部分放电传感器测定运算方法以及部分放电传感器测定运算装置制造方法及图纸

本发明专利技术具备以下的步骤：第1频率特性测定步骤，在测定用天线(2)和有效高度的频率特性为已知的参照天线(3)以分开规定距离的方式设置到平板状的地(1)上的状态下，传递特性测定器(4)测定参照天线(3)与测定用天线(2)之间的传递特性的频率特性；以及第2频率特性测定步骤，在圆筒地(6)的内部设置有被测定用天线(9)的状态下，传递特性测定器(4)测定被测定用天线(9)与测定用天线(2)之间的传递特性的频率特性，圆筒地(6)填设于圆形开口(5)中，圆形开口(5)是在原来设置有参照天线(3)的位置施加的。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】部分放电传感器测定运算方法以及部分放电传感器测定运算装置
本专利技术涉及在检测例如GIS(gasinsulatedswitchgear：气体绝缘开关设备)等高功率设备的装置所产生的高频来检测部分放电现象时使用的部分放电传感器评价方法以及部分放电传感器评价装置。
技术介绍
图16是示出以下的非专利文献1所公开的部分放电传感器评价装置的结构图。G-TEM室(G-TEMcell)102在接收到从信号源101产生的高频时，将该高频大致转换为平面波，并传输该平面波。由此，对设置有部分放电传感器103的金属面照射垂直的偏振波。数字转换器(digitizer)104通过对由部分放电传感器103接收到的电波的强度与从信号源101产生的高频的强度进行比较，来测定从信号源101到部分放电传感器103的传递特性。另外，通过设置已知天线有效高度的参照天线而取代部分放电传感器103，数字转换器104测定从信号源101到参照天线的传递特性。通过对从信号源101到部分放电传感器103的传递特性与从信号源101到参照天线的传递特性进行比较，能够求出部分放电传感器103的天线有效高度。另外，通过一边变更信号源101的频率一边进行同样的测定，可求出天线有效高度的频率特性，通常采用以规定的频率对这些频率特性进行平均后的值作为部分放电传感器103的指标。现有技术文献非专利文献非专利文献1：M.D.Judd，‘UHFCouplersforGIS-SensitivityandSpecification，’Proc.10thInt.Symp.onHighVoltageEngineering，vol.6，Aug.1997
技术实现思路
专利技术要解决的课题因为如以上这样构成现有的部分放电传感器评价装置，所以，能够求出部分放电传感器103的天线有效高度。但是，因为G-TEM室102的尺寸是超过3m的大尺寸，所以，整体装置大型化，存在受设置场所等的制约的课题。本专利技术是为了解决上述这样的课题而完成的，其目的是得到可实现整个装置的小型化的部分放电传感器评价方法以及部分放电传感器评价装置。解决问题的手段本专利技术的部分放电传感器评价方法具备以下的步骤：第1频率特性测定步骤，在将测定用天线和有效高度的频率特性为已知的参照天线以分开规定距离的方式设置到平板状的地上的状态下，传递特性测定器测定参照天线与测定用天线之间的传递特性的频率特性；第2频率特性测定步骤，在圆筒地的内部设置有被测定用天线的状态下，传递特性测定器测定被测定用天线与测定用天线之间的传递特性的频率特性，该圆筒地填设于圆形开口内，该圆形开口是撤去参照天线后在原来设置有该参照天线的位置施加的；以及运算步骤，运算装置根据在第1频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性和在第2频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算被测定用天线的有效高度的频率特性。专利技术效果根据本专利技术，没有采用大的G-TEM室，就能够运算被测定用天线的有效高度的频率特性，具有可实现整个装置的小型化的效果。附图说明图1是示出本专利技术实施方式1的部分放电传感器评价方法的流程图。图2是示出在平板状的地1上设置有测定用天线2和参照天线3的状态的说明图。图3是示出圆形开口5中填设有设置被测定用天线9的圆筒地6的状态的说明图。图4是示出在圆筒地6的内部设置的被测定用天线9的说明图。图5是示出在平板状的地1上设置有被测定用天线9的状态的说明图。图6是示出本专利技术实施方式2的部分放电传感器评价方法的流程图。图7是示出在平板状的地1上设置有多个测定用天线2和参照天线3的状态的说明图。图8是示出在平板状的地1上设置有多个测定用天线2和被测定用天线9的状态的说明图。图9是示出本专利技术实施方式3的部分放电传感器评价方法的流程图。图10是示出设置有测定用天线2的一侧的状态、设置有被测定天线16的一侧的状态的说明图。图11是示出在GIS上设置的高压电线路的立体图。