一种新型LTE终端综合测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种新型LTE终端综合测试仪，它包括射频发送接收模块、基带处理模块、时钟产生模块、主控控制模块和用户接口模块，所述的射频发射接收模块与基带处理模块连接，基带处理模块与主控控制模块连接，主控控制模块与用户接口模块连接，主控控制模块还与时钟产生模块连接；所述的基带处理模块包括第一DSP、第二DSP、第一FPGA和第二FPGA，所述的第一DSP的AIF2接口与射频发送接收模块连接，第一DSP的AIF2接口还与第一FPGA的GTX接口连接。本实用新型专利技术的一种LTE终端综合测试仪，具有数据处理效果优秀、实现双天线收发同步的优点，尤其是对于数据多的情况下，采用双DSP和双FPGA的处理模式，使得数据处理的能力更强。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种新型LTE终端综合测试仪。
技术介绍
LTE (Long Term Evolut1n,长期演进)是由 3GPP (The 3rd Generat1nPartnership Pro ject，第三代合作伙伴计划)组织制定的UMTS (Universal MobileTelecommunicat1ns System，通用移动通信系统)技术标准的长期演进，是移动通信技术向第四代演进的基础。LTE系统引入了 OFDM (Orthogonal Frequency Divis1nMultiplexing，正交频分复用)和 MIMO (Mult1-1nput & Mult1-Output，多输入多输出)等关键传输技术，显著增加了频谱效率和数据传输速率(20M带宽2X2MM0在64QAM情况下，理论下行最大传输速率为201Mbps，除去信令开销后大概为140Mbps，但根据实际组网以及终端能力限制，一般认为下行峰值速率为100Mbps，上行为50Mbps)，并支持多种带宽分配:1.4MHz，3MHz，5MHz，1MHz, 15MHz和20MHz等，且支持全球主流2G/3G频段和一些新增频段，因而频谱分配更加灵活，系统容量和覆盖也显著提升。LTE系统网络架构更加扁平化简单化，减少了网络节点和系统复杂度，从而减小了系统时延，也降低了网络部署和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。LTE系统有两种制式:FDD_LTE和TDD-LTE，即频分双工LTE系统和时分双工LTE系统，二者技术的主要区别在于空中接口的物理层上(像帧结构、时分设计、同步等)。FDD-LTE系统空口上下行传输采用一对对称的频段接收和发送数据，而TDD-LTE系统上下行则使用相同的频段在不同的时隙上传输，相对于FDD双工方式，TDD有着较高的频谱利用率。随着LTE网络在全球的大规模建设，LTE网络优化和故障处理测试终端的需求越来越大，LTE终端综合测试仪的需求也愈专利技术显。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种对基带数据处理能力强的新型LTE终端综合测试仪。本技术的目的是通过以下技术方案来实现的:一种新型LTE终端综合测试仪，它包括射频发送接收模块、基带处理模块、时钟产生模块、主控控制模块和用户接口模块，所述的射频发射接收模块与基带处理模块连接，基带处理模块与主控控制模块连接，主控控制模块与用户接口模块连接，主控控制模块还与时钟产生模块连接。所述的基带处理模块包括第一 DSP、第二 DSP、第一 FPGA和第二 FPGA ;所述的第一 DSP的AIF2接口与射频发送接收模块连接，第一 DSP的AIF2接口还与第一 FPGA的GTX接口连接，第一 DSP的PCIe*2接口通过PCIe Switch与主控控制模块连接，第一 DSP分别通过HyperLink接口、SR1接口、JTAG接口、SGMII接口与第二 DSP连接，第一 DSP还分别通过GP1接口、专用配置接口、状态标示接口与第一 FPGA连接；所述的第二 DSP依次通过SGMII接口、千兆以太网芯片与RJ-45接口连接，第二 DSP还分别通过GP1接口、配置管脚与第一 FPGA连接，第二 DSP还分别通过PI接口、纯并行接口的传递管脚与第二 FPGA连接；所述的第二 FPGA通过实现SELECTMAP的控制管脚与第一 FPGA连接；所述的第一 FPGA与PCIe Switch的控制管脚连接，第一 FPGA还与千兆以太网芯片的配置信号连接。