触摸检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种触摸检测方法及装置，所述触摸方法包括：获得触摸点的关联点的坐标；获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值；基于所述关联点的坐标和所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值，确定所述触摸点的待定坐标值；根据所述待定坐标值确定所述触摸点的实际坐标值。所述触摸检测装置包括：关联点确定单元，适于获得触摸点的关联点的坐标；距离确定单元，适于获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值；待定坐标确定单元，适于基于所述关联点的坐标和所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值，确定所述触摸点的待定坐标值；实际坐标确定单元，适于根据所述待定坐标值确定所述触摸点的实际坐标值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】触摸检测方法及装置
本专利技术涉及触摸检测方法及装置，尤其涉及一种电阻式触摸屏的检测方法及装置。
技术介绍
电阻式触摸屏是一种传感器，它将矩形区域中触摸点的物理位置转换为代表X轴坐标和Y轴坐标的电压。电阻式触摸屏幕可以用四线、五线、七线或八线来产生屏幕偏置电压，同时读回触摸点的电压。图1为一种电阻式触摸屏的结构示意图，所述电阻式触摸屏包括第一阻性层11和第二阻性层12。第一阻性层11的两个相对的边缘设置有两条相互平行的第一电极X1和第二电极X2，第二阻性层12的两个相对的边缘设置有两条相互平行的第三电极Y1和第四电极Y2，所述第三电极Y1与第一电极X1和第二电极X2垂直，所述第四电极Y2与第一电极X1和第二电极X2垂直。当电阻式触摸屏表面受到单点触摸的压力足够大时，第一阻性层11和第二阻性层12之间会产生接触，其等效电路如图2所示。其中，接触点到第一电极X1的电阻等效为第十电阻R10，接触点到第二电极X2的电阻等效为第二十电阻R20，接触点到第三电极Y1的电阻等效为第三十电阻R30，接触点到第四电极Y2的电阻等效为第四十电阻R40，第一阻性层11和第二阻性层12之间的单点接触电阻等效为接触电阻Rt。为了在所述电阻式触摸屏上的特定方向测量一个坐标，需要对一个阻性层进行偏置。具体的，将第一阻性层11的第一电极X1接参考电压，第二电极X2接地，同时，将第二阻性层12的第三电极Y1或第四电极Y2直接连接到一个模数转换器（ADC）的输入端。当所述电阻式触摸屏上的压力足够大，使第一阻性层11和第二阻性层12发生接触，第一阻性层11的电阻性表面在X轴方向上被分隔为第十电阻R10和第二十电阻R20。第二十电阻R20上测得的电压与触摸点到第二电极X2之间的距离成正比，由此可以计算出触摸点的X轴坐标。利用类似的方法，将第二阻性层12偏置，读取第一电极X1或第二电极X2的电压，也可以计算出触摸点的Y轴坐标。但是，当同时有两个以上触摸点时，无法利用上述方法获得每一个点的坐标值。国际公开号为WO2009/038277A1的PCT专利申请文献公开一种可识别多点触摸的电阻式触摸屏。该触摸屏包括第一电阻检测图案和第二电阻检测图案。第一电阻检测图案和第二电阻检测图案分别包括多条平行排列的线条，并且第一电阻检测图案的平行线条与第二电阻检测图案的平行线条相互垂直。电压被交替地施加到所述第一电阻检测图案和所述第二电阻检测图案的线条中被触摸的那部分线条，从而得到X坐标和Y坐标。但是，采用上述专利文献公开的电阻式触摸屏进行多点触摸检测需要对触摸屏的结构做出改动，这样无疑导致触摸屏制作成本的增加。
技术实现思路
本专利技术技术方案解决的是现有技术无法在普通电阻式触摸屏上实现多个触摸点检测的问题。为解决上述问题，本专利技术技术方案提供一种触摸检测方法，包括：获得触摸点的关联点的坐标；获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值；基于所述关联点的坐标和所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值，确定所述触摸点的待定坐标值；根据所述待定坐标值确定所述触摸点的实际坐标值。可选的，所述触摸点的个数为两个，所述关联点的坐标包括第一轴坐标和第二轴坐标；所述关联点的第一轴坐标根据第一坐标和第二坐标中的至少一个获得，所述第一坐标与触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的一个电极的电压相关，所述第二坐标与所述触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的另一个电极的电压相关；所述关联点的第二轴坐标根据第三坐标和第四坐标中的至少一个获得，所述第三坐标与所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的一个电极的电压相关，所述第四坐标与所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的另一个电极的电压相关。