通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件制造技术

技术编号:11551961 阅读:65 留言:0更新日期:2015-06-04 01:09
本实用新型专利技术公开了一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件,包括以Si为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Si、SiO为第二镀膜层,且所述基板设于第一镀膜层与第二镀膜层之间。本实用新型专利技术所得到的一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件,其在温度测量过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度,适合于大范围的推广和使用。该滤光敏感元件50%Cut on=4200±20nm,50%Cut on=4450±20nm,4250~4400nm,T≥88%,Tavg≥92%,1000~4000nm,4600~7000nm,T≤3%。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及红外滤光敏感元件领域,尤其是一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件
技术介绍
红外热成像仪(热成像仪或红外热成像仪)是通过非接触探测红外能量(热量),并将其转换为电信号,进而在显示器上生成热图像和温度值,并可以对温度值进行计算的一种检测设备。红外热成像仪(热成像仪或红外热成像仪)能够将探测到的热量精确量化或测量,使您不仅能够观察热图像,还能够对发热的故障区域进行准确识别和严格分析。红外热成像仪的探测器是实现红外能量(热能)转换电信号的关键,由于各种生物所发出来的红外能量(热能)是不同的,所以在日常使用中为了观察某种特定生物的热图像,人们往往会在探测器中添加红外滤光敏感元件,通过红外滤光敏感元件可以使探测器只接受特定波段的红外能量(热能),保证红外热成像仪的成像结果。但是,目前的红外滤光敏感元件,其信噪比低,精度差,不能满足市场发展的需要。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决上述技术的不足而提供一种测试精度高、能极大提高信噪比的通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件。为了达到上述目的,本技术所设计的一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件,包括以Si为原材料的基板,以Ge、S1为第一镀膜层和以S1、S1为第二镀膜层,且所述基板设于第一镀膜层与第二镀膜层之间,其特征是所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有127nm厚度的Ge层、253nm厚度的S1层、127nm厚度的Ge层、283nm厚度的S1层、109nm厚度的Ge层、260nm厚度的S1层、150nm厚度的Ge层、247nm厚度的S1层、243nm厚度的Ge层、328nm厚度的S1层、165nm厚度的Ge层、317nm厚度的S1层、128nm厚度的Ge层、609nm厚度的S1层、260nm厚度的Ge层、206nm厚度的S1层、93nm厚度的Ge层、612nm厚度的S1层、265nm厚度的Ge层、1073nm厚度的S1层、335nm厚度的Ge层、88Inm厚度的S1层、393nm厚度的Ge层、860nm厚度的S1层、408nm厚度的Ge层、438nm厚度的S1层;所述的第二镀膜层由内向外依次排列包含有106nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、2500nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、572nm厚度的S1层、326nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的S1层、369nm厚度的Si层、499nm厚度的S1层、300nm厚度的Si层、731nm厚度的S1层。上述各材料对应的厚度,其允许在公差范围内变化,其变化的范围属于本专利保护的范围,为等同关系。通常厚度的公差在1nm左右。本技术所得到的一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件,其在温度测量过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度,适合于大范围的推广和使用。该滤光敏感元件 50% Cut on=4200±20nm,50% Cut on=4450±20nm,4250 ?4400nm,T 彡 88%,Tavg ^ 92%,1000 ?4000nm,4600 ?7000nm,T 3%。【附图说明】图1是实施例整体结构示意图。图2是实施例提供的红外光谱透过率实测曲线图。图中:第一镀膜层1、基板2、第二镀膜层3。【具体实施方式】下面通过实施例结合附图对本技术作进一步的描述。实施例1。