一种优化分析发光材料性能及组分的方法技术

本发明专利技术公开了一种优化分析发光材料性能及组分的方法，主要解决现有技术中确定发光性能最优的发光材料的组分时效率较低的问题。本发明专利技术包括：(1)建立发光材料试样组；(2)采集数据；(3)获得发光强度数据矩阵；(4)优化模型图；(5)分析图形等步骤。本发明专利技术实现了直观快速地找到发光性能最优时的组分含量以及发光性能强弱与组分变化之间的关系。本发明专利技术可用于发光材料的发光性能进行集中比较以及对其性能进行直观的分析。

【技术实现步骤摘要】
一种优化分析发光材料性能及组分的方法
本专利技术属于材料
，更进一步涉及材料分析
中的一种优化分析发光材料性能及组分的方法。本专利技术可用于发光材料的发光性能进行集中比较以及对其性能进行直观的分析。
技术介绍
随着科学技术的发展，发光材料在人们的生活中已经得到非常广泛的应用，在研究如何能够快速地计算出每种原料所占比例多少时发光材料的性能能达到最优，是一个相对复杂且又非常重要的问题。在寻找性能最优的发光材料时，通常是单独测出每组发光材料的性能数据，然后再集中起来相互比较，从而找到性能最优的发光材料，得出性能最优的发光材料的组分数据，这种方法耗费了人力和大量的时间，使得寻找最优发光材料的效率不高。高峰发表的论文“稀土发光材料的制备与性能研究”(福建师范大学硕士毕业论文，2006年)中公开一种检测Sr2CeO4氧铯锶发光材料性能的方法。该方法通过柠檬酸—凝胶法制备了Sr2CeO4氧铯锶的发光材料，并利用荧光分光计检测Sr2CeO4氧铯锶发光材料的发光性能，通过测试每一组发光材料的发光性能数据，再将所有发光性能数据集中起来进行比较，从而确定出发光性能较好时的影响发光性能的掺杂组分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种优化分析发光材料性能及组分的方法，包括以下具体步骤：(1)建立发光材料试样组：(1a)在光学测试平台上划出一个二元组分区域，从多种组分组成的发光材料中，选出影响其发光性能为两种组分的发光材料，按照一定的顺序放置其中；(1b)在光学测试平台上划出一个三元组分区域，从多种组分组成的发光材料中，选出影响其发光性能为三种组分的发光材料，按照一定的顺序放置其中；(2)采集数据：(2a)将影响发光材料发光性能的两种组分的含量数据，按照发光材料放入二元组分区域的顺序，输入到自动测试平台的计算机设定的数据库中；(2b)将影响发光材料发光性能的三种组分的含量数据，按照发光材料放入三元组分区域的顺序，输入到自...

【技术特征摘要】
1.一种优化分析发光材料性能及组分的方法，包括以下具体步骤：(1)建立发光材料试样组：(1a)在光学测试平台上划出一个二元组分区域，从多种组分组成的发光材料中，选出影响其发光性能为两种组分的发光材料，按照一定的顺序放置其中；(1b)在光学测试平台上划出一个三元组分区域，从多种组分组成的发光材料中，选出影响其发光性能为三种组分的发光材料，按照一定的顺序放置其中；(2)采集数据：(2a)将影响发光材料发光性能的两种组分的含量数据，按照发光材料放入二元组分区域的顺序，输入到自动测试平台的计算机设定的数据库中；(2b)将影响发光材料发光性能的三种组分的含量数据，按照发光材料放入三元组分区域的顺序，输入到自动测试平台的计算机设定的数据库中；(2c)将光学测试平台放到荧光光谱仪上，测试该平台上的多个发光材料的发光强度，将测得的发光强度数据存储到自动测试平台的计算机设定的数据库中；(3)获得发光强度数据矩阵：(3a)将发光材料的发光强度数据按照二元组分区域中放置发光材料的顺序和位置列出，获得一个二元组分发光强度数据矩阵；(3b)将发光材料的发光强度数据按照三元组分区域中放置发光材料的顺序和位置列出，获得一个三元组分发光强度数据矩阵；(4)优化模型图：(4a)将获得的二元组分发光强度数据矩阵和三元组分发...

【专利技术属性】
技术研发人员：张显，常进，曾庆丰，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61