液体测温系统技术方案

本发明专利技术提供了一种液体测温系统。包括光学测量系统、气源控制器、光谱测温仪、数据记录仪和大屏显示器，所述光学测量系统包括金属光学筒、测量窗口和光学镜头，所述金属光学筒的一端用于插入需要测温的液体中，另一端通过测量窗口与所述光学镜头连接，所述气源控制器通过控制阀与所述金属光学筒中段上设置的气孔气密连通，用于对所述金属光学筒内部进行气体吹扫，所述光学测量系统的后部连接有所述光谱测温仪、所述数据记录仪和所述大屏显示器，用于对测量所得的数据进行记录和显示。本发明专利技术融合接触式测温高精度和非接触测温高响应的优点。不仅可以弥补现有在线式测温系统中因保护管壁厚导致的响应速度慢的弊端，同时具备高精度和高响应的特点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种液体测温系统。包括光学测量系统、气源控制器、光谱测温仪、数据记录仪和大屏显示器，所述光学测量系统包括金属光学筒、测量窗口和光学镜头，所述金属光学筒的一端用于插入需要测温的液体中，另一端通过测量窗口与所述光学镜头连接，所述气源控制器通过控制阀与所述金属光学筒中段上设置的气孔气密连通，用于对所述金属光学筒内部进行气体吹扫，所述光学测量系统的后部连接有所述光谱测温仪、所述数据记录仪和所述大屏显示器，用于对测量所得的数据进行记录和显示。本专利技术融合接触式测温高精度和非接触测温高响应的优点。不仅可以弥补现有在线式测温系统中因保护管壁厚导致的响应速度慢的弊端，同时具备高精度和高响应的特点。【专利说明】液体测温系统
本专利技术涉及液体测温系统，尤其涉及能够对高温或腐蚀性液体进行在线测温的液体测温系统。
技术介绍
光谱测温仪是以黑体辐射理论(普朗克定律:单位面积黑体在半球方向发射的辐射通量E是波长和黑体温度函数)为依据，采用的是综合型测温方法。它是由探测管和光谱测温仪两部分组成，可用来测量各类高温炉和熔液内部的实际温度，不受环境污染以及目标黑本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液体测温系统，其特征在于：包括光学测量系统、气源控制器、光谱测温仪、数据记录仪和大屏显示器，所述光学测量系统包括金属光学筒、测量窗口和光学镜头，所述金属光学筒的一端用于插入需要测温的液体中，另一端通过测量窗口与所述光学镜头连接，所述气源控制器通过控制阀与所述金属光学筒中段上设置的气孔气密连通，用于对所述金属光学筒内部进行气体吹扫，所述光学测量系统的后部连接有所述光谱测温仪、所述数据记录仪和所述大屏显示器，用于对测量所得的数据进行记录和显示。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡捷伟，
申请(专利权)人：中国航天空气动力技术研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11