本专利技术技术方案还提供一种触摸检测装置，包括：关联点确定单元，适于获得触摸点的关联点的坐标；距离确定单元，适于获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值；待定坐标确定单元，适于基于所述关联点的坐标和所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值，确定所述触摸点的待定坐标值；实际坐标确定单元，适于根据所述待定坐标值确定所述触摸点的实际坐标值。与现有技术相比，本专利技术技术方案的触摸检测方法及装置可以在普通电阻屏上实现两个触摸点的检测，降低了在普通电阻式触摸屏上实现两点检测的成本。并且，本专利技术技术方案的触摸检测方法及装置还可以依据检测到的触摸点的变化产生指示信号，指示执行放大、缩小和旋转等操作，从而实现在普通电阻式触摸屏上通过两点触摸指示操作。附图说明图1为电阻式触摸屏的结构示意图；图2为单点触摸时电阻式触摸屏的等效电路示意图；图3为本专利技术技术方案的触摸检测方法的一实施例流程图；图4为本专利技术技术方案的触摸屏的一等效电路示意图；图5为本专利技术技术方案的触摸屏的一电路连接示意图；图6为本专利技术技术方案的两点触摸时触摸屏在X轴方向的电阻等效电路示意图；图7为本专利技术技术方案的触摸屏上触摸点的待定坐标示意图；图8为本专利技术技术方案的触摸屏的另一电路连接示意图；图9为本专利技术技术方案的触摸检测方法的另一实施例流程图；图10为本专利技术技术方案的触摸屏上两组触摸点示意图；图11为本专利技术技术方案的触摸检测装置的一实施例结构示意图；图12为本专利技术技术方案的触摸检测装置的另一实施例结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本专利技术。根据下列说明，本专利技术的优点和特征将更清楚。在下述实施例中，当所述“电阻”无法与一个确定的实际电阻对应时，即意味着“等效电阻”。如图3所示，在一实施例中，本专利技术技术方案的触摸检测方法包括：S1，获得触摸点的关联点的坐标；S2，获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值；S3，基于所述关联点的坐标和所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值，确定所述触摸点的待定坐标值；S4，根据所述待定坐标值确定所述触摸点的实际坐标值。所述触摸点的关联点的坐标可以被视为所有触摸点的中心坐标。获得所述触摸点的关联点的坐标的方法，可以将多触摸点等效为单触摸点进行测量。下面以同时触摸的触摸点个数为两个做举例来进一步解释上述各个步骤。在步骤S1中，所述关联点的坐标包括第一轴坐标和第二轴坐标。所述关联点的第一轴坐标根据第一坐标和第二坐标中的至少一个获得，所述第一坐标与触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的一个电极的电压相关，所述第二坐标与触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的另一个电极的电压相关；所述关联点的第二轴坐标根据第三坐标和第四坐标中的至少一个获得，所述第三坐标与所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的一个电极的电压相关，所述第四坐标与所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的另一个电极的电压相关。具体的，如图4所示，触摸屏包括第一阻性层和第二阻性层。第一阻性层的两个相对的边缘设置有两条相互平行的第一电极X1和第二电极X2，第二阻性层的两个相对的边缘设置有两条相互平行的第三电极Y1和第四电极Y2。所述第三电极Y1与第一电极X1和第二电极X2垂直，所述第四电极Y2也与第一电极X1和第二电极X2垂直。触摸屏同时受到两点触摸时，假设两个触摸点的关联点在第一阻性层上到第一电极X1的电阻等效为第一电阻R1，到第二电极X2的电阻等效为第二电阻R2，在第二阻性层上到第三电极Y1的电阻等效为第三电阻R3，本文档来自技高网...

【技术保护点】
PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种触摸检测方法，其特征在于，包括：获得触摸点的关联点的坐标；获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值；基于所述关联点的坐标和所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值，确定所述触摸点的待定坐标值；根据所述待定坐标值确定所述触摸点的实际坐标值；所述触摸点的个数为两个；所述触摸点的待定坐标值包括两组待定坐标值，每组待定坐标值包括两个触摸点的待定坐标值；所述根据所述待定坐标值确定所述触摸点的实际坐标值包括：根据第一阻性层或第二阻性层上两个电极的电压的大小关系选择一组待定坐标值作为所述两个触摸点的实际坐标值，所述第一阻性层上两个电极的电压为所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的两个电极的电压，所述第二阻性层上两个电极的电压为所述触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的两个电极的电压。2.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，还包括：比较两组所述触摸点的实际坐标值，产生指示信号。3.如权利要求2所述的触摸检测方法，其特征在于，所述比较两组所述触摸点的实际坐标值，产生指示信号包括：比较两组所述触摸点的实际坐标值以确定触摸变