栅格图像处理器测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种栅格图像处理器测试方法及系统，该方法包括：使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。利用本发明专利技术，可以实现针对栅格图像处理器的可调控自动测试。

【技术实现步骤摘要】
栅格图像处理器测试方法及系统
本专利技术涉及印刷
，具体而言，涉及一种栅格图像处理器测试方法及系统。
技术介绍
RIP（RasterImageProcessor，栅格图像处理器）是一种转换处理器，用于将页面描述语言所描述的版面信息解释转换为可供输出设备输出的数据信息（一般是位图或点阵，亦即栅格图像）。RIP是整个印前行业的核心软件，一个桌面出版系统的输出质量、输出速度和开放性及兼容性在很大程度上取决于所用RIP的优劣。目前，对RIP产品的测试流程为：测试人员将测试样例提交至待测试的RIP和作为对照基准的RIP，经RIP处理后，分别输出点阵，然后比较二者的点阵是否存在差异。若测试人员在人眼可识别的范围内未发现差异，则认为待测试的RIP正确处理了此测试样例。若待测试的RIP对一个大的测试样例集合均能正确处理，则认为此RIP通过测试。从上述RIP的测试流程可以看出手工测试的方法存在一系列缺陷，如测试样例手动提交较为繁琐、样例提交随意性较大不利于回归测试、测试结果的正确性认定由人眼保证费时费力且可靠性难以评估等等。针对上述缺陷，一种改进方法是利用计算机检查测试结果的正确性，将基准RIP点阵和待测试RIP点阵之间的比较交由计算机去完成，这一方法大大减轻了人工干预的工作量，在一定程度上实现了对栅格图像处理器的自动测试。但是，其缺陷也很明显，即该自动测试方法对点阵差异没有容忍度，无法调控用于判断结果是否一致的点阵差异度，只要有一个像素存在差异，就会认为点阵不同，从而报告待测试RIP出现异常。这一特性使得该自动测试系统过于灵敏，缺乏对因程序实现代码的轻微修改导致转换处理结果产生轻微不同但并不影响结果正确性的现象的容忍，而RIP是经常会进行这一类轻微修改的，如此一来，测试人员会发现报告异常的样例大部分情况下都不算是真正的异常，而只是极其轻微的、人眼难以发现的细小差异，完全可以忽略不计，于是，这样一来，反而耗费了更多了人工去排除这类“误报”，从而使得测试人员逐渐失去了用该自动测试系统进行自动测试的热情。显然，上述情况是远远不能令人满意的。
技术实现思路
针对现有技术中存在的缺陷，本专利技术实施例提出一种栅格图像处理器测试方法，实现针对栅格图像处理器的可调控自动测试。本专利技术实施例提供的技术方案是：一种栅格图像处理器测试方法，包括：使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。优选地，将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较包括：将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与测试图元轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含；将所述测试图元轮廓点阵与基准减细轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与基准减细轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全包含基准减细轮廓点阵。优选地，所述方法还包括：使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵；将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较；如果所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值，则确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。优选地，所述方法还包括：预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。优选地，所述方法还包括：预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。一种栅格图像处理器测试系统，包括：轮廓处理模块，用于使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；轮廓比较模块，用于将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；结果输出模块，用于在所述轮廓比较模块的比较结果是所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵时，确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。优选地，所述轮廓比较模块，具体用于将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与测试图元轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含；将所述测试图元轮廓点阵与基准减细轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与基准减细轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全包含基准减细轮廓点阵。优选地，所述系统还包括：灰度处理模块，用于使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵；灰度比较模块，用于将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较；所述结果输出模块，还用于在所述灰度比较模块的比较结果是所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值时，确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。优选地，所述轮廓处理模块，还用于预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。优选地，所述灰度处理模块，还用于预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。本专利技术实施例提供的栅格图像处理器测试方法及系统，将栅格图像处理器的结果点阵分为轮廓点阵和灰度点阵，对于测试优先级更高的轮廓点阵引入加粗轮廓点阵和减细轮廓点阵来对待测试的轮廓点阵进行限制，从而检测待测试的轮廓所发生的变化是否在容忍范围之内，大大降低了自动测试系统对差异的敏感性，提高了测试人员的工作效率。进一步地，对于测试优先级较低的灰度点阵，则只需检测是否存在图像显示错误导致丢图或显示不全等存在明显的灰度差异的情况即可，于是采用降低分辨率的方法使得这一处理的效率也大为提高，还防止了漏报和误报。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是本专利技术实施例栅格图像处理器测试方法的流程图；图2是某样例示意图；图3是某样例在基准RIP上进行填充得到图元的填充轮廓点阵；图4是某样例在基准RIP上进行画线得到图元的画线轮廓点阵；图5是某样例在基准RIP上进行处理得到图元的加粗轮廓点阵；图6是某样例在基准RIP上进行处理得到图元的减细轮廓点阵；图7是某样例在基准RIP上进行处理得到图像的低分辨率灰度点阵；图8是某样例在待测RIP1上进行填充得到图元的填充轮廓点阵；图9是某样例在待测RIP1上进行处理得到图像的低分辨率灰度点阵；图10是某样例在待测RIP2上进行填充得到图元的填充轮廓点阵；图11是某样例在待测RIP2上进行处理得到图像的低分辨率灰度点阵；图12是本专利技术实施例栅格图像处理器测试系统的一种结构示意图；图13是本专利技术实施例栅格图像处理器测试系统的另一种结构示意图。具体实施方式下面将参考附图并结合实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种栅格图像处理器测试方法，其特征在于，包括：使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。

【技术特征摘要】
1.一种栅格图像处理器测试方法，其特征在于，包括：使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较包括：判断所述测试图元轮廓点阵是否完全被基准加粗轮廓点阵包含，以及是否完全包含基准减细轮廓点阵。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵；将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较；如果所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值，则确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，还包括：预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。6.一种栅格图像处理器测试系统，其特征在于，包括：轮廓处理模块，用于使用待测...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈恳，
申请(专利权)人：北大方正集团有限公司，方正信息产业控股有限公司，北京北大方正电子有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11