【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于机器视觉检测领域,是图像处理与识别技术的应用,具体涉及一种基 于粗糙集的图像快速修复方法。
技术介绍
在很多实际成像环境中,光照条件往往达不到理想水平,反映在图像上就是出现 过亮或过暗的区块或斑纹,对图像的分析判断造成严重干扰,所以如何有效快速去除阴影 具有广泛的应用前景。 在复杂环境条件下采集图像往往存在以下难点:传播介质的影响,由于介质混浊, 介质中的颗粒悬浮物等对光线的吸收与衰减、散射,会导致采集到的图像降质;光源不理 想,在一些自然光照无法到达的条件下,需要自带光源,而自带光源受到设备成本(优良的 照明设备成本昂贵且体积质量大能耗高)的限制,简陋的照明设备使得光照十分不理想; 光学相机本身的限制,光学镜片透光的不均匀性以及传感器的灵敏度使得图像产生一定的 畸变使光强弱分布不均匀。Mask匀光法是一类具有代表性的解决光照不均匀的问题的方法,该方法源于胶片 印晒,改进的Mask勾光算法,解决了灰度剧烈变化导致的灰度失真。Weiss算法根据一组 不同时间点的同一场景图像序列中值滤波后整合,从而去除阴影区域,该算法在处理光照 变化不大的 ...
【技术保护点】
一种基于粗糙集的图像快速修复方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)、图像采集;(2)、根据采集到的图像建立粗糙集模型,构建出知识表达系统;(3)、根据知识提取光照分布特征;(4)、按光照分布特征划分亮度层;(5)、自适应最佳亮度划分层数;(6)、按亮度层逐层增强纹理。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:范新南,汪耕任,史鹏飞,张卓,谢迎娟,倪建军,张学武,李敏,
申请(专利权)人:河海大学常州校区,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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