本实用新型专利技术属于微波性能测试技术领域。利用螺旋测微技术，精确控制电磁参数样品的位置和高度，实现电磁参数样品厚度的控制。本实用新型专利技术所涉及的电磁参数测试样品修整装置，由夹具(1)、螺旋测微调节头(2)、平台(3)组成，夹具(1)与平台(3)为固定为一体的一对具有同心圆孔的空心筒组合体，圆心与组合体上表面垂直；螺旋测微调节头(2)的外套固定于平台(3)的内径；螺旋测微调节头(2)的顶端面与组合体上表面平行；螺旋测微调节头(2)刻度为0时，其顶端与夹具(1)的上表面处于同一平面。该装置，适用于同轴电磁参数试样的厚度修整，操作方便，可以快速制得特定厚度的电磁参数样品，所制得的样品两端面平整、平行，操作过程不会对样品造成破坏。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于微波性能测试
，特别涉及微波电磁参数测试
技术介绍
材料的电磁参数是用于描述材料电磁特性的特征参数，表征材料与电磁场的相互作用。测量材料电磁参数的方法有很多，主要分为传输反射法和谐振腔法。根据所用夹具的不同，又分为同轴法、波导法、自由空间法和开口同轴探头法等；目前应用较广的测试装置是7mm同轴空气线，测试前需要制备形态为内径3.04mm、外径7mm的圆筒或圆环形样品。在测试时，微波在λ/4ε处会发生谐振，这会使得测试曲线发生严重失真。为了避免此种曲线波动，一般采取改变样品厚度的方法来避免产生波动。同时，样品的厚度对电磁参数测试结果有一定的影响，实际应用中常需要制备一批厚度相同的样品以便对测试结果进行比对。但在实际操作中，用刀切割容易弄碎样品，用砂纸打磨耗时较长，又不易保证两端面平整、平行，通过砂纸打磨，不容易控制样品的厚度，无法得到特定厚度的样品。
技术实现思路
本技术的目的在于控制电磁参数测试样品的厚度，确保样品两端面平整、平行，提供一种可精确控制厚度的样品修整装置。本技术的目的是这样实现的，利用螺旋测微技术，精确控制电磁参数样品的位置和高度，实现电磁参数样品厚度的控制。本技术所涉及的电磁参数测试样品修整装置，其特征在于:由夹具1、螺旋测器、平台3组成，夹具I与平台3为固定为一体的一对具有同心圆孔的空心筒组合体，圆心与组合体上表面垂直；螺旋测微器调节头2的外套固定于平台3的内径；螺旋测微器调节头2的顶端面与组合体上表面平行；螺旋测微器调节头2刻度为O时，其顶端与夹具I的上表面处于同一平面。结构如附图1所示。本技术所涉及的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:夹具I的高度为1mm?20mm，内径为Φ (7?10) mm。本技术所涉及的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:螺旋测微器调节头的顶端直径为Φ (4?7)_。本技术所涉及的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:螺旋测微器的分度为0.01mm。本技术所涉及的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:螺旋测微器的量程为50mm。本技术所涉及的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:平台3的内径为Φ (4?7)mm，高度为1mm?20mmo本技术所涉及的电磁参数测试样品修整装置，适用于同轴电磁参数试样的厚度修整，操作方便，可以快速制得特定厚度的电磁参数样品，所制得的样品两端面平整、平行，操作过程不会对样品造成破坏。【附图说明】附图1 一种电磁参数测试样品厚度修整装置示意图其中:1_夹具；2_螺旋测微调节头；3-平台；4_电磁参数测试样品。【具体实施方式】下面结合附图1对本技术涉及的电磁参数测试样品厚度修整工具作进一步详细说明，但不作为对本技术涉及技术方案的限制。任何一种可以实现本技术目的技术方案均构成本技术的一部分。实施例一一种电磁参数测试样品厚度修整工具，由夹具1、螺旋测微器、平台3组成，夹具1、螺旋测微器调节头2、平台3为钢质。夹具I为同心圆环，内径为Φ7_，高度为10_。夹具I与平台3通过螺纹固定，平台3的内径中固定有螺旋测微器调节头2，螺旋测微器调节头2顶端的直径为Φ6.8mm。平台3内径为Φ6.9mm，高度为20mmo通过螺旋测微调节头2可以控制电磁参数样品4在夹具I中的长度。将电磁参数测试样品4放入夹具I中，调节螺旋测微调节头2至8.0Omm,此时电磁参数测试样品4在夹具I内的长度为8mm，将露出夹具的部分使用细砂纸打磨掉。螺旋测微调节头2归零，便可将电磁参数测试样品顶出，即得到长度为8_的电磁参数测试样品。【主权项】1.一种电磁参数测试样品修整装置，其特征在于:由夹具(I)、螺旋测微器、平台(3)组成，夹具(I)与平台(3)为固定为一体的一对具有同心圆孔的空心筒组合体，圆心与组合体上表面垂直；螺旋测微器调节头(2)的外套固定于平台(3)的内径；螺旋测微调节头(2)的顶端面与组合体上表面平行；螺旋测微调节头(2)刻度为O时，其顶端与夹具(I)的上表面处于同一平面。2.根据权利要求1所述的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:夹具(I)的高度为ICtam?2Ctam，内径为Φ (7?10)mmo3.根据权利要求1所述的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:螺旋测微调节头的顶端直径为Φ (4?7)mm04.根据权利要求1所述的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:螺旋测微装置的分度为0.0lmm05.根据权利要求1所述的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:螺旋测微装置的的量程为50mm。6.根据权利要求1所述的电磁参数测试样品长度修整装置，其特征在于:平台(3)的内径为Φ (4?7)_，高度为10_?20_。【专利摘要】本技术属于微波性能测试
利用螺旋测微技术，精确控制电磁参数样品的位置和高度，实现电磁参数样品厚度的控制。本技术所涉及的电磁参数测试样品修整装置，由夹具(1)、螺旋测微调节头(2)、平台(3)组成，夹具(1)与平台(3)为固定为一体的一对具有同心圆孔的空心筒组合体，圆心与组合体上表面垂直；螺旋测微调节头(2)的外套固定于平台(3)的内径；螺旋测微调节头(2)的顶端面与组合体上表面平行；螺旋测微调节头(2)刻度为0时，其顶端与夹具(1)的上表面处于同一平面。该装置，适用于同轴电磁参数试样的厚度修整，操作方便，可以快速制得特定厚度的电磁参数样品，所制得的样品两端面平整、平行，操作过程不会对样品造成破坏。【IPC分类】G01N1-28【公开号】CN204594768【申请号】CN201520243530【专利技术人】张雨, 林帅, 冀克俭, 荀其宁, 刘运峰, 张军英, 姜维维, 刘霞, 张符, 滕岩, 李承荣 【申请人】中国兵器工业集团第五三研究所【公开日】2015年8月26日【申请日】2015年4月21日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电磁参数测试样品修整装置，其特征在于：由夹具(1)、螺旋测微器、平台(3)组成，夹具(1)与平台(3)为固定为一体的一对具有同心圆孔的空心筒组合体，圆心与组合体上表面垂直；螺旋测微器调节头(2)的外套固定于平台(3)的内径；螺旋测微调节头(2)的顶端面与组合体上表面平行；螺旋测微调节头(2)刻度为0时，其顶端与夹具(1)的上表面处于同一平面。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张雨，林帅，冀克俭，荀其宁，刘运峰，张军英，姜维维，刘霞，张符，滕岩，李承荣，
申请(专利权)人：中国兵器工业集团第五三研究所，
类型：新型
国别省市：山东;37
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