层叠透镜阵列、层叠透镜阵列的制造方法以及层叠透镜的制造方法技术

一种层叠透镜阵列、层叠透镜阵列的制造方法以及层叠透镜的制造方法，作为多个透镜阵列(10，20)包括：具有第1透镜部(K1)和第2透镜部(K2)的第1透镜阵列(10)，该第1透镜部(K1)在物体侧的光学面(11a)具有第1标记(U1)并在像侧的光学面(11b)具有第2标记(U2)，该第2透镜部(K2)在物体侧的光学面(11a)和像侧的光学面(11b)中的一个光学面具有第3标记(U3)并且在另一光学面没有标记；及具有第3透镜部(K3)的第2透镜阵列(20)，该第3透镜部(K3)在物体侧的光学面(21a)和像侧的光学面(21b)中的一个光学面具有第4标记(U4)并且在另一光学面没有标记，从物体侧或像侧观察时，第3标记(U3)和第4标记(U4)在两者的中心处实质上重叠。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及层叠2个以上透镜阵列的层叠透镜阵列、该层叠透镜阵列的制造方法以及从该层叠透镜阵列获得的层叠透镜的制造方法。
技术介绍
近年来，在透镜制作时，不采用磨削的方法，而大多采用基于模具形状的转印的模制法。作为模制法的优点，可以举出如下方面:利用制作I个模具，就能够大量且廉价地生产透镜；难以通过磨削来制作的非球面、自由曲面、阵列透镜等也能够生产。在利用模制法成型的情况下，若在安装于成型机的2个模具的位置之间存在偏移，则会在成型出的透镜的上表面和下表面之间产生偏移(偏心)。对于透镜来说，存在即便是微小的偏移也无法达成期望的透镜特性的情况。因此，在该情况下，需要调整成型机的模具的位置，而且需要对成型出的透镜的偏心进行测定，并向模具的位置反馈。作为对成型出的透镜的偏心进行测定的技术，存在如下方法，使用在旋转对称中心加工出标记形状的模具来进行模制成型，并从成型透镜的上表面和下表面的标记坐标算出透镜的偏心，即上表面侧光学面的光轴和下表面侧光学面的光轴的偏移(例如，参照专利文献I)。层叠2个以上透镜的情况也同样地，存在当在透镜间的中心位置产生偏移(偏心)时无法达成期望的透镜特性的情况。因此，需要对透镜间的偏心进行测定，并向透镜间的定位反馈。作为测定透镜间的偏心的技术，存在如下方法:在2个透镜的旋转对称中心形成标记，从各自的坐标算出透镜间的偏心，以使透镜移动来使坐标一致的方式进行调整偏心(例如，参照专利文献2)。在通过模制法制作透镜阵列、并层叠多个透镜阵列时的偏心测定方法中，若使用上述专利文献I和2的方法，则会产生如下问题。在透镜阵列的情况下，由于具有多个光学面，所以需要以使对置的一对标记的坐标一致的方式调整模具的位置。因此，在成型出的透镜阵列的一对光学面分别形成标记。当将该透镜阵列彼此层叠时，以使2个透镜的标记坐标一致的方式调整透镜的位置。此时，在同一光轴上排列有4个标记。通常，虽然透镜间的偏心调整在透镜特性的偏心灵敏度最高的面彼此之间进行，但在上述情况下，在该偏心调整中由于不必要的标记也排列在光轴上，所以有可能测定到期望的标记以外的标记。在通过图像处理来测定标记的坐标的情况下，该风险变得更高。若偏心测定错误，则会产生调整次数增加所导致的工时增加、流出不良品的问题。现有技术文献专利文献专利文献1:(日本)特表2007-519020号公报专利文献2:(日本)特开2006-146043号公报
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供层叠透镜阵列，其能够进行精度良好的偏心测定和调整而不会测定到期望的标记以外的标记。并且，本专利技术的目的在于提供上述层叠透镜阵列的制造方法以及从该层叠透镜阵列获得的层叠透镜的制造方法。为了解决上述课题，本专利技术的层叠透镜阵列为层叠多个透镜阵列的层叠透镜阵列，各透镜阵列包括多个透镜部，在物体侧和像侧分别具有与多个透镜部对应的多个光学面，多个透镜阵列包括:具有第I透镜部和第2透镜部的第I透镜阵列，第I透镜部在物体侧的光学面具有第I标记并在像侧的光学面具有第2标记，第2透镜部在物体侧的光学面和像侧的光学面中的一个光学面具有第3标记并且在另一光学面没有标记；及具有第3透镜部的第2透镜阵列，第3透镜部在物体侧的光学面和像侧的光学面中的一个光学面具有第4标记并且在另一光学面没有标记，从物体侧或像侧观察时，第3标记和第4标记在两者的中心处实质上重叠。在本专利技术的具体的方式和观点中，第I至第4标记设在各自对应的第I至第3透镜部的光轴上。在本专利技术的其他观点中，第I透镜阵列具备在分离的位置处设在至少2个部位的多个第I标记和多个第2标记。这里，所谓分离的位置是指比透镜部间的最小间隔大的位置。