双臂式齿轮测量装置制造方法及图纸

技术编号:11590278 阅读:82 留言:0更新日期:2015-06-10 23:02
本实用新型专利技术涉及齿轮测量技术领域,具体涉及一种双臂式齿轮测量装置,包括放置在被测齿轮上端面的基座,以及悬置于所述基座下方的三维测量单元,所述三维测量单元的数量为两个,分别设于所述基座的左右两端;其中一个三维测量单元放置在被测齿轮的内侧区域。本实用新型专利技术采用“以小测大”的测量原理,克服特大型齿轮测量中心与坐标测量机需要开发长导轨,仪器造价高,测量精度难以提升的弊端。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及齿轮测量
,具体涉及一种双臂式齿轮测量装置
技术介绍
齿轮是机械传动中最重要的、也是应用最广泛的一种传动型式,具有传动比准确、结构紧凑、传动效率高等优点。齿轮按大小分为微小齿轮、常规齿轮、大齿轮、特大型齿轮。约定俗成,直径大于3000mm的齿轮称为特大型齿轮。特大型齿轮主要用于一些关键的要害领域和影响全局的重要行业,如发电、机车、矿山机械、大型工程机械、大型船舶、钻井平台及火箭发射等,其在国民经济和国防事业中起着十分重要的作用,具有不可替代性。齿轮的精度对齿轮的噪声和使用寿命有直接而严重的影响,不同的应用领域对齿轮的精度有不同的要求,特别是在精密传动领域中,其对齿轮的精度有很高要求。为实现重大装备的高性能高效率的传动以及高使用寿命,用户对特大型齿轮的精度提出了越来越高的要求。当前对于常规齿轮而言,现有齿轮检测仪器完全满足其测量需求。但对于特大齿轮测量要求而言,随着齿轮的尺寸以及模数的不断增加并达到超常规的程度,其精密测量技术与手段发生了从量变到质变的突变,造成了特大型齿轮精密测量成为了世界性难题,一直没有实现经济有效的测量。造成特大齿轮测量困难的主要因素归结如下:齿轮尺寸大。如按常规的测量方法,随着齿轮尺寸的增加,测量仪器的结构、体积将相应增大,给仪器制造和装配带来很大困难。齿轮测量的典型仪器包括齿轮测量中心与坐标测量机,以齿轮测量中心为例,采用传统的展成法测量特大型齿轮齿廓偏差,首先遇到的问题是切向长导轨的制造。对于模数30mm、齿数250、压力角20度、外径大于7m的直齿轮,为确保测量点在基圆切线上,测头要从偏置位置开始测量,按进入圆方法计算偏置量为1391mm,加上齿廓展成长度为782mm,考虑到左右齿廓,则切向导轨的行程要大于4346mm,如果采用坐标测量机进行测量,首先需要将特大型齿轮放置到坐标测量机的测量空间内,在此情况下坐标测量机的水平导轨至少要大于7m,这种高精度长导轨的制造是非常困难的。齿轮的测量基准要求与其设计、制造基准相一致。齿轮的设计基准一般为定位芯轴或内孔,特大型齿轮尺寸较大,用常规测量仪器找定位孔具有一定难度,造成齿轮测量基准和设计、制造基准不统一,使得仪器的测量精度难以保证。双臂式齿轮测量装置是在常规齿轮测量仪器的基础上发展而来的,其中齿轮测量中心与大型坐标测量机是常规齿轮测量中心与坐标测量机的放大版本,即测量多大的齿轮就制造相应大小的测量仪器,在测量方式上属于“以大测大”,在测量技术上没有突破。目前,世界上最大的齿轮测量中心是德国Wenzel公司的WGT4000齿轮测量中心,该仪器可测量4000mm大齿轮,最大承载重量可达30000kg。世界上最大的坐标测量机是德国Leitz公司开发的PMM-G大型三坐标量机,它是一种龙门式机构,测量范围为7000mm×4000mm×3000mm,装卸工件方便,测量精度高,可以测量齿轮种类繁多,可测量最大齿轮直径6000mm,模数0.5-100mm。测量6000mm大齿轮时,需要分段测量,最后统一进行误差评定。在常规齿轮测量中心的基础上,德国Wenzel公司研制了一种新型的双臂测量机-LAFD,其结构新颖,具有两个安装在一个花岗岩底座上的双测量臂。该仪器可以测量齿轮最大直径可达6000mm,最大承载重量为45000kg。采用常规齿轮测量技术实现特大型齿轮测量不可避免的面临超常规尺寸与重量对仪器精度造成的影响,为保证双臂式齿轮测量装置的精度,随着特大型齿轮的尺寸与重量不断增加,仪器的成本与实现难度显著增加,因此采用“以大测大”的常规齿轮测量技术实现特大型齿轮测量是不可行的。针对特大型齿轮精密测量,国内外对其进行了大量的研究。上世纪70年代瑞士MAAG公司生产了ES430齿廓测量仪,但该类仪器使用齿槽定位,该定位方式造成很大的定位误差,最终对齿廓测量结果影响较大,现在企业已经停止使用。