平行光管装校方法技术

本发明专利技术提供了一种平行光管装校方法，该方法包括以下步骤：S1、安装平行光管并进行初调；S2、判断步骤S1安装并初调后的平行光管是否满足预设的设计指标要求；S3、根据步骤S2的判断结果，若平行光管不符合预设的设计指标要求，获取平行光管中各光学部件的失调量值并根据失调量值再次调试平行光管；若平行光管符合预设的设计指标要求，结束装校操作。采用本发明专利技术的平行光管装校方法能够实现平行光管的快速准确装校，克服了传统装校方法随机性强、装校周期长等缺点，并且能够显著提高平行光管的装校精度，减小准直光束的不平行度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种，该方法包括以下步骤：S1、安装平行光管并进行初调；S2、判断步骤S1安装并初调后的平行光管是否满足预设的设计指标要求；S3、根据步骤S2的判断结果，若平行光管不符合预设的设计指标要求，获取平行光管中各光学部件的失调量值并根据失调量值再次调试平行光管；若平行光管符合预设的设计指标要求，结束装校操作。采用本专利技术的能够实现平行光管的快速准确装校，克服了传统装校方法随机性强、装校周期长等缺点，并且能够显著提高平行光管的装校精度，减小准直光束的不平行度。【专利说明】
本专利技术设及光学测试设备装校领域，特别设及一种。
技术介绍
伴随着航天技术的迅速发展，武器系统及空天飞行器中逐渐采用高精度的星敏感 器作为导航装置，并且用到的红外导引头制导精度也越来越高。标定是星敏感器及红外导 引头的研制过程中必不可少的一项处理，该过程通常在地面实验室中进行，作为其中最常 采用的标定设备，平行光管的作用就显得尤为重要。而现有的平行光管仅能满足中等精度 星敏感器的地面标定，若想满足更高精度星敏感器的标定需求，就需要大幅提升平行光管 的精度。现有的光学元件的精度就现有的加工条件已经达到峰值，因而在光学元件加工精 度尚无优化空间的前提下，如何从平行光管的装校工艺入手，W提升平行光管的精度从而 保证星敏感器及导引头的标定精度就成为关键。目前采用的传统的平行光管装校工艺，仅 能够依靠操作人员的装校经验进行，存在装校周期长、随机性大、装校精度低等缺点。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能够快速、准确实现平行光管的装校的平行光管装校 方法。 为解决上述问题，本专利技术提出一种，该方法包括W下步骤： S1、安装平行光管并进行初调； S2、判断步骤S1安装并初调后的所述平行光管是否满足预设的设计指标要求； S3、根据步骤S2的判断结果， [000引若所述平行光管不符合预设的设计指标要求，获取所述平行光管中各光学部件的 失调量值并根据所述失调量值再次调试所述平行光管； 若所述平行光管符合预设的设计指标要求，结束装校操作； 其中，步骤S2中预设的设计指标要求根据需求精度、测试产品等因素的不同而不 同，使用人员可根据实际需要进行设置，在此不一一列举。 优选的，步骤S1中的所述初调包括对所述平行光管的光轴进行对准装校W及对 所述平行光管的理想焦面位置进行调整W保证所述平行光管满足测量其波像差的条件。 优选的，步骤S2包括W下步骤： S21、获取所述平行光管的波像差； S22、求得步骤S21中得到的所述波像差与理论值之间的偏差值； S23、根据步骤S22求得的所述偏差值得出安装并初调后的所述平行光管是否符 合预设的设计指标要求的结论， 其中，步骤S22中的理论值为在仿真设计中得到的波像差的理想值。 优选的，步骤S21中，所述平行光管的波像差由激光干设仪测量得到，所述激光干 设仪置于所述平行光管焦面处。 优选的，步骤S22中所述波像差采用Zernike多项式形式表示。 优选的，步骤S3中所述"获取所述平行光管中各光学部件的失调量值并根据所述 失调量值再次调试所述平行光管"包括W下步骤： S31、获取波像差值与平行光管各元件的失调量值的等量关系； S32、根据步骤S22求得的所述波像差与理论值之间的偏差值W及步骤S31中获取 的所述波像差值与平行光管各元件的失调量值的等量关系得出平行光管各元件的失调量 值； S33、根据步骤S32获得的所述平行光管各元件的失调量值调整平行光管的各元 件。 