一种基于粗糙集的图像快速修复方法技术

技术编号:11788101 阅读:151 留言:0更新日期:2015-07-29 12:20
本发明专利技术公开了一种基于粗糙集的图像快速修复方法,其步骤包括:对采集到的数字图像建立粗糙集模型,抽象出一个知识表达系统;然后根据知识表达系统中的等价关系进行亮度等级划分;按照划分分别用上近似下近似求取论域(图像)的光照亮度层;然后引入近似分类精度,系统参数重要度,计算其值随划分层数变化趋势;最后根据他们的收敛性反馈最佳划分从而自适应亮度层,将所有亮度层划分为过量区域、正常区域、过暗区域,以正常区域为基准逐层恢复亮度。最终得到清晰、可视性良好、细节更为突出的图像,本发明专利技术适应能力强,能够克服各种苛刻光照环境条件,处理速度快,具有一定的在线实时性,具有很大的现实意义和实用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于机器视觉检测领域,是图像处理与识别技术的应用,具体涉及一种基 于粗糙集的图像快速修复方法。
技术介绍
在很多实际成像环境中,光照条件往往达不到理想水平,反映在图像上就是出现 过亮或过暗的区块或斑纹,对图像的分析判断造成严重干扰,所以如何有效快速去除阴影 具有广泛的应用前景。 在复杂环境条件下采集图像往往存在以下难点:传播介质的影响,由于介质混浊, 介质中的颗粒悬浮物等对光线的吸收与衰减、散射,会导致采集到的图像降质;光源不理 想,在一些自然光照无法到达的条件下,需要自带光源,而自带光源受到设备成本(优良的 照明设备成本昂贵且体积质量大能耗高)的限制,简陋的照明设备使得光照十分不理想; 光学相机本身的限制,光学镜片透光的不均匀性以及传感器的灵敏度使得图像产生一定的 畸变使光强弱分布不均匀。Mask匀光法是一类具有代表性的解决光照不均匀的问题的方法,该方法源于胶片 印晒,改进的Mask勾光算法,解决了灰度剧烈变化导致的灰度失真。Weiss算法根据一组 不同时间点的同一场景图像序列中值滤波后整合,从而去除阴影区域,该算法在处理光照 变化不大的图像序列时不可靠,且本文档来自技高网...
一种<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/55/CN104809712.html" title="一种基于粗糙集的图像快速修复方法原文来自X技术">基于粗糙集的图像快速修复方法</a>

【技术保护点】
一种基于粗糙集的图像快速修复方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)、图像采集;(2)、根据采集到的图像建立粗糙集模型,构建出知识表达系统;(3)、根据知识提取光照分布特征;(4)、按光照分布特征划分亮度层;(5)、自适应最佳亮度划分层数;(6)、按亮度层逐层增强纹理。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:范新南汪耕任史鹏飞张卓谢迎娟倪建军张学武李敏
申请(专利权)人:河海大学常州校区
类型:发明
国别省市:江苏;32

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