AIF2接口为高速串行接口。所述的第一 DSP的型号为TMS320C6670，所述的第二 DSP的型号为TMS320C6670，所述的第一 FPGA的型号为XC6VLX75T，所述的第二 FPGA的型号为XC3S200AN。所述的PCIe Switch的型号为PEX8617，所述的千兆以太网芯片的型号为88E1111。本技术的有益效果是:本技术的一种LTE终端综合测试仪，具有数据处理效果优秀、实现双天线收发同步的优点，尤其是对于数据多的情况下，采用双DSP和双FPGA的处理模式，使得数据处理的能力更强。【附图说明】图1为本技术结构示意图；图2为基带处理模块结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图进一步详细描述本技术的技术方案，但本技术的保护范围不局限于以下所述。如图1所示，一种新型LTE终端综合测试仪，它包括射频发送接收模块、基带处理模块、时钟产生模块、主控控制模块和用户接口模块，所述的射频发射接收模块与基带处理模块连接，基带处理模块与主控控制模块连接，主控控制模块与用户接口模块连接，主控控制模块还与时钟产生模块连接。由于LTE的高数据速率，需要高性能的FPGA与DSP完成高速率的数据传输，因此高速传输显得尤为重要。射频模块中实现双天线数据的收发与筛选、数字上下变频、可变速率数据处理、IQ幅度不平衡、功率与直流补偿、射频模拟滤波器补偿等。其中可变速率数据处理模块为基带处理提供了更强大的接口处理能力，同时在设计与FPGA实现两方面都极大地降低了所需硬件资源。而补偿算法则大大地弥补了模拟器件的差异性。主控控制模块实现各模块时钟分配、测量控制及输入输出控制。用户接口模块实现用户任务控制、数据接受、处理、分析、显示等功能。如图2所示，所述的基带处理模块包括第一 DSP、第二 DSP、第一 FPGA和第二 FPGA ；所述的第一 DSP的AIF2接口与射频发送接收模块连接，第一 DSP的AIF2接口还与第一 FPGA的GTX接口连接，第一 DSP的PCIe*2接口通过PCIe Switch与主控控制模块连接，第一 DSP分别通过HyperLink接口、SR1接口、JTAG接口、SGMII接口与第二 DSP连接，第一 DSP还分别通过GP1接口、专用配置接口、状态标示接口与第一 FPGA连接；所述的第二 DSP依次通过SGMII接口、千兆以太网芯片与RJ-45接口连接，第二 DSP还分别通过GP1接口、配置管脚与第一 FPGA连接，第二 DSP还分别通过PI接口、纯并行接口的传递管脚与第二 FPGA连接；所述的第二 FPGA通过实现S当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型LTE终端综合测试仪，其特征在于：它包括射频发送接收模块、基带处理模块、时钟产生模块、主控控制模块和用户接口模块，所述的射频发射接收模块与基带处理模块连接，基带处理模块与主控控制模块连接，主控控制模块与用户接口模块连接，主控控制模块还与时钟产生模块连接；所述的基带处理模块包括第一DSP、第二DSP、第一FPGA和第二FPGA；所述的第一DSP的AIF2接口与射频发送接收模块连接，第一DSP的AIF2接口还与第一FPGA的GTX接口连接，第一DSP的PCIe*2接口通过PCIe Switch与主控控制模块连接，第一DSP分别通过HyperLink接口、SRIO接口、JTAG接口、SGMII接口与第二DSP连接，第一DSP还分别通过GPIO接口、专用配置接口、状态标示接口与第一FPGA连接；所述的第二DSP依次通过SGMII接口、千兆以太网芯片与RJ‑45接口连接，第二DSP还分别通过GPIO接口、配置管脚与第一FPGA连接，第二DSP还分别通过PI接口、纯并行接口的传递管脚与第二FPGA连接；所述的第二FPGA通过实现SELECTMAP的控制管脚与第一FPGA连接；所述的第一FPGA与PCIe Switch的控制管脚连接，第一FPGA还与千兆以太网芯片的配置信号连接。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：时维勇，
申请(专利权)人：成都贝尔通讯实业有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51