一种三极管检测仪电路制造技术

本实用新型专利技术公开一种三极管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻R1和芯片IC1，所述电阻R1的一端连接电阻R3和芯片IC1的引脚3，电阻R1的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6，电容C1的另一端连接三极管V1的发射极、电源E的正极和芯片IC1的引脚1并接地。本实用新型专利技术三极管检测仪电路结构简单、元器件少，并且价格低廉，极大的降低了制作成本，使用时仅需将三极管的插入检测端即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏和种类，因此具有制作成本低、使用方便的优点，适合推广使用。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种检测仪，具体是一种三极管检测仪电路。
技术介绍
晶体三极管，是半导体基本元器件之一，具有电流放大作用和导通控制性能，是电子电路的核心元件，而且价格低廉、制作简单，被广泛应用与各种控制、放大、驱动电路中，三极管的好坏直接关系到整个电路的性能，误使用了损坏的三极管可能会导致整个电路无法启动，甚至引发电路毁损的严重后果，因此在使用三极管前检查质量是很重要的，目前大部分三极管的检测还使用万能表进行测量，操作复杂，使用不便，少数几种专用检测仪也存在结构复杂、价格昂贵，因此普及率不高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种结构简单、使用方便的三极管检测仪电路，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案:一种三极管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻Rl和芯片IC1，所述电阻Rl的一端连接电阻R3和芯片ICl的引脚3，电阻Rl的另一端连接电容Cl、芯片ICl的引脚2和芯片ICl的引脚6，电容Cl的另一端连接三极管Vl的发射极、电源E的正极和芯片ICl的引脚I并接地，芯片ICl的引脚4连接芯片ICl的引脚8、电阻R2、点R4、开关S1、二极管Dl的阳极、二极管D2的阴极和三极管Vl的集电极，电阻R2的另一端连接芯片ICl的引脚7和检测端e，电阻R3的另一端连接三极管Vl的基极，二极管Dl的阴极连接二极管D2的阳极和检测端C，电阻R4的另一端连接检测端b，开关SI的另一端连接电源E的正极。作为本技术的优选方案:所述芯片ICl的型号为NE555。作为本技术的优选方案:所述二极管Dl和二极管D2均为发光二极管。作为本技术的优选方案:所述电源E为6V直流电。与现有技术相比，本技术的有益效果是:本技术三极管检测仪电路结构简单、元器件少，并且价格低廉，极大的降低了制作成本，使用时仅需将三极管的插入检测端即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏和种类，因此具有制作成本低、使用方便的优点，适合推广使用。【附图说明】图1为三极管检测仪电路的电路图。【具体实施方式】 下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1，一种三极管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻Rl和芯片IC1，所述电阻Rl的一端连接电阻R3和芯片ICl的引脚3，电阻Rl的另一端连接电容Cl、芯片ICl的引脚2和芯片ICl的引脚6，电容Cl的另一端连接三极管Vl的发射极、电源E的正极和芯片ICl的引脚I并接地，芯片ICl的引脚4连接芯片ICl的引脚8、电阻R2、点R4、开关S1、二极管Dl的阳极、二极管D2的阴极和三极管Vl的集电极，电阻R2的另一端连接芯片ICl的引脚7和检测端e，电阻R3的另一端连接三极管Vl的基极，二极管Dl的阴极连接二极管D2的阳极和检测端C，电阻R4的另一端连接检测端b，开关SI的另一端连接电源E的正极。芯片ICl的型号为NE555。二极管Dl和二极管D2均为发光二极管。电源E为6V直流电。本技术的工作原理是:555和电阻R1、电容Cl等构成无稳态多谐振荡器，电阻Rl和电容Cl使电路的充、放电时间常数均为T = 0.693RC，占空比为50%，555电路的输出端3脚经三极管Vl放大器反相放大，经二极管Dl、D2和R4作为被测三极管的c、b极电源电压，555的放电端7脚接被测管的e极。将被测三级管分别对应接好各极，若Dl、D2在方波的正、负半周交替发光，说明管子是好的，且为NPN管赞若D1、D2都不发光，说明c、e极间开路，或b、c或b、e极间短路或开路。当二极管D2发光、二极管Dl不发光时，说明时PNP管。电路结构简单、元器件少，并且价格低廉，极大的降低了制作成本，使用时仅需将三极管的插入检测端即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏和种类，因此具有制作成本低、使用方便的优点，适合推广使用。【主权项】1.一种三极管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻Rl和芯片ICl ;其特征在于，所述电阻Rl的一端连接电阻R3和芯片ICl的引脚3，电阻Rl的另一端连接电容Cl、芯片ICl的引脚2和芯片ICl的引脚6，电容Cl的另一端连接三极管Vl的发射极、电源E的正极和芯片ICl的引脚I并接地，芯片ICl的引脚4连接芯片ICl的引脚8、电阻R2、点R4、开关S1、二极管Dl的阳极、二极管D2的阴极和三极管Vl的集电极，电阻R2的另一端连接芯片ICl的引脚7和检测端e，电阻R3的另一端连接三极管Vl的基极，二极管Dl的阴极连接二极管D2的阳极和检测端C，电阻R4的另一端连接检测端b，开关SI的另一端连接电源E的正极。2.根据权利要求1所述的一种三极管检测仪电路，其特征在于，所述芯片ICl的型号为NE555。3.根据权利要求1所述的一种三极管检测仪电路，其特征在于，所述二极管Dl和二极管D2均为发光二极管。4.根据权利要求1所述的一种三极管检测仪电路，其特征在于，所述电源E为6V直流电。【专利摘要】本技术公开一种三极管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻R1和芯片IC1，所述电阻R1的一端连接电阻R3和芯片IC1的引脚3，电阻R1的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6，电容C1的另一端连接三极管V1的发射极、电源E的正极和芯片IC1的引脚1并接地。本技术三极管检测仪电路结构简单、元器件少，并且价格低廉，极大的降低了制作成本，使用时仅需将三极管的插入检测端即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏和种类，因此具有制作成本低、使用方便的优点，适合推广使用。【IPC分类】G01R31-26【公开号】CN204536489【申请号】CN201520255998【专利技术人】陈日志 【申请人】陈日志【公开日】2015年8月5日【申请日】2015年4月24日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种三极管检测仪电路，包括电源E、开关S1、电阻R1和芯片IC1；其特征在于，所述电阻R1的一端连接电阻R3和芯片IC1的引脚3，电阻R1的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6，电容C1的另一端连接三极管V1的发射极、电源E的正极和芯片IC1的引脚1并接地，芯片IC1的引脚4连接芯片IC1的引脚8、电阻R2、点R4、开关S1、二极管D1的阳极、二极管D2的阴极和三极管V1的集电极，电阻R2的另一端连接芯片IC1的引脚7和检测端e，电阻R3的另一端连接三极管V1的基极，二极管D1的阴极连接二极管D2的阳极和检测端c，电阻R4的另一端连接检测端b，开关S1的另一端连接电源E的正极。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈日志，
申请(专利权)人：陈日志，
类型：新型
国别省市：浙江;33