中，并与电脑相连，将胶片上的数据读入电脑中，形成可视化图像； D.分析结果，确定GIS设备缺陷的位置及其性质。2.如权利要求1所述的基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，其特征在于，所述步骤A采用超声波检测法。3.根据权利要求1所述的基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，其特征在于，所述步骤B是指将X射线透照GIS罐体缺陷部位，并投射到CR胶片上进行成像。4.如权利要求1或3所述的基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，其特征在于，所述步骤B的具体步骤为: B1.在GIS设备局放异常位置一侧放置CR胶片，由于胶片重量很轻，粘贴或悬挂均可；另一侧放置X射线发射机，将X射线发射机的X射线发射口的中心对准GIS设备局放异常位置，保持CR胶片中心、脉冲X射线机的发射口中心和GIS设备局放异常位置在一条直线上; B2.将X射线发射机与远程控制装置相连接，将CR扫描仪与移动工作站相连接； B3.通过远程控制装置设定系统参数后，按下远程控制装置上的射线启动按钮，对GIS设备内部局放异常位置进行无损检测，并在CR胶片上成像； B4.如图像不清晰，调整CR胶片或X射线机的位置，并重复步骤B1、B4、B5，透照不同部位。【专利摘要】一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，包括如下步骤：A.对GIS设备进行局放检测，将检测到的局放数据进行分析，确定缺陷大致位置；B.将CR胶片固定在检测出缺陷的GIS罐体上，利用X射线发射机，对局放出现异常的区域照射X射线投影于CR胶片上；C.将经过X射线照射的CR胶片放置在CR扫描仪中，并与电脑相连，将胶片上的数据读入电脑中，形成可视化图像；D.分析结果，确定GIS设备缺陷的位置及其性质。本专利技术可以确定GIS设备内部是否存在缺陷以及何种缺陷，同时直观地确定和识别出GIS设备内部缺陷的位置。【IPC分类】G01R31/00【公开号】CN本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤：A.对GIS设备进行局放检测，将检测到的局放数据进行分析，确定缺陷大致位置；B.将CR胶片固定在检测出缺陷的GIS罐体上，利用X射线发射机，对局放出现异常的区域照射X射线投影于CR胶片上；C.将经过X射线照射的CR胶片放置在CR扫描仪中，并与电脑相连，将胶片上的数据读入电脑中，形成可视化图像；D.分析结果，确定GIS设备缺陷的位置及其性质。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘冠辰，吴章勤，刘荣海，郑欣，徐辉，臧利川，潘堉祺，
申请(专利权)人：云南电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：云南;53