如图1、图2所示,本实施例描述的一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件,包括以Si为原材料的基板2,以Ge、S1为第一镀膜层I和以S1、S1为第二镀膜层3,且所述基板2设于第一镀膜层I与第二镀膜层3之间,所述第一镀膜层I由内向外依次排列包含有127nm厚度的Ge层、253nm厚度的S1层、127nm厚度的Ge层、283nm厚度的S1层、109nm厚度的Ge层、260nm厚度的S1层、150nm厚度的Ge层、247nm厚度的S1层、243nm厚度的Ge层、328nm厚度的S1层、165nm厚度的Ge层、317nm厚度的S1层、128nm厚度的Ge层、609nm厚度的S1层、260nm厚度的Ge层、206nm厚度的S1层、93nm厚度的Ge层、612nm厚度的S1层、265nm厚度的Ge层、1073nm厚度的S1层、335nm厚度的Ge层、88Inm厚度的S1层、393nm厚度的Ge层、860nm厚度的S1层、408nm厚度的Ge层、438nm厚度的S1层;所述的第二镀膜层3由内向外依次排列包含有106nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、2500nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、572nm厚度的S1层、326nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的S1层、369nm厚度的Si层、499nm厚度的S1层、300nm厚度的Si层、731nm厚度的S1层。【主权项】1.一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件,包括以Si为原材料的基板(2),以Ge、S1为第一镀膜层(I)和以S1、S1为第二镀膜层(3),且所述基板(2)设于第一镀膜层(I)与第二镀膜层(3)之间,其特征是所述第一镀膜层(I)由内向外依次排列包含有127nm厚度的Ge层、253nm厚度的S1层、127nm厚度的Ge层、283nm厚度的S1层、109nm厚度的Ge层、260nm厚度的S1层、150nm厚度的Ge层、247nm厚度的S1层、243nm厚度的Ge层、328nm厚度的S1层、165nm厚度的Ge层、317nm厚度的S1层、128nm厚度的Ge层、609nm厚度的S1层、260nm厚度的Ge层、206nm厚度的S1层、93nm厚度的Ge层、612nm厚度的S1层、265nm厚度的Ge层、1073nm厚度的S1层、335nm厚度的Ge层、881nm厚度的S1层、393nm厚度的Ge层、860nm厚度的S1层、408nm厚度的Ge层、438nm厚度的S1层;所述的第二镀膜层(3)由内向外依次排列包含有106nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、2500nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、572nm厚度的S1层、326nm厚度的Si层、622nm厚度的S1层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的S1层、369nm厚度的Si层、499nm厚度的S1层、300nm厚度的Si层、731nm厚度的S1层。【专利摘要】本技术公开了一种通过带为4200-4450nm的红外滤光敏感元件,包括以Si为原材料的基板,以Ge、SiO为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通过带为4200‑4450nm的红外滤光敏感元件,包括以Si为原材料的基板(2),以Ge、SiO为第一镀膜层(1)和以Si、SiO为第二镀膜层(3),且所述基板(2)设于第一镀膜层(1)与第二镀膜层(3)之间,其特征是所述第一镀膜层(1)由内向外依次排列包含有127nm厚度的Ge层、253nm厚度的SiO层、127nm厚度的Ge层、283nm厚度的SiO层、109nm厚度的Ge层、260nm厚度的SiO层、150nm厚度的Ge层、247nm厚度的SiO层、243nm厚度的Ge层、328nm厚度的SiO层、165nm厚度的Ge层、317nm厚度的SiO层、128nm厚度的Ge层、609nm厚度的SiO层、260nm厚度的Ge层、206nm厚度的SiO层、93nm厚度的Ge层、612nm厚度的SiO层、265nm厚度的Ge层、1073nm厚度的SiO层、335nm厚度的Ge层、881nm厚度的SiO层、393nm厚度的Ge层、860nm厚度的SiO层、408nm厚度的Ge层、438nm厚度的SiO层;所述的第二镀膜层(3)由内向外依次排列包含有106nm厚度的Si层、622nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、622nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、2500nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、572nm厚度的SiO层、326nm厚度的Si层、622nm厚度的SiO层、316nm厚度的Si层、1245nm厚度的SiO层、369nm厚度的Si层、499nm厚度的SiO层、300nm厚度的Si层、731nm厚度的SiO层。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王继平胡伟琴吕晶
申请(专利权)人:杭州麦乐克电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:浙江;33

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