样本分析装置及样本分析方法制造方法及图纸

技术编号:11153199 阅读:95 留言:0更新日期:2015-03-18 09:42
本发明专利技术提供了一种样本分析装置,包括:测定部件,该测定部件包含能够收纳数种试剂的试剂库,组合使用所述试剂库收纳的数种试剂来测定样本;存储部件,与制作标准曲线时使用的试剂组相对应地存储标准曲线;以及控制部件;当未存储有与样本测定中使用的试剂组相对应的标准曲线时,所述控制部件使所述存储部件存储表示所述样本的测定中使用的试剂组已用于测定的信息;制作标准曲线时,所述控制部件自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组。本发明专利技术还提供了一种使用样本分析装置的样本分析方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用数种试剂分析样本的。
技术介绍
人们已知,在用试剂分析样本的自动分析装置中,有一种自动分析装置具有将用于测定的试剂自动更换为同种类的其他试剂瓶中的试剂并继续进行测定的功能(以下也称试剂自动更换),以避免在装置工作过程中发生试剂用完的情况并导致测定中断(例如特开(日本专利公开)2009—36512号公报)。 发生试剂自动更换时,不一定更换为已校准的试剂,有时也可能更换为尚未校准的试剂。此时,因为没有标准曲线,所以无法获得作为目标的分析参数。因此,有必要在测定后进行校准并制作标准曲线,将测定数据用到制作的标准曲线中,再次计算分析参数。 特开(日本专利公开)2002—196005号公报中公开的分析装置能够通过测定检测出试样的反应过程并将其存储下来,即使试样是在校准失败的状态下进行的测定,也能在测定后再次进行校准,将存储的反应过程的数据用于新的标准曲线,以此再次计算分析参数。利用特开(日本专利公开)2002—196005号公报公开的这种功能,能够在测定后制作标准曲线,再次计算分析参数。 样本测定之后进行校准并再次计算分析参数时,需要用测定中实际使用的试剂进行校准。因此,用户在校准时必须指定测定中所使用的试剂。然而,在一个测定项目需要组合使用数种试剂的分析中,需要针对各个试剂的批次的组合分别制作标准曲线,如果包括尚未使用的批次的组合在内的话,要制作标准曲线的对象,即试剂批次的组合,会有很多。以往都是由用户从如此众多的组合中选择尚未制作标准曲线且包含已在测定中使用的试剂批次的试剂组,因此工作繁琐,其便利性有待提高。 本专利技术有鉴于此,其目的在于提供一种样本分析装置和样本分析方法,当用无标准曲线的试剂组进行了测定时,该装置及方法能够简单、切实地在测定后制作标准曲线。 本专利技术的另一个目的是提供一种样本分析装置,在用虽然需要进行质控(qualitycontrol,下同)但尚未完成质控的试剂进行了测定时,该装置能够简单、切实地在测定后进行质控。
技术实现思路
本专利技术的范围只由后附权利要求所规定,在任何程度上都不受这一节
技术实现思路
的陈述所限。 本专利技术提供:(I) 一种样本分析装置,包括:测定部件,该测定部件包含能够收纳数种试剂的试剂库,组合使用所述试剂库收纳的数种试剂来测定样本,存储部件,与制作标准曲线时使用的试剂组相对应地存储标准曲线, 控制部件;当未存储有与样本测定中使用的试剂组相对应的标准曲线时,所述控制部件使所述存储部件存储表示所述样本的测定中使用的试剂组已用于测定的信息, 制作标准曲线时,所述控制部件自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组。 (2)根据(I)所述的样本分析装置,其特征在于:该样本分析装置还具有显示部件,所述控制部件能够使所述显示部件显示用于输入制作标准曲线的指令的界面,当所述显示部件显示所述界面时,自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的所述试剂组,并使所述界面显示提取的所述试剂组。 (3)根据(2)所述的样本分析装置,其特征在于:所述界面能够显示能够制作标准曲线的数个试剂组,当有未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组时,所述控制部件使所述界面优先于其他试剂组先显示该试剂组。 (4)根据(2)所述的样本分析装置,其特征在于:所述界面能够一览式显示能够制作标准曲线的数个试剂组,要一览式显示数个试剂组时,如果有未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组,则所述控制部件生成该试剂组的显示次序高于其他试剂组的显示次序的显示界面。 (5)根据(4)所述的样本分析装置,其特征在于:所述界面包括显示操作者从数个试剂组中指定的试剂组的指定区域、以及接受制作标准曲线的指示的执行按钮,操作执行按钮后,所述控制部件就所述指定区域中显示的试剂组制作标准曲线。 (6)根据(5)所述的样本分析装置,其特征在于:所述控制部件在所述指定区域默认显示所述自动提取的试剂组。 (7)根据(6)所述的样本分析装置,其特征在于:当有未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组时,所述控制部件在所述指定区域附加上并默认显示以下信息:表示该试剂组是未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组的信息。 (8)根据(I)所述的样本分析装置,其特征在于:对于用未存储标准曲线的试剂组进行了测定的样本,所述控制部件能够用测定后制作的标准曲线再次计算样本的测定数据。 (9)根据(I)所述的样本分析装置,其特征在于:所述控制部件收到校准品的测定指示后,自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组,并用提取的试剂组测定校准品。 (10)根据(9)所述的样本分析装置,其特征在于:当存在数个未存储标准曲线的试剂组时,所述控制部件优先于其他试剂组,将未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组用于测定校准品。 (11)根据(I)?(10)其中任意一项所述的样本分析装置,其特征在于: 当所述试剂库中收纳的用于一个测定项目的试剂既有已制作标准曲线的试剂又有未制作标准曲线的试剂时,所述控制部件控制测定部件优先使用已制作标准曲线的试剂,当已制作标准曲线的试剂不够时,控制测定部件使用未制作标准曲线的试剂。 (12) 一种使用样本分析装置的样本分析方法,其包括以下步骤:用含有需要制作标准曲线的试剂并含有数种试剂的试剂组测定样本的步骤;存储所述试剂组的步骤;用所存储的所述试剂组制作标准曲线的步骤;用所制作的标准曲线求出用需要制作标准曲线的试剂测定的样本的成分浓度的步骤。 (13)根据(12)所述的样本分析方法,其特征在于: 该样本分析方法还包括在用于输入制作所述标准曲线的指令的界面上显示所述试剂组的步骤。 (14)根据(13)所述的样本分析方法,其特征在于:在显示所述试剂组的步骤中,当显示数个能够制作标准曲线的试剂组时,使未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组优先于其他试剂组显示在所述界面上。 (15)根据(14)所述的样本分析方法,其特征在于:在显示所述试剂组的步骤中,一览式显示所述数个能够制作标准曲线的试剂组,并使得未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组的显示次序高于其他试剂组的显示次序。 (16)根据(15)所述的样本分析方法,其特征在于: 所述界面包括显示操作者从数个能够制作所述标准曲线的试剂组中指定的试剂组的指定区域、以及接受制作标准曲线的指示的执行按钮,在制作所述标准曲线的步骤中,操作所述执行按钮后,针对所述指定区域中显示的试剂组制作标准曲线。 (17)根据(12)所述的样本分析方法,其特征在于: 所述用存储的所述试剂组制作标准曲线的步骤包括在收到校准品的测定指示后用所述试剂组测定校准品的步骤。 (18)根据(17)所述的样本分析方法,其特征在于:在用所述试剂组测定校准品的步骤中,当存在数个未存储标准曲线的试剂组时,使未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组优先于其他试剂组用于测定校准品。 (19)根据(12)?(18)其中任意一项所述的样本分析方法,其特征在于: 当所述样本分析装置中收纳的用于一个测定项目的试剂既有已制作标准曲线的试剂又有未制作标准曲线的试剂时,优先使用已制作标准曲线的试剂测定样本,当已制作标准曲线的试剂不够时,使用未制作标准曲线本文档来自技高网
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<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/52/201410426493.html" title="样本分析装置及样本分析方法原文来自X技术">样本分析装置及样本分析方法</a>