优选的，步骤S31包括W下步骤： S311、给平行光管各元件的位置结构参数设置一增量； S312、获取步骤S311所述增量导致的像差变量； S313、将步骤S313中获取的所述像差变量与步骤S311中获取的所述增量作商并 由此建立平行光管的灵敏度矩阵； S314、由步骤S313中获得的所述平行光管的灵敏度矩阵得出波像差值与平行光 管各元件的失调量值的等量关系。 [002引采用本专利技术的能够实现平行光管的快速准确装校，克服了传统 装校方法随机性强、装校周期长等缺点，并且能够显著提高平行光管的装校精度，减小准直 光束的不平行度。 【专利附图】【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可W 根据该些附图获得其他的附图。 图1为本专利技术的的流程图。 图2为图1中步骤S2的流程图。 图3为图1中步骤S3的流程图。 图4为图3中步骤S31的流程图。 图5为本专利技术的实施例1中光路测量布局图。 图6为本专利技术的实施例1中平行光管装校流程图。 图7为图6中步骤Sa'的流程图。 【具体实施方式】 下面参照附图来说明本专利技术的实施例。在本专利技术的一个附图或一种实施方式中描 述的元素和特征可W与一个或者更多个其他附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。 应当注意，为了清楚目的，附图和说明中省略了与本专利技术无关的、本领域普通技术人员已知 的部件和处理的表示和描述。 [003引如图1所示，为本专利技术的的流程图，包括W下步骤： SI、安装平行光管并进行初调； S2、判断步骤S1安装并初调后的平行光管是否满足预设的设计指标要求； S3、根据步骤S2的判断结果， 若平行光管不符合预设的设计指标要求，获取平行光管中各光学部件的失调量值 并根据失调量值再次调试平行光管； 若平行光管符合预设的设计指标要求，结束装校操作； 其中，步骤S2中预设的设计指标要求根据需求精度、测试产品等因素的不同而不 同，使用人员可根据实际需要进行设置，在此不一一列举。 上述的初调包括对平行光管的光轴进行对准装校W及对平行光管的理想焦面位 置进行调整W保证平行光管满足测量其波像差的条件。 如图2所示，图1中的步骤S2包括W下步骤： S21、获取平行光管的波像差； S22、求得步骤S21中得到的波像差与理论值之间的偏差值； S23、根据步骤S22求得的偏差值得出安装并初调后的平行光管是否符合预设的 设计指标要求的结论， 上述步骤S21中，平行光管的波像差由激光干设仪测量得到，激光干设仪置于平 行光管焦面处。 步骤S22中波像差采用Zernike多项式形式表示，且该步骤中的理论值为在仿真 设计中得到的波像差的理想值。 如图3所示，图1中的步骤S3中"获取所述平行光管中各光学部件的失调量值并 根据失调量值再次调试平行光管"包括W下步骤： S31、获取波像差值与平行光管各元件的失调量值的等量关系； S32、根据步骤S22求得的波像差与理论值之间的偏差值W及步骤S31中获取的波 像差值与平行光管各元件的失调量值的等量关系得出平行光管各元件的失调量值； S33、根据步骤S32获得的平行光管各元件的失调量值调整平行光管的各元件。 如图4所示，图3中的步骤S31包括W下步骤： S31本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平行光管装校方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、安装平行光管并进行初调；S2、判断步骤S1安装并初调后的所述平行光管是否满足预设的设计指标要求；S3、根据步骤S2的判断结果，若所述平行光管不符合预设的设计指标要求，获取所述平行光管中各光学部件的失调量值并根据所述失调量值再次调试所述平行光管；若所述平行光管符合预设的设计指标要求，结束装校操作。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙广尉，任小婉，
申请(专利权)人：北京振兴计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11