图12是示出本专利技术实施方式4的部分放电传感器评价装置的立体图。图13是示出本专利技术实施方式4的其它部分放电传感器评价装置的立体图。图14是示出本专利技术实施方式4的其它部分放电传感器评价装置的立体图。图15是示出本专利技术实施方式4的其它部分放电传感器评价装置的立体图。图16是示出非专利文献1公开的部分放电传感器评价装置的结构图。具体实施方式实施方式1.图1是示出本专利技术实施方式1的部分放电传感器评价方法的流程图。图2是示出在平板状的地1上设置有测定用天线2和参照天线3的状态的说明图。在图2中，平板状的地1是用于设置测定用天线2和参照天线3的金属板。测定用天线2例如由单极天线构成，配置在平板状的地1上。单极天线在长度是1/2波长以下的情况下，向与单极天线的长度方向垂直的面内(侧面方向)照射高频。后述的被测定用天线9(参照图5)设置在作为单极天线的测定用天线2的侧面方向，所以，单极天线的长度为待测定的最大频率的1/2波长以下。参照天线3是天线有效高度heff_ref(f)的频率特性为已知的天线，设置为与测定用天线2分开规定的距离。此外，如果天线有效高度heff_ref(f)是已知的，则参照天线3可以采用任意天线，但一般如非专利文献1所记载的那样，采用25mm的单极天线。规定的距离(测定用天线2与参照天线3之间的距离)越大，则测定精度越高。例如，如果假定后述的被测定用天线9在平板状地1上的圆形开口直径5是D，则在规定的距离为(D×D/波长)以上时，能够获得与使得测定用天线2和参照天线3分离足够远的情况相同的测定精度。网络分析器4实施这样的处理：对参照天线3与测定用天线2之间的传递特性的频率特性E_ref(f)进行测定，并且对后述的被测定用天线9与测定用天线2之间的传递特性的频率特性E_dut(f)进行测定。此外，网络分析器4构成传递特性测定器。运算装置4a例如由个人计算机等构成，实施这样的处理：根据由网络分析器4测定的参照天线3与测定用天线2之间的传递特性的频率特性E_ref(f)、以及被测定用天线9与测定用天线2之间的传递特性的频率特性E_dut(f)，运算被测定用天线9的有效高度的频率特性heff(f)，并且运算有效高度的频率平均值heff_average。此外，运算装置4a构成有效高度频率特性运算单元。图3是示出在圆形开口5上填设有设置被测定用天线9的圆筒地6的状态的说明图，图4是示出在圆筒地6的内部设置的被测定用天线9的说明图。另外，图5是示出在平板状的地1上设置有被测定用天线9的状态的说明图。在图3至图5中，圆形开口5是在设置有参照天线3的位置施加的圆形开口部。圆筒地6是在圆形开口5中填设的圆筒状的金属部件，在下部连接有凸缘7。另外，凸缘7与天线地8连接。在圆筒地6内，在天线地8上设置有被测定用天线9。接着，对动作进行说明。最先，说明步骤ST1～ST3的第1频率特性测定步骤。首先，为了测定参照天线3与测定用天线2之间的传递特性的频率特性E_ref(f)，如图2所示，在平板状的地1上设置作为单极天线的测定用天线2(图1的步骤ST1)。接着，将天线有效高度heff_ref(f)的频率特性为已知的参照天线3以与测定用天线2分开规定距离的方式设置在平板状的地1上(步骤ST2)。这里，如上所述，如果设圆形开口直径5为D，则规本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种部分放电传感器评价方法，具备以下的步骤：第1频率特性测定步骤，在将测定用天线和有效高度的频率特性为已知的参照天线以分开规定距离的方式设置到平板状的地上的状态下，传递特性测定器测定所述参照天线与所述测定用天线之间的传递特性的频率特性；第2频率特性测定步骤，在圆筒地的内部设置有被测定用天线的状态下，所述传递特性测定器测定所述被测定用天线与所述测定用天线之间的传递特性的频率特性，所述圆筒地填设在圆形开口中，所述圆形开口是在原来设置有所述参照天线的位置施加的；以及运算步骤，根据在所述第1频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性和在所述第2频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算所述被测定用天线的有效高度的频率特性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种部分放电传感器测定运算方法，具备以下的步骤：第1频率特性测定步骤，在将测定用天线和有效高度的频率特性为已知的参照天线以分开规定距离的方式设置到平板状的地上的状态下，传递特性测定器测定所述参照天线与所述测定用天线之间的传递特性的频率特性；第2频率特性测定步骤，在圆筒地的内部设置有被测定用天线的状态下，所述传递特性测定器测定所述被测定用天线与所述测定用天线之间的传递特性的频率特性，所述圆筒地填设在圆形开口中，所述圆形开口是撤去所述参照天线后在原来设置有所述参照天线的位置施加的；以及运算步骤，运算装置根据在所述第1频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性和在所述第2频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算所述被测定用天线的有效高度的频率特性。