本发明专利技术提供了一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置，包括螺杆，螺杆下部外侧设有屏蔽外罩，轴承固定在螺杆上，压力传感器连接在轴承上；上屏蔽腔体与屏蔽外罩底部连接，下屏蔽腔体与上屏蔽腔体固定，上、下屏蔽腔体之间的屏蔽腔内设有上、下金属压接片，上金属压接片与压力传感器连接；待测试的电磁屏蔽材料设于上、下金属压接片之间，固定在上屏蔽腔体上的上测试探针通过电缆与转接头连接，转接头另一端通过电缆与用于读取射频阻抗值的测试仪器连接，测试仪器通过电缆与下测试探针连接，下测试探针穿透下金属压接片与上金属压接片接触。本装置能实时监控不同的压缩量对应下的电磁屏蔽材料搭接射频阻抗，适用性高，且操作方便。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置，主要用于测试电磁屏蔽材料在30～1000MHz的射频搭接阻抗，能通过矢量网络分析仪实时知道被测物体的射频搭接阻抗，而且能反映电磁屏蔽材料在不同的压缩量时不同的射频阻抗，属于电磁兼容设计
技术介绍
现在市场上对电磁屏蔽导电材料，如导电泡棉、导电衬垫、金属簧片等，进行阻抗测试时，都是采用万用表，测得的结果为直流阻抗，并没有考虑不同频率情况下的阻抗。在产品进行电磁兼容设计或整改过程中所用到的电磁屏蔽导电材料进行射频阻抗测试时，电磁屏蔽导电材料在实际整改应用中会经常出现供货商提供材料用万用表量测时阻抗良好，而导入到产品中时却出现问题，在设计阶段也会出现产品设计时使用电磁屏蔽导电材料，可以设计出所需的理想射频阻抗，而加工生产时却没有办法测得材料的射频阻抗，以及在多少压缩量的情况下屏蔽材料才能符合射频阻抗要求。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种能实时监控不同的压缩量对应下的电磁屏蔽材料搭接射频阻抗的测试装置。为了解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是提供一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置，其特征在于：包括螺杆，螺杆顶部设有旋转手柄，螺杆下部外侧设有屏蔽外罩，轴承固定在螺杆上且设于屏蔽外罩内侧，压力传感器连接在轴承上；上屏蔽腔体与屏蔽外罩底部连接，下屏蔽腔体与上屏蔽腔体固定，上、下屏蔽腔体之间的屏蔽腔内设有上金属压接片和下金属压接片，上金属压接片通过塑料连接轴与压力传感器连接；待测试的电磁屏蔽材料设于上、下金属压接片之间，固定在上屏蔽腔体上的上测试探针通过电缆与固定在屏蔽外罩上的转接头连接，转接头另一端通过电缆与用于读取射频阻抗值的测试仪器连接，测试仪器通过电缆与下测试探针连接，下测试探针穿透下金属压接片与上金属压接片接触。优选地，所述螺杆上设有用于观察位移量的标尺。优选地，所述螺杆上设有用于防止所述旋转手柄无限往下旋的下限位块。优选地，所述螺杆与屏蔽外罩之间设有用于限制螺杆活动区域的螺杆固定块。优选地，所述屏蔽外罩上设有手把。优选地，所述下屏蔽腔体通过搭扣与上屏蔽腔体固定。优选地，所述上、下金属压接片的材质为铜。优选地，所述下屏蔽腔体底部设有下探针固定装置，所述下测试探针设于下探针固定装置上。优选地，所述塑料连接轴穿过所述上屏蔽腔体与所述压力传感器连接。优选地，所述下屏蔽腔体底部设有支撑脚。本专利技术使用时，上、下屏蔽腔体要完全搭接以形成低阻抗电气搭接，把待测物电磁屏蔽材料放置在下金属压接片上，测试仪器输出电信号通过同轴电缆与下测试探针连接，下测试探针穿透下金属压接片，旋转手柄使得上金属压接片与下测试探针及电磁屏蔽材料接触，并通过压力使得电磁屏蔽导电材料产生位移，以此产生电磁屏蔽材料与金属压接片上的射频搭接阻抗，通过测试仪器读取信号即可得射频搭接阻抗。与现有技术相比，本专利技术提供的电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置具有如下有益效果：1、本装置采用的屏蔽外罩、上屏蔽腔体、下屏蔽腔体为金属材质，且一体成型，能很好的屏蔽外界干扰，使得测试装置更容易实现在苛刻的存在电磁环境下测试，无需昂贵的屏蔽室内测试，大大提高了适用性。2、本装置采用了标尺、压力传感器双重技术，确保实时监控不同的压缩量对应下的电磁屏蔽材料搭接射频阻抗。3、装置中采用了防错设计，如下限位块、轴承、导销。下限位块保证了人员误操作也不会导致上测试探针的损坏。在轴承旁设计安装有连接滑竿，保证不会晃动。屏蔽外罩与上屏蔽腔体、上屏蔽腔体与下屏蔽腔体之间设有导销，保证安装时不会摆放错位置，以及实现更好的对整齐。4、本装置使用的上金、下金属压接片能更换不同材质，以模拟实际中的使用情况。如需更换电磁屏蔽材料，如采用电动吊起装置，只需把上屏蔽腔体与下屏蔽腔体固定的搭扣松开，吊起屏蔽外罩上的旋转手柄即可方便更换。附图说明图1为电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置结构示意图；图2为电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置实际测试电气示意图。具体实施方式为使本专利技术更明显易懂，兹以一优选实施例，并配合附图作详细说明如下。