例如若透镜部的排列是规则的，则在透镜部间的最小间隔的整数倍的分离的位置处设置标记O在本专利技术进一步的其他观点中，多个透镜部呈矩阵状排列，并且第I标记和第2标记沿对角线方向配置。在本专利技术进一步的其他观点中，多个透镜部呈矩阵状排列，并且第I标记和第2标记沿边线方向配置。在本专利技术进一步的其他观点中，第I透镜阵列具备在分离的位置处设在至少2个部位的多个第3标记。在本专利技术进一步的其他观点中，多个透镜阵列还包括第3透镜阵列，该第3透镜阵列包括第4透镜部，第4透镜部在物体侧的光学面和像侧的光学面中的一个光学面具有第5标记并且在另一光学面没有标记，从物体侧或像侧观察时，多个第3标记中的一个和第4标记在两者的中心处实质上重叠，从物体侧或像侧观察时，多个第3标记中的另一个和第5标记在两者的中心处实质上重叠。在本专利技术进一步的其他观点中，第2透镜阵列具备在分离的位置处设在至少2个部位的多个第4标记。在本专利技术进一步的其他观点中，多个透镜阵列还包括第3透镜阵列，该第3透镜阵列包括第4透镜部，第4透镜部在物体侧的光学面和像侧的光学面中的一个光学面具有第5标记并且在另一光学面没有标记，从物体侧或像侧观察时，多个第4标记中的一个和第3标记在两者的中心处实质上重叠，从物体侧或像侧观察时，多个第4标记中的另一个和第5标记在两者的中心处实质上重叠。在本专利技术进一步的其他观点中，第2透镜阵列包括第5透镜部，第5透镜部在物体侧的光学面具有第6标记并在像侧的光学面具有第7标记。为解决上述课题，本专利技术的第I的层叠透镜阵列的制造方法具备:成型工序，在该成型工序中，成型出透镜阵列，透镜阵列在物体侧和像侧具有与多个透镜部对应的多个光学面；层叠工序，在该层叠工序中，对在成型工序中成型出的至少多个透镜阵列进行层叠，在成型工序中，在多个透镜阵列中的第I透镜阵列的第I透镜部上，在物体侧的光学面形成第I标记，在像侧的光学面形成第2标记，在第I透镜阵列的第2透镜部上，在物体侧的光学面和像侧的光学面中的一个光学面形成第3标记并且在另一光学面不形成标记，在多个透镜阵列中的第2透镜阵列的第3透镜部上，在物体侧的光学面和像侧的光学面中的一个光学面形成第4标记并且在另一光学面不形成标记，在层叠工序中，以从物体侧或像侧观察时第3标记和第4标记在两者的中心处实质上重叠的方式层叠第I和第2透镜阵列。在本专利技术的具体的方式或观点中，在成型工序中利用第I成型模具和第2成型模具成型出第I透镜阵列，第I成型模具具有用于成型出第I透镜阵列的物体侧的光学面的多个第I光学转印面，与第I透镜部的物体侧的光学面对应的第I光学转印面包括用于形成第I标记的第I标记转印面，第2成型模具具有用于成型出第I透镜阵列的像侧的光学面的多个第2光学转印面，与第I透镜部的像侧的光学面对应的第2光学转印面包括用于形成第2标记的第2标记转印面，第I成型模具的用于形成第2透镜部的第3光学转印面、或第2成型模具的用于形成第2透镜部的第4光学转印面包括用于形成第2透镜部的第3标记的第3标记转印面。在本专利技术的其他观点中，通过观察第I透镜阵列的第I和第2标记，来测定第I透镜部的偏心。在本专利技术的其他观点中，第I成型模具具有多个第I标记转印面，第2成型模具具有多个第2标记转印面，在成型工序中，成型出具有处于分离位置的多个第I透镜部的第I透镜阵列，通过观察多组第I和第2标记，来测定配置在多个不同的光轴上的一组第I透镜部的偏心。在本专利技术的其他观点中，在成型工序中利用第3成型模具和第4成型模具成型出第2透镜阵列，第3成型模具的用于形成第3透镜部的物体侧光学面的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种层叠透镜阵列，其层叠多个透镜阵列，所述层叠透镜阵列的特征在于，各透镜阵列包括多个透镜部，在物体侧和像侧分别具有与所述多个透镜部对应的多个光学面，所述多个透镜阵列包括：具有第1透镜部和第2透镜部的第1透镜阵列，所述第1透镜部在物体侧的光学面具有第1标记并在像侧的光学面具有第2标记，所述第2透镜部在物体侧的光学面和像侧的光学面中的一个光学面具有第3标记并且在另一光学面没有标记；及具有第3透镜部的第2透镜阵列，所述第3透镜部在物体侧的光学面和像侧的光学面中的一个光学面具有第4标记并且在另一光学面没有标记，从物体侧或像侧观察时，所述第3标记和所述第4标记在两者的中心处实质上重叠。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：水金贵裕，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP