快速获得免冲洗验证胶片剂量响应曲线的装置制造方法及图纸

技术编号:11431869 阅读:78 留言:0更新日期:2015-05-07 19:12
本实用新型专利技术属于离子束点扫描照射技术中一种快速获得放射显影免冲洗验证胶片剂量响应曲线的装置。一种快速获得免冲洗验证胶片剂量响应曲线的装置,其主要特点在于在束流线上分别依次设有X向扫描磁铁、Y向扫描磁铁、准直器、参考监测电离室、位置灵敏探测器;笔形束在束流线上依次通过X向扫描磁铁、Y向扫描磁铁、准直器的准直孔、参考监测电离室,在等中心处获得正高斯分布的笔形束流。本实用新型专利技术的优点是:(1)采用本实用新型专利技术提供的免冲洗验证胶片剂量刻度装置,可以减少操作人员的测量准备工作、减少束流使用时间及后续胶片数据处理时间。(2)理论上在高斯笔形束横向剂量分布及免冲洗验证胶片光密度分布上可以获得无穷多个数据点,因此可以选取更多的数据进行数据拟合获得更准确的胶片剂量响应曲线。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于离子束点扫描照射技术中一种快速获得放射显影免冲洗验证胶 片剂量响应曲线的装置。
技术介绍
在离子束应用(如辐射生物学实验、材料物理、放射治疗等)中,常常涉及到对离 子束辐射场特性的测量,如辐射场剂量均匀性或剂量分布测量。利用电离室矩阵可以对这 些特性进行直接测量,但是电离室矩阵空间分辨率低,难以满足测量离子束束斑或剂量梯 度较大的照射野剂量分布的要求。放射显影胶片测量照射野的剂量分布具有空间分辨率高 的优点,特别是免冲洗验证胶片的出现,使得利用胶片测量的方法变得更加简便。与传统显 影胶片相比,免冲洗验证胶片不需要使用化学试剂进行显影和定影,可以在可见光下操作, 减少了人为干预过程,减小了测量误差。并且,免冲洗验证胶片可切割成若干小块分别进行 照射显影,提高了胶片的有效利用率。此外,免冲洗验证胶片具有防水性,可放置在水箱中, 同时测量不同深度处的照射野特性。鉴于上述众多优点,免冲洗验证胶片在辐射剂量测量 方面的应用越来越广泛。然而,利用免冲洗验证胶片测量辐射场特性,首先需要对胶片进行 剂量刻度实验,获得胶片光密度(或灰度)变化与辐照剂量的关系,即剂量响应曲线。 在常规X射线调强放射治疗中,一般需要对治疗计划系统计算获得的剂量分布进 行实验验证,以评估治疗计划的可行性。在离子束点扫描束流配送中,同样需要对各照射野 的剂量分布进行测量。为保证测量剂量分布的空间分辨率,目前在验证测量中通常利用放 射显影免冲洗验证胶片法测量各照射野的剂量分布。通过专门的软件将免冲洗验证胶片的 灰度变化转换成剂量分布测量值,并与计划系统计算得到的剂量分布进行比较计算γ通 过率,以评估治疗计划的可行性。采用免冲洗验证胶片测量剂量分布前,通常需要预先测量 获得相应批次的胶片剂量响应曲线。目前,此预实验的常规方法简要操作步骤如下: 1)利用专业扫描仪(如,EPSON 10000XL)扫描一整张免冲洗验证胶片,获得红光 通道像素值分布并计算像素平均值; 2)将整张免冲洗验证胶片切割成若干个小块,利用均匀辐照场对每小块免冲洗验 证胶片分别照射不同的剂量D ; 3)再次利用扫描仪获得照射后的各个小块免冲洗验证胶片红光通道平均像素值 PVirr ; 4)利用公式(Al)计算各个小块免冲洗验证胶片的净光密度值,【主权项】1. 一种快速获得免冲洗验证胶片剂量响应曲线的装置,其特征在于在束流线上分别依 次设有X向扫描磁铁、Y向扫描磁铁、准直器、参考监测电离室、位置灵敏探测器;笔形束在 束流线上依次通过X向扫描磁铁、Y向扫描磁铁、准直器的准直孔、参考监测电离室,在等中 心处获得正高斯分布的笔形束流。2. 如权利要求1所述的快速获得免冲洗验证胶片剂量响应曲线的装置,其特征在于所 述的位置灵敏探测器为高分辨的多丝正比室、分条电离室或二维电离室矩阵。【专利摘要】本技术属于离子束点扫描照射技术中一种快速获得放射显影免冲洗验证胶片剂量响应曲线的装置。一种快速获得免冲洗验证胶片剂量响应曲线的装置,其主要特点在于在束流线上分别依次设有X向扫描磁铁、Y向扫描磁铁、准直器、参考监测电离室、位置灵敏探测器;笔形束在束流线上依次通过X向扫描磁铁、Y向扫描磁铁、准直器的准直孔、参考监测电离室,在等中心处获得正高斯分布的笔形束流。本技术的优点是:(1)采用本技术提供的免冲洗验证胶片剂量刻度装置,可以减少操作人员的测量准备工作、减少束流使用时间及后续胶片数据处理时间。(2)理论上在高斯笔形束横向剂量分布及免冲洗验证胶片光密度分布上可以获得无穷多个数据点,因此可以选取更多的数据进行数据拟合获得更准确的胶片剂量响应曲线。【IPC分类】G01T1-29【公开号】CN204314473【申请号】CN201420764511【专利技术人】刘新国, 李强, 贺鹏博, 戴中颖, 黄齐艳, 闫渊林, 马园园, 申国盛, 付廷岩, 肖国青 【申请人】中国科学院近代物理研究所【公开日】2015年5月6日【申请日】2014年12月5日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种快速获得免冲洗验证胶片剂量响应曲线的装置,其特征在于在束流线上分别依次设有X向扫描磁铁、Y向扫描磁铁、准直器、参考监测电离室、位置灵敏探测器;笔形束在束流线上依次通过X向扫描磁铁、Y向扫描磁铁、准直器的准直孔、参考监测电离室,在等中心处获得正高斯分布的笔形束流。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘新国李强贺鹏博戴中颖黄齐艳闫渊林马园园申国盛付廷岩肖国青
申请(专利权)人:中国科学院近代物理研究所
类型:新型
国别省市:甘肃;62

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