本实用新型专利技术涉及一种测试装置，一种高速USB接口测试装置，包括电源输入控制模块、带载能力取样测试单元、MCU控制单元、USB信号数据检测单元、可编程逻辑控制单元、EEPROM、LED显示电路及第一、二晶振电路，所述电源输入控制模块与带载能力取样测试单元相连，带载能力取样测试单元通过I2C口与MCU控制单元相连，USB信号数据检测单元与可编程逻辑控制单元相连，可编程逻辑控制单元与第一晶振电路相连，所述EEPROM通过RA2、RA3口与MCU控制单元相连，第二晶振电路通过OSC1/OSC2口与MCU控制单元相连，所述LED显示电路、可编程逻辑控制单元分别通过I/O口与MCU控制单元相连。本实用新型专利技术携带方便，显示结果直接，可同时连接四个USB3.0接口，满足USB3.0高速信号传输的测量。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试装置，更具体地说，涉及一种高速USB接口测试装置。
技术介绍
在以计算机为中心的测试系统中，USB在通信电子
中已被广泛地使用，常用的USB接口速度测试的装置大多针对于USB2.0标准的测试，测试速率大多停留在200M以内，能够测试设备是否连接、数据传输速率及装置的带载电压等参数。同时大多的测试装置和测试方法都采用和PC相连接的方式进行测试，不宜进行携带。随着USB3.0技术标准的普及，数字信号的传输速率不断加快，通常的USB3接口包括电源和GND，通用USB2.0接口差分信号D+和D-，同时增加了 USB3特有的超速数字信号对，标准的传输速率达到lGb/s以上，目前市场急需一种能够满足高速数据传输信号的测试装置，同时，该测试装置应该具有能够同时测定USB接口带载能力及数据传输的误码率等功能。
技术实现思路
为了克服现有技术中存在的不足，本技术目的是提供一种高速USB接口测试装置。该测试装置携带方便、显示结果直接、可进行USB3.0接口速度测试、带载能力测试、短路测试及高速传输过程中的误码率测试。为了实现上述专利技术目的，解决已有技术中所存在的问题，本技术采取的技术方案是:一种高速USB接口测试装置，包括电源输入控制模块、带载能力取样测试单元、MCU控制单元、USB信号数据检测单元、可编程逻辑控制单元、EEPROM, LED显示电路及第一、二晶振电路，所述电源输入控制模块与带载能力取样测试单元相连，所述带载能力取样测试单元通过I2C 口与MCU控制单元相连，所述USB信号数据检测单元与可编程逻辑控制单元相连，所述可编程逻辑控制单元与第一晶振电路相连，所述EEPROM通过RA2、RA3 口与MCU控制单元相连，所述第二晶振电路通过0SC1/0SC2 口与MCU控制单元相连，所述LED显示电路、可编程逻辑控制单元分别通过I/O 口与MCU控制单元相连。所述USB信号数据检测单元，包括第一、二、三、四USB信号输入接口电路，第一、二、三、四ESD保护电路及第一、二USB338模块，所述第一 USB338模块，包括第一、二 USB信号接收电路及第一 USB信号控制单元；所述第二 USB338模块，包括第三、四USB信号接收电路及第二 USB信号控制单元；所述第一、二、三、四USB信号输入接口电路分别与第一、二、三、四ESD保护电路及第一、二、三、四USB信号接收电路相连，所述第一、二USB信号接收电路分别与第一 USB信号控制单元相连，所述第三、四USB信号接收电路分别与第二 USB信号控制单元相连，所述第一、二 USB信号控制单元分别与可编程逻辑控制单元相连。本技术有益效果是:一种高速USB接口测试装置，包括电源输入控制模块、带载能力取样测试单元、MCU控制单元、USB信号数据检测单元、可编程逻辑控制单元、EEPROM, LED显示电路及第一、二晶振电路，所述电源输入控制模块与带载能力取样测试单元相连，所述带载能力取样测试单元通过I2C 口与MCU控制单元相连，所述USB信号数据检测单元与可编程逻辑控制单元相连，所述可编程逻辑控制单元与第一晶振电路相连，所述EEPROM通过RA2、RA3 口与MCU控制单元相连，所述第二晶振电路通过0SC1/0SC2 口与MCU控制单元相连，所述LED显示电路、可编程逻辑控制单元分别通过I/O 口与MCU控制单元相连。与已有技术相比，本技术携带方便，显示结果直接，可同时连接四个USB3.0接口，满足USB3.0高速信号传输的测量。【附图说明】图1是本技术原理框图。图2是本技术中的USB信号数据检测单元原理框图。【具体实施方式】下面结合附图对本技术作进一步说明。如图1所示，一种高速USB接口测试装置，包括电源输入控制模块、带载能力取样测试单元、MCU控制单元、USB信号数据检测单元、可编程逻辑控制单元、EEPROM, LED显示电路及第一、二晶振电路，所述电源输入控制模块与带载能力取样测试单元相连，所述带载能力取样测试单元通过I2C 口与MCU控制单元相连，所述USB信号数据检测单元与可编程逻辑控制单元相连，所述可编程逻辑控制单元与第一晶振电路相连，所述EEPROM通过RA2、RA3 口与MCU控制单元相连，所述第二晶振电路通过0SC1/0SC2 口与MCU控制单元相连，所述LED显示电路、可编程逻辑控制单元分别通过I/O 口与MCU控制单元相连。如图2所示，所述USB信号数据检测单元，包括第一、二、三、四USB信号输入接口电路，第一、二、三、四ESD保护电路及第一、二 USB338模块，所述第一 USB338模块，包括第一、二 USB信号接收电路及第一 USB信号控制单元；所述第二 USB338模块，包括第三、四USB信号接收电路及第二USB信号控制单元；所述第一、二、三、四USB信号输入接口电路分别与第一、二、三、四ESD保护电路及第一、二、三、四USB信号接收电路相连，所述第一、二 USB信号接收电路分别与第一 USB信号控制单元相连，所述第三、四USB信号接收电路分别与第二USB信号控制单元相连，所述第一、二 USB信号控制单元分别与可编程逻辑控制单元相连。所述USB信号的传输速率采用由USB信号输入接口电路接收一个固定格式和大小的文件，通过USB3.0信号接收电路、USB3.0信号控制单元到达可编程逻辑控制单元，再由可编程逻辑控制单元对信号进行分析、判断接收的文件格式、大小以及传输时间，从而判断信号的传递速率和准确性。本技术优点在于:本技术携带方便，显示结果直接，可同时连接四个USB3.0接口，满足USB3.0高速信号传输的测量。【主权项】1.一种高速USB接口测试装置，包括电源输入控制模块、带载能力取样测试单元、MCU控制单元、USB信号数据检测单元、可编程逻辑控制单元、EEPROM, LED显示电路及第一、二晶振电路，其特征在于:所述电源输入控制模块与带载能力取样测试单元相连，所述带载能力取样测试单元通过I2C 口与MCU控制单元相连，所述USB信号数据检测单元与可编程逻辑控制单元相连，所述可编程逻辑控制单元与第一晶振电路相连，所述EEPROM通过RA2、RA3口与MCU控制单元相连，所述第二晶振电路通过0SC1/0SC2 口与MCU控制单元相连，所述LED显示电路、可编程逻辑控制单元分别通过I/O 口与MCU控制单元相连。2.根据权利要求1所述一种高速USB接口测试装置，其特征在于:所述USB信号数据检测单元，包括第一、二、三、四USB信号输入接口电路，第一、二、三、四ESD保护电路及第一、二 USB338模块，所述第一 USB338模块，包括第一、二 USB信号接收电路及第一 USB信号控制单元；所述第二 USB338模块，包括第三、四USB信号接收电路及第二 USB信号控制单元；所述第一、二、三、四USB信号输入接口电路分别与第一、二、三、四ESD保护电路及第一、二、三、四USB信号接收电路相连，所述第一、二 USB信号接收电路分别与第一 USB信号控制单元相连，所述第三、四USB信号接收电路分别与第二 USB信号控制单元相连，所述第一、二USB信号控制单元分别与可编程逻辑本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种高速USB接口测试装置，包括电源输入控制模块、带载能力取样测试单元、MCU控制单元、USB信号数据检测单元、可编程逻辑控制单元、EEPROM、LED显示电路及第一、二晶振电路，其特征在于：所述电源输入控制模块与带载能力取样测试单元相连，所述带载能力取样测试单元通过I2C口与MCU控制单元相连，所述USB信号数据检测单元与可编程逻辑控制单元相连，所述可编程逻辑控制单元与第一晶振电路相连，所述EEPROM通过RA2、RA3口与MCU控制单元相连，所述第二晶振电路通过OSC1/OSC2口与MCU控制单元相连，所述LED显示电路、可编程逻辑控制单元分别通过I/O口与MCU控制单元相连。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：福德伽俐俐，
申请(专利权)人：大连保税区新时代国际工贸有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁;21
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