最近几年,国外研制了利用齿顶端面定位的齿廓测量仪,但该类仪器仅使用单齿局部齿顶端面定位,定位误差较大,同时该仪器仅可测量齿廓偏差,存在较大局限性,目前仍处于实验研究阶段。德国国家物理研究院(PTB)尝试利用关节臂式坐标测量机测量特大型齿轮,并对该方法开展了一系列研究。该方法需要手动测量齿轮各特征线,同时针对不同模数与螺旋角的齿轮,需要加工不同的渐开线标尺和螺旋线标尺,实际测量中将引入较大特征线定位误差与人工随机误差,同时由于测量过程只能使用手动测量,测量效率低下。国内石照耀教授提出的特大型齿轮激光跟踪在位测量系统利用激光跟踪仪与坐标测量机的各自特点,使用激光跟踪仪大空间测量能力定位特大型齿轮与三维测量平台,以激光跟踪仪坐标系中介,实现特大型齿轮与三维测量平台之间的定位,最后使用三维测量平台按照常规齿轮测量方式实现特大型齿轮各项误差测量。特大型齿轮激光跟踪在位测量系统使用激光跟踪仪测量特大型齿轮工件坐标系,由于大空间尺寸测量过程中对于单点测量精度不敏感,其定位精度高,可以实现特大型齿轮与三维测量平台之间的精确定位。误差项的检测使用三维测量平台,其测量精度完全满足特大型齿轮的测量要求。特大型齿轮激光跟踪在位测量系统可以实现在位测量与离位测量。特大型齿轮激光跟踪在位测量应用于在位测量时,特大型齿轮固定于加工机床上,通过激光跟踪仪测量特大型齿轮与三维测量平台,实现三维测量平台与特大型齿轮之间的精确定位。该方法由于采用了激光跟踪仪,仪器价格昂贵,同时由于激光跟踪仪自身精度问题,无法实现高精度测量,限制了该类仪器的推广。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题,提供一种测量精度高、造价成本低的双臂式齿轮测量装置。本技术采用的技术方案为:一种双臂式齿轮测量装置,包括放置在被测齿轮上端面的基座,以及安装于所述基座下方的三维测量单元,所述三维测量单元的数量为两个,分别设于所述基座的前后两端;其中一个三维测量单元放置在被测齿轮的内侧区域,另一个三维测量单元放置在被测齿轮的外侧区域;在所述基座的下方还安装有两个插入被测齿轮齿槽的限位杆,所述两个限位杆分别安装在所述基座的左右两侧。作为本技术的优选实施方式,所述被测齿轮为内齿轮,所述放置在被测齿轮内侧区域的三维测量单元的测头朝向所述内齿轮的齿面,所述放置在被测齿轮外侧区域的三维测量单元的测头朝向所述内齿轮的外圆柱面。作为本技术的优选实施方式,所述被测齿轮为外齿轮,所述放置在被测齿轮内侧区域的三维测量单元的测头朝向所述外齿轮的内孔面,所述放置在被测齿轮外侧区域的三维测量单元的测头朝向所述外齿轮的齿面。作为本技术的优选实施方式,所述两个限位杆卡在所述被测齿轮齿槽内。作为本技术的优选实施方式,在所述限位杆的下端设有与被测齿轮齿面直接接触的定位球。本申请还提供了一种上述的双臂式齿轮测量装置的测量方法,将所述双臂式齿轮测量装置放置在齿轮上端面,设双臂式齿轮测量装置在齿轮上的初始位置为第一处转位,测量第一处转位的齿轮数据后,移动双臂式齿轮测量装置,设移动后的位置为第二处转位,采集第二处转位的齿轮数据,同时,双臂式齿轮测量装置在所述两个转位下,须对同一本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种双臂式齿轮测量装置,其特征在于,包括放置在被测齿轮上端面的基座,以及悬置于所述基座下方的三维测量单元,所述三维测量单元的数量为两个,分别设于所述基座的前后两端;其中一个三维测量单元放置在被测齿轮的内侧区域,另一个三维测量单元放置在被测齿轮的外侧区域;在所述基座的下方还悬置有两个插入被测齿轮齿槽的限位杆,所述两个限位杆分别安装在所述基座的左右两侧。

【技术特征摘要】
1.一种双臂式齿轮测量装置,其特征在于,包括放置在被测齿轮上端面的基座,以及悬置于所述基座下方的三维测量单元,所述三维测量单元的数量为两个,分别设于所述基座的前后两端;其中一个三维测量单元放置在被测齿轮的内侧区域,另一个三维测量单元放置在被测齿轮的外侧区域;在所述基座的下方还悬置有两个插入被测齿轮齿槽的限位杆,所述两个限位杆分别安装在所述基座的左右两侧。
2.根据权利要求1所述的双臂式齿轮测量装置,其特征在于,所述被测齿轮为内齿轮,所述放置在被测齿轮内侧区域的三维测量单元的测头朝向所述内齿轮的齿面,所述放置在被...

【专利技术属性】
技术研发人员:张白韦海成刘芳
申请(专利权)人:北方民族大学
类型:新型
国别省市:宁夏;64

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