【技术保护点】
一种样本分析装置,包括:测定部件,该测定部件包含能够收纳数种试剂的试剂库,组合使用所述试剂库收纳的数种试剂来测定样本;存储部件,与制作标准曲线时使用的试剂组相对应地存储标准曲线;以及控制部件;当未存储有与样本测定中使用的试剂组相对应的标准曲线时,所述控制部件使所述存储部件存储表示所述样本的测定中使用的试剂组已用于测定的信息;制作标准曲线时,所述控制部件自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组。

【技术特征摘要】
2013.08.30 JP 2013-1798461.一种样本分析装置,包括: 测定部件,该测定部件包含能够收纳数种试剂的试剂库,组合使用所述试剂库收纳的数种试剂来测定样本; 存储部件,与制作标准曲线时使用的试剂组相对应地存储标准曲线;以及 控制部件; 当未存储有与样本测定中使用的试剂组相对应的标准曲线时,所述控制部件使所述存储部件存储表示所述样本的测定中使用的试剂组已用于测定的信息; 制作标准曲线时,所述控制部件自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组。2.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于: 该样本分析装置还具有显示部件; 所述控制部件能够使所述显示部件显示用于输入制作标准曲线的指令的界面,当所述显示部件显示所述界面时,自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的所述试剂组,并使所述界面显示提取的所述试剂组。3.根据权利要求2所述的样本分析装置,其特征在于: 所述界面能够显示能够制作标准曲线的数个试剂组; 当有未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组时,所述控制部件使所述界面优先于其他试剂组显示该试剂组。4.根据权利要求2所述的样本分析装置,其特征在于: 所述界面能够一览式显示能够制作标准曲线的数个试剂组; 要一览式显示数个试剂组时,如果有未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组,贝0所述控制部件生成该试剂组的显示次序高于其他试剂组的显示次序的显示界面。5.根据权利要求4所述的样本分析装置,其特征在于: 所述界面包括显示操作者从数个试剂组中指定的试剂组的指定区域、以及接受制作标准曲线的指示的执行按钮; 操作执行按钮后,所述控制部件就所述指定区域中显示的试剂组制作标准曲线。6.根据权利要求5所述的样本分析装置,其特征在于: 所述控制部件在所述指定区域默认显示所述自动提取的试剂组。7.根据权利要求6所述的样本分析装置,其特征在于: 当有未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组时,所述控制部件在所述指定区域附加上并默认显示以下信息:表示该试剂组是未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组的信息。8.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于: 对于用未存储标准曲线的试剂组进行了测定的样本,所述控制部件能够用测定后制作的标准曲线再次计算样本的测定数据。9.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于: 所述控制部件收到校准品的测定指示后,自动提取未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组,并用提取的试剂组测定校准品。10.根据权利要求9所述的样本分析装置,其特征在于: 当存在数个未存储标准曲线的试剂组时,所述控制部件优先于其他试剂组,将未存储标准曲线且存储有所述信息的试剂组用于测定校准品。11.根据权利要求1?10其中任意一项所述的样本分析装置,其特征在于: 当所述试剂库中收纳的用于一个测定项目的试剂既...

【专利技术属性】
技术研发人员:有吉俊辅
申请(专利权)人:希森美康株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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