【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种光学元件高温环境下抗激光损伤阈值的测试装置，包括激光光源(101)，沿激光光源(101)的输出光路方向依次是第一反射镜(102)、能量衰减器(103)、第二反射镜(104)、光束分束器(105)、聚焦凸透镜(106)、三维移动平台(107)，在所述的光束分束器(105)反射光方向是能量探测器(108)，该能量探测器(108)和CCD探测器(109)的输出端和计算机(110)的第一输入端相连，所述的计算机(110)的第一输出端与所述的三维移动平台(107)的控制端相连，其特征在于，所述的三维移动平台(107)上设有支撑底板(209)，在该支撑底板(209)上设有高温箱和箱体外光学元件样品调节架(207)及其滑动导向槽(212)，箱体外光学元件样品调节架(207)在高温箱支撑底板(209)的滑动导向槽(212)内部前后移动，调节高温箱体外用于光斑测试的光学元件样品调节架(207)上的光学元件的前表面位置与测试光学元件支撑架(206)上测试光学元件的前表面位置处于同一平面内；所述的高温箱包括加热板(201)、箱体保温材料(202)、外壳(203)、被测试样品夹持固定筒的插入口(219)、...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：齐红基，王虎，崔岩岩，胡国行，王斌，刘有臣，易葵，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31
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