2.根据权利要求1所述的部分放电传感器测定运算方法，其特征在于，在所述运算步骤中，根据在所述第1频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性和在所述第2频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算所述被测定用天线的有效高度的频率特性，并且运算该有效高度的频率平均值。3.根据权利要求1所述的部分放电传感器测定运算方法，其特征在于，在所述第1频率特性测定步骤中，在所述参照天线的周围配置有多个所述测定用天线的状态下，所述传递特性测定器测定所述参照天线与多个所述测定用天线之间的传递特性的频率特性，在所述第2频率特性测定步骤中，所述传递特性测定器测定所述被测定用天线与多个所述测定用天线之间的传递特性的频率特性，在所述运算步骤中，根据在所述第1频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算与所述参照天线分开所述规定距离以上的地点的电场，并且根据在所述第2频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算与所述被测定用天线分开所述规定距离以上的地点的电场，根据双方地点的电场，运算所述被测定用天线的有效高度的频率特性。4.根据权利要求3所述的部分放电传感器测定运算方法，其特征在于，在所述运算步骤中，根据双方地点的电场，运算所述被测定用天线的有效高度的频率特性，并且运算该有效高度的频率平均值。5.一种部分放电传感器测定运算方法，具备以下的步骤：第1频率特性测定步骤，在将测定用天线和有效高度的频率特性为已知的参照天线以分开规定距离的方式设置到平板状的地上的状态下，传递特性测定器测定所述参照天线与所述测定用天线之间的传递特性的频率特性；第2频率特性测定步骤，在设置有电介质板和2个导体板、并且被测定用天线设置于所述电介质板之上的状态下，所述传递特性测定器测定所述被测定用天线与所述测定用天线之间的传递特性的频率特性，所述电介质板以缝隙状开口的长度侧的两端作为宽度方向的两端部分、中央部分填设于所述缝隙状开口内，所述缝隙状开口是撤去所述参照天线后在原来设置有所述参照天线的位置施加的，所述2个导体板以夹着所述电介质板的方式配置，一端与地电连接；以及运算步骤，运算装置根据在所述第1频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性和在所述第2频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算所述被测定用天线的有效高度的频率特性。6.根据权利要求5所述的部分放电传感器测定运算方法，其特征在于，在所述运算步骤中，根据在所述第1频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性和在所述第2频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算所述被测定用天线的有效高度的频率特性，并且运算该有效高度的频率平均值。7.根据权利要求5所述的部分放电传感器测定运算方法，其特征在于，在所述第1频率特性测定步骤中，在所述参照天线的周围配置有多个所述测定用天线的状态下，所述传递特性测定器测定所述参照天线与多个所述测定用天线之间的传递特性的频率特性，在所述第2频率特性测定步骤中，所述传递特性测定器测定所述被测定用天线与多个所述测定用天线之间的传递特性的频率特性，在所述运算步骤中，根据在所述第1频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算与所述参照天线分开所述规定距离以上的地点的电场，并且根据在所述第2频率特性测定步骤中测定的传递特性的频率特性，运算与所述被测定用天线分开所述规定距离以上的地点的电场，根据双方地点的电场，运算所述被测定用天线的有效高度的频率特性。8.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：深泽徹，伊藤隆史，宫下裕章，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP