基于共线法的热导率测量装置制造方法及图纸

基于共线法的热导率测量装置属于光电技术领域；该装置包括纳秒脉冲激光器，设置于纳秒脉冲激光器出射光路上的第一分束片，用于接收第一分束片反射光路的硅探测器，输出的电信号作为触发信号，用于显示硅探测器接收信号的示波器；氦氖激光器、二分之一玻片和偏振分光片，还包括二向色镜，纳秒脉冲激光器的出射光路经过二向色镜透射后的光路，与氦氖激光器经过二向色镜反射后的光路共线，依次经过第二分束片、透镜后，汇聚到样品上；偏振分光片的反射光路与第二分束片的反射光路由双路探测器采集，相减后的结果由示波器显示；本申请热导率测量装置，不仅利用共线法提高信噪比，易于调节光点重合，而且可以补偿氦氖激光器的不稳定对测量结果的影响。

【技术实现步骤摘要】

基于共线法的热导率测量装置属于光电

技术介绍
随着科学技术的快速发展，越来越多的高分子材料和纳米薄膜材料不断涌现出来。而对于各种新物质新材料的热导率实验测定，将为新型导热、隔热薄膜材料的开发与研宄打下坚实的理论基础。对于热导率的测量，近几十年开发出了一种非稳态测量方法。该方法多用于研宄高导热系数材料，或在高温条件下进行测量。对于非稳态热导率测量装置，传统结构如图1所示。在该装置中，纳秒脉冲激光器发出的激光束经过反射镜转折，从透镜的中心汇聚到样品表面，而氦氖激光器发出的激光束依次经过二分之一玻片、偏振分光片和另一片反射镜后，从透镜的非中心汇聚到样品表面，该激光束从与中心对称的位置反射，经第三片反射镜反射后，由探测器接收，并由示波器显示。这样的装置结构具有以下缺点:第一、纳秒脉冲激光器发出的激光束与氦氖激光器发出的激光束采用非共线的方式，光点空间重合不易调节，而且测量得到信号的信噪比较低；第二、无法克服氦氖激光器不稳定给测量结果带来的影响。
技术实现思路
为了解决上述问题，本技术公开了一种基于共线法的热导率测量装置，该装置通过将纳秒脉冲激光器与氦氖激光器光束共线，同时引入本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于共线法的热导率测量装置，包括纳秒脉冲激光器（1），设置于纳秒脉冲激光器（1）出射光路上的第一分束片（2），用于接收第一分束片（2）反射光路的硅探测器（3），用于显示硅探测器（3）接收信号的示波器（4）；氦氖激光器（5）、二分之一玻片（6）和偏振分光片（7），其特征在于，还包括二向色镜（8），纳秒脉冲激光器（1）的出射光路经过二向色镜（8）透射后的光路，与氦氖激光器（5）经过二向色镜（8）反射后的光路共路，依次经过第二分束片（9）、透镜（10）后，汇聚到样品（11）上；偏振分光片（7）的反射光路与第二分束片（9）的反射光路由双路探测器（12）采集，相减后的结果由示波器（4）显示。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴文智，柴志军，冉玲苓，孔德贵，
申请(专利权)人：黑龙江大学，
类型：新型
国别省市：黑龙江;23