连续窄脉宽激光器峰值光功率的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了连续窄脉宽激光器峰值光功率的测试装置，包括可控衰减器、光电转换采集电路及中央处理器。可控衰减器连接被测脉冲光源的光纤输入接口，可控衰减器连接光电转换采集电路，光电转换采集电路通过现场可编程门阵列FPGA连接中央处理器，中央处理器连接有显示模块。通过高速光脉冲转换技术、高速脉冲信号的频率和脉宽测量技术、连续脉冲光积分保持技术、量程自动换挡技术设计的采集电路，利用本单机装置和方法就可以完成对连续脉冲光功率的测试，摆脱了由于涉及环节多，无法实现仪器化的难题，从而缩减成本投入、减小系统体积、简化操作流程，具有很强的通用性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及连续窄脉宽激光器峰值光功率的测试装置。
技术介绍
传统意义上的激光峰值功率定义为激光脉冲能量与激光脉冲半宽度的比值。当重 复频率较低或脉冲宽度较宽时，可先用波形探测器和示波器测出激光脉冲波形半宽度H，再 用激光能量计测出激光脉冲能量E。然后按P p= E/Η计算激光峰值功率。当重复频率较高 或脉冲宽度较窄时，由于无法直接测量激光脉冲能量，可先用波形探测器、示波器测出激光 脉冲频率f、激光脉冲波形半宽度H，再用激光功率计测出激光平均功率P av。然后按公式：【主权项】1. 连续窄脉宽激光器峰值光功率的测试装置，其特征在于，包括可控衰减器、光电转换 采集电路及中央处理器，所述可控衰减器连接被测脉冲光源的光纤输入接口，可控衰减器 连接光电转换采集电路，光电转换采集电路通过现场可编程门阵列FPGA连接中央处理器， 中央处理器连接有显示模块； 所述光电转换采集电路包括光电转换探测器及两路并行的脉冲宽度频率测试通道和 积分保持通道，脉冲宽度频率测试通道和积分保持通道的起始端均连接有用于切换的模拟 开关，终端分别通过现场可编程门阵列FPGA连接中央处理器，中央处理器通过现场可编程 门阵列FPGA连通控制脉冲宽度频率测试通道和积分保持通道。2. 根据权利要求1所述的连续窄脉宽激光器峰值光功率的测试装置，其特征在于，所 述光电转换探测器与模拟开关之间加装有用于放大光电流的前置放大器。3. 根据权利要求1所述的连续窄脉宽激光器峰值光功率的测试装置，其特征在于，所 述脉冲宽度频率测试通道包括依次连通的第一程控放大器、高速A/D转换器； 所述积分保持通道包括依次连通的积分保持电路、第二程控放大器、高精度A/D转换 器； 所述中央处理器通过现场可编程门阵列FPGA连通第一程控放大器、高速A/D转换器、 积分保持电路、第二程控放大器及高精度A/D转换器。【专利摘要】本技术公开了连续窄脉宽激光器峰值光功率的测试装置，包括可控衰减器、光电转换采集电路及中央处理器。可控衰减器连接被测脉冲光源的光纤输入接口，可控衰减器连接光电转换采集电路，光电转换采集电路通过现场可编程门阵列FPGA连接中央处理器，中央处理器连接有显示模块。通过高速光脉冲转换技术、高速脉冲信号的频率和脉宽测量技术、连续脉冲光积分保持技术、量程自动换挡技术设计的采集电路，利用本单机装置和方法就可以完成对连续脉冲光功率的测试，摆脱了由于涉及环节多，无法实现仪器化的难题，从而缩减成本投入、减小系统体积、简化操作流程，具有很强的通用性。【IPC分类】G01J1-42【公开号】CN204556103【申请号】CN201520241496【专利技术人】刘磊, 闫继送, 孙强, 吴寅初, 韩顺利 【申请人】中国电子科技集团公司第四十一研究所【公开日】2015年8月12日【申请日】2015年4月21日本文档来自技高网...

【技术保护点】
连续窄脉宽激光器峰值光功率的测试装置，其特征在于，包括可控衰减器、光电转换采集电路及中央处理器，所述可控衰减器连接被测脉冲光源的光纤输入接口，可控衰减器连接光电转换采集电路，光电转换采集电路通过现场可编程门阵列FPGA连接中央处理器，中央处理器连接有显示模块；所述光电转换采集电路包括光电转换探测器及两路并行的脉冲宽度频率测试通道和积分保持通道，脉冲宽度频率测试通道和积分保持通道的起始端均连接有用于切换的模拟开关，终端分别通过现场可编程门阵列FPGA连接中央处理器，中央处理器通过现场可编程门阵列FPGA连通控制脉冲宽度频率测试通道和积分保持通道。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘磊，闫继送，孙强，吴寅初，韩顺利，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：新型
国别省市：山东;37