本实用新型专利技术公开了一种深度测试装置，包括测微仪，所述测微仪包括测试杆和测试探针，所述测试探针安装在所述测试杆上，还包括测试平台、驱动气缸和固定板，所述固定板位于所述测试平台的下方，所述测试杆固定在所述固定板上，所述测试平台上设有第一探针孔，所述测试探针穿过所述第一探针孔而露出所述测试平台的上表面，所述驱动气缸的输出端与所述固定板固定，所述驱动气缸用于驱动所述固定板靠近或远离所述测试平台。本深度测试装置可以高效地检测产品的深度，同时能够提高检测的精度。
【技术实现步骤摘要】
】本技术涉及一种深度测试装置。【
技术介绍
】目前在手机行业，产品深度尺寸的检测，通常都是采用人工检测，人力花费多，测试周期长、精度低，进而带来生产效率低、品质没有保障等缺陷。【
技术实现思路
】为了克服现有技术的不足，本技术提供了一种深度测试装置，以提供检测产品深度的效率和精度。一种深度测试装置，包括测微仪，所述测微仪包括测试杆和测试探针，所述测试探针安装在所述测试杆上，还包括测试平台、驱动气缸和固定板，所述固定板位于所述测试平台的下方，所述测试杆固定在所述固定板上，所述测试平台上设有第一探针孔，所述测试探针穿过所述第一探针孔而露出所述测试平台的上表面，所述驱动气缸的输出端与所述固定板固定，所述驱动气缸用于驱动所述固定板靠近或远离所述测试平台。在一个实施例中，还包括固定板滑块和限位板，所述限位板固定在所述测试平台的下表面，所述固定板位于所述限位板的下方，所述固定板滑块固定在所述固定板的上表面，所述限位板上设有滑轨，所述固定板滑块可沿所述滑轨滑动而靠近或远离所述限位板。在一个实施例中，所述气缸固定在所述测试平台的下表面。在一个实施例中，所述测试平台还包括基准面，所述基准面设置在所述测试平台的上表面，所述基准面上设有第二探针孔，所述测试探针依次穿过所述第一探针孔和第二探针孔而露出所述基准面。在一个实施例中，还包括与被测产品的孔的大小相匹配的产品匹配部件，所述产品匹配部件设置于所述基准面上。在一个实施例中，还包括用于压紧被测产品的上压块，所述上压块设置在所述基准面的上方。在一个实施例中，还包括归零盖板，所述归零盖板用于放置在所述基准面上将所述测试探针压入所述基准面内。本技术的有益效果是:本深度测试装置可以高效地检测产品的深度，同时能够提尚检测的精度。【【附图说明】】图1是本技术一种实施例的深度测试装置。【【具体实施方式】】以下对技术的较佳实施例作进一步详细说明。如图1所示，一种实施例的深度测试装置，包括测微仪1、测试平台5、驱动气缸4和固定板2，所述测微仪I包括测试杆12和测试探针11，所述测试探针11安装在所述测试杆12上，所述固定板2位于所述测试平台5的下方，所述测试杆12固定在所述固定板2上，所述测试平台5上设有第一探针孔，所述测试探针11穿过所述第一探针孔而露出所述测试平台5的上表面，所述驱动气缸4的输出端与所述固定板2固定，所述驱动气缸4用于驱动所述固定板2靠近或远离所述测试平台5，从而带动测试探针11穿过并伸出测试平台5的上表面，或者退回至测试平台5的第一探针孔内，甚至到达测试平台5的下方。测微仪是用于测量空间长度的装置，其测试探针可伸缩，通过测试探针在测试前和测试后的伸缩长度之差，则可以测量出被测空间的长度。如在本实施例中，当测试探针11被驱动气缸4带动至伸出测试平台5的上表面时，此时测试探针11完全伸出，当产品放在测试探针11上时，产品的被测部分使测试探针11收缩，测微仪2检测到这个收缩量即可以识别产品被测部分的深度。在一个实施例中，深度测试装置还包括固定板滑块22和限位板3，所述限位板3固定在所述测试平台5的下表面，所述固定板2位于所述限位板3的下方，所述固定板滑块22固定在所述固定板2的上表面，所述限位板3上设有滑轨31，所述固定板滑块22可沿所述滑轨31滑动，从而靠近或远离所述限位板3，当固定板2运动到最大高度时，固定板2抵于限位板3，从而限制了测试探针11伸出于测试平台5上表面的高度。在一个实施例中，所述气缸4固定在所述测试平台5的下表面。在一个实施例中，所述测试平台5还包括基准面51、用于压紧被测产品的上压块、归零盖板、与被测产品的孔的大小相匹配的产品匹配部件52，所述基准面51设置在所述测试平台5的上表面，所述基准面51上设有第二探针孔，所述测试探针11依次穿过所述第一探针孔和第二探针孔而露出所述基准面51，产品匹配部件52设置于所述基准面51上，所述上压块设置在所述基准面51的上方，所述归零盖板用于放置在所述基准面51上将所述测试探针11压入所述基准面51内。