图1为本专利技术提供的电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置结构示意图，所述的电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置包括旋转手柄1，螺杆3与旋转手柄1固定在一起，标尺2粘在螺杆3上，以便观察位移量，下限位块通过螺丝固定在螺杆3上，位置可调。螺杆3下部外侧设有屏蔽外罩10，屏蔽外罩10能屏蔽外界空间的电磁干扰。螺杆固定块5带螺纹，且与屏蔽外罩10连接，起到限制螺杆3活动区域的作用。手把6是焊接在屏蔽外罩10上，更换电磁屏蔽导电材料时只需提起手把6即可。轴承7通过螺牙固定在螺杆3上，轴承7位于屏蔽外罩10内侧，在轴承7旁设计安装有连接滑竿，保证不会晃动。压力传感器9连接在轴承7上，塑料连接轴11开螺纹固定在压力传感器9上，上金属压接片15通过沉头螺钉固定在塑料连接轴11上，因此旋转手柄1旋转时，上金属压接片15会随之或向上或向下运动，上屏蔽腔体12通过螺钉与屏蔽外罩10底部连接，下屏蔽腔体13通过搭扣与上屏蔽腔体12固定，上测试探针14固定在上屏蔽腔体12上，下限位块能防止旋转手柄1无限往下旋，保护测试探针。上测试探针14通过同轴电缆与固定在屏蔽外罩10上的SMA型转接头8连接，SMA型转接头8另一端通过同轴电缆与测试仪器矢量网络分析仪连接读取信号即可得搭接阻抗，当然前提还需要测试仪器发射信号通过同轴电缆与下测试探针17连接，下测试探针17安装在下探针固定装置18上，下探针固定装置18设于下屏蔽腔体13底部，下金属压接片16设于下屏蔽腔体13上，下测试探针17的探针头要穿透下金属压接片16，测试时要与上金属压接片15接触，电磁屏蔽材料放置在上金属压接片15和下金属压接片16之间，以此形成完整电气测试路径。支撑脚19与下屏蔽腔体13固定，形成一个整体装置。图2为本专利技术提供的电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置实际测试电气示意图，从图2中可以看到上金属压接片15固定在塑料连接轴11上，而塑料连接轴11要穿透上屏蔽腔体12，使得能与压力传感器9连接，上屏蔽腔体12与下屏蔽腔体13测试时要完全搭接以形成低阻抗电气搭接。测试时，把待测物电磁屏蔽导电材料导电泡棉放置在下金属压接片16上，仪器输出电信号通过同轴电缆与下测试探针17连接，下测试探针17穿透下金属压接片16，旋转手柄1使得上金属压接片15与下测试本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置，其特征在于：包括螺杆(3)，螺杆(3)顶部设有旋转手柄(1)，螺杆(3)下部外侧设有屏蔽外罩(10)，轴承(7)固定在螺杆(3)上且设于屏蔽外罩(10)内侧，压力传感器(9)连接在轴承(7)上；上屏蔽腔体(12)与屏蔽外罩(10)底部连接，下屏蔽腔体(13)与上屏蔽腔体(12)固定，上、下屏蔽腔体之间的屏蔽腔内设有上金属压接片(15)和下金属压接片(16)，上金属压接片(15)通过塑料连接轴(11)与压力传感器(9)连接；待测试的电磁屏蔽材料设于上、下金属压接片之间，固定在上屏蔽腔体(12)上的上测试探针(14)通过电缆与固定在屏蔽外罩(10)上的转接头(8)连接，转接头(8)另一端通过电缆与用于读取射频阻抗值的测试仪器连接，测试仪器通过电缆与下测试探针(17)连接，下测试探针(17)穿透下金属压接片(16)与上金属压接片(15)接触。
【技术特征摘要】
1.一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置，其特征在于：包括螺杆(3)，螺杆
(3)顶部设有旋转手柄(1)，螺杆(3)下部外侧设有屏蔽外罩(10)，轴承(7)
固定在螺杆(3)上且设于屏蔽外罩(10)内侧，压力传感器(9)连接在轴承(7)
上；
上屏蔽腔体(12)与屏蔽外罩(10)底部连接，下屏蔽腔体(13)与上屏蔽
腔体(12)固定，上、下屏蔽腔体之间的屏蔽腔内设有上金属压接片(15)和下
金属压接片(16)，上金属压接片(15)通过塑料连接轴(11)与压力传感器(9)
连接；
待测试的电磁屏蔽材料设于上、下金属压接片之间，固定在上屏蔽腔体(12)
上的上测试探针(14)通过电缆与固定在屏蔽外罩(10)上的转接头(8)连接，
转接头(8)另一端通过电缆与用于读取射频阻抗值的测试仪器连接，测试仪器
通过电缆与下测试探针(17)连接，下测试探针(17)穿透下金属压接片(16)
与上金属压接片(15)接触。
2.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置，其特征在于：
所述螺杆(3)上设有用于观察位移量的标尺(2)。
3.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置，其特征在于：
所述螺杆(3)上设有用...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁书传，郑军奇，叶琼瑜，曹旸，
申请(专利权)人：上海电器科学研究所集团有限公司，上海电器科学研究院，
类型：发明
国别省市：上海;31
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