一种电弧光保护设备测试箱制造技术

本实用新型专利技术公开设计一种电弧光保护设备测试箱，具有合理的结构和电路设计，使用电流调节亮度的方式而回避了箱体内的机械运动构件。电路设计兼具了功能性和安全性，对设备提供了保护。本实用新型专利技术结构简单，并且具有较高精度，以达到对电弧光保护装置进行测试的目的。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电弧光测试及保护领域，尤其是一种电弧光保护设备测试箱。
技术介绍
电弧光是通过电离的气体(空气)在带电体和地之间或带电体之间的短路。高能量的电弧光故障表现为电气爆炸。它们释放了大量的能量，表现为辐射、热、强光和高压波的形式，对电力设备及施工人员会造成较大的伤害，故需要使用弧光保护仪器进行保护。目前，弧光保护仪器在开发及生产过程中，需要使用一套闭环的电弧光测试系统来进行验证调试。目前市面上并没有能准确进行弧光测试的仪器，而且实际开关柜拉弧实验属于破坏性实验，成本非常高昂，无法在开发或调试时使用。故，需要一种新的技术方案以解决上述问题。
技术实现思路
公开本技术要解决的技术问题是提供一种能够以简单结构进行电弧光保护设备测试使用的箱体。为达到上述目的，本技术可采用如下技术方案:一种电弧光保护设备测试箱，包括黑箱，黑箱内设有的紫外灯珠、白光灯珠、弧光传感器、光照度探测器；所述紫外灯珠及白光灯珠通过灯架安装在黑箱一个侧壁上，而弧光传感器及照度探测器安装在与紫外灯珠及白光灯珠相对的黑箱另一个侧壁上；弧光传感器连接位于黑箱外的弧光保护装置，照度探测器连接位于黑箱外的照度仪；所述紫外灯珠与第一触点开关、第一电阻、第一电位器串联，白光灯珠与第二触点开关、第二电阻及第二电位器串联后再与紫外灯珠所在一路并联。相对于现有技术，本技术电弧光保护设备测试箱通过设置紫外灯珠及白光灯珠来模拟不同情况下的电弧光，在照度计的配合下对弧光保护装置进行测试；并且采用第一触电开关及第二触电开关对紫外灯珠及白光灯进行工作切换；采用第一、第二电位器进行紫外灯珠及白光灯的亮度调节，通过简易设计的电路就能够实现模拟光源亮度变化的连续性，并且具有较高精度，以达到对电弧光保护装置进行测试的目的。【附图说明】图1是本技术电弧光保护设备测试箱的结构示意图。图2是紫外灯珠及白光灯珠工作的电路示意图【具体实施方式】请参阅图1所示，本技术公开了一种电弧光保护设备测试箱，包括黑箱，黑箱内设有的紫外灯珠、白光灯珠、弧光传感器、光照度探测器；所述紫外灯珠及白光灯珠通过灯架安装在黑箱一个侧壁上，而弧光传感器及照度探测器安装在与紫外灯珠及白光灯珠相对的黑箱另一个侧壁上；弧光传感器通过光纤连接位于黑箱外的弧光保护装置，照度探测器通过光纤连接位于黑箱外的照度仪。请结合图2所示，所述紫外灯珠2与第一触点开关1、第一电阻3、第一电位器4串联，同时该路还串联自恢复保险丝5 ;而白光灯珠7与第二触点开关6、第二电阻8及第二电位器9串联后再与紫外灯珠2所在一路并联至直流电源11。同样的，白光灯珠7 —路还串联自恢复保险丝10。所述第一电位器4的旋钮及第二电位器9的旋钮位于黑箱外以方便操作。而图1中黑箱上的紫外光源开关即为第一触电开关1，白光光源开关即为第二触点开关6。米用第一触电开关及第二触电开关对紫外灯珠及白光灯进行工作切换；采用第一、第二电位器进行紫外灯珠及白光灯的亮度调节，模拟不同情况下的电弧光，在照度计的配合下对弧光保护装置进行测试。本技术从弧光测试的需求出发，合理的布局了测试箱结构，使用电流调节亮度的方式从而回避了箱体内的机械运动构件。电路设计兼具了功能性和安全性，对设备提供了保护。另外，本技术的具体实现方法和途径很多，以上所述仅是本技术的优选实施方式。应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。本实施例中未明确的各组成部分均可用现有技术加以实现。【主权项】1.一种电弧光保护设备测试箱，包括黑箱，其特征在于:黑箱内设有的紫外灯珠、白光灯珠、弧光传感器、光照度探测器；所述紫外灯珠及白光灯珠通过灯架安装在黑箱一个侧壁上，而弧光传感器及照度探测器安装在与紫外灯珠及白光灯珠相对的黑箱另一个侧壁上；弧光传感器连接位于黑箱外的弧光保护装置，照度探测器连接位于黑箱外的照度仪；所述紫外灯珠与第一触点开关、第一电阻、第一电位器串联，白光灯珠与第二触点开关、第二电阻及第二电位器串联后再与紫外灯珠所在一路并联。2.根据权利要求1所述的电弧光保护设备测试箱，其特征在于:所述第一电位器的旋钮及第二电位器的旋钮位于黑箱外。3.根据权利要求2所述的电弧光保护设备测试箱，其特征在于:所述弧光传感器通过光纤连接位于黑箱外的弧光保护装置；照度探测器通过光纤连接位于黑箱外的照度仪。【专利摘要】本技术公开设计一种电弧光保护设备测试箱，具有合理的结构和电路设计，使用电流调节亮度的方式而回避了箱体内的机械运动构件。电路设计兼具了功能性和安全性，对设备提供了保护。本技术结构简单，并且具有较高精度，以达到对电弧光保护装置进行测试的目的。【IPC分类】H05B37/02, G01D21/00【公开号】CN204666184【申请号】CN201520385873【专利技术人】王力, 张庆伟, 吕浩 【申请人】国电南瑞科技股份有限公司, 国电南瑞南京控制系统有限公司【公开日】2015年9月23日【申请日】2015年6月4日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电弧光保护设备测试箱，包括黑箱，其特征在于：黑箱内设有的紫外灯珠、白光灯珠、弧光传感器、光照度探测器；所述紫外灯珠及白光灯珠通过灯架安装在黑箱一个侧壁上，而弧光传感器及照度探测器安装在与紫外灯珠及白光灯珠相对的黑箱另一个侧壁上；弧光传感器连接位于黑箱外的弧光保护装置，照度探测器连接位于黑箱外的照度仪；所述紫外灯珠与第一触点开关、第一电阻、第一电位器串联，白光灯珠与第二触点开关、第二电阻及第二电位器串联后再与紫外灯珠所在一路并联。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王力，张庆伟，吕浩，
申请(专利权)人：国电南瑞科技股份有限公司，国电南瑞南京控制系统有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32