测量产品的深度时，首先气缸4带动固定板2上升，使固定板2抵于限位板3 ;然后将归零盖板压在基准面51上，使测试探针11缩入基准面51内，此时，测微仪2检测到此时测试探针11的伸缩量；拿开归零盖板，将产品放在基准面51上，若与测试探针11对应产品部分的深度大于零，测试探针11将会伸出一定长度，此时测微仪2检测到测试探针11的伸缩量，即可以判断产品该部分的深度。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本技术由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。【主权项】1.一种深度测试装置，包括测微仪，所述测微仪包括测试杆和测试探针，所述测试探针安装在所述测试杆上，其特征是，还包括测试平台、驱动气缸和固定板，所述固定板位于所述测试平台的下方，所述测试杆固定在所述固定板上，所述测试平台上设有第一探针孔，所述测试探针穿过所述第一探针孔而露出所述测试平台的上表面，所述驱动气缸的输出端与所述固定板固定，所述驱动气缸用于驱动所述固定板靠近或远离所述测试平台。2.如权利要求1所述的深度测试装置，其特征是，还包括固定板滑块和限位板，所述限位板固定在所述测试平台的下表面，所述固定板位于所述限位板的下方，所述固定板滑块固定在所述固定板的上表面，所述限位板上设有滑轨，所述固定板滑块可沿所述滑轨滑动而靠近或远离所述限位板。3.如权利要求1所述的深度测试装置，其特征是，所述气缸固定在所述测试平台的下表面。4.如权利要求1所述的深度测试装置，其特征是，所述测试平台还包括基准面，所述基准面设置在所述测试平台的上表面，所述基准面上设有第二探针孔，所述测试探针依次穿过所述第一探针孔和第二探针孔而露出所述基准面。5.如权利要求4所述的深度测试装置，其特征是，还包括与被测产品的孔的大小相匹配的产品匹配部件，所述产品匹配部件设置于所述基准面上。6.如权利要求4所述的深度测试装置，其特征是，还包括用于压紧被测产品的上压块，所述上压块设置在所述基准面的上方。7.如权利要求4所述的深度测试装置，其特征是，还包括归零盖板，所述归零盖板用于放置在所述基准面上将所述测试探针压入所述基准面内。【专利摘要】本技术公开了一种深度测试装置，包括测微仪，所述测微仪包括测试杆和测试探针，所述测试探针安装在所述测试杆上，还包括测试平台、驱动气缸和固定板，所述固定板位于所述测试平台的下方，所述测试杆固定在所述固定板上，所述测试平台上设有第一探针孔，所述测试探针穿过所述第一探针孔而露出所述测试平台的上表面，所述驱动气缸的输出端与所述固定板固定，所述驱动气缸用于驱动所述固定板靠近或远离所述测试平台。本深度测试装置可以高效地检测产品的深度，同时能够提高检测的精度。【IPC分类】G01B21/18【公开号】CN204666121【申请号】CN201520333499【专利技术人】刘名俊, 陈贤林, 杨柏格, 郭惠欧, 岳海英, 许伟鹏 【申请人】东莞劲胜精密组件股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种深度测试装置，包括测微仪，所述测微仪包括测试杆和测试探针，所述测试探针安装在所述测试杆上，其特征是，还包括测试平台、驱动气缸和固定板，所述固定板位于所述测试平台的下方，所述测试杆固定在所述固定板上，所述测试平台上设有第一探针孔，所述测试探针穿过所述第一探针孔而露出所述测试平台的上表面，所述驱动气缸的输出端与所述固定板固定，所述驱动气缸用于驱动所述固定板靠近或远离所述测试平台。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘名俊，陈贤林，杨柏格，郭惠欧，岳海英，许伟鹏，
申请(专利权)人：东莞劲胜精密组件股份有限公司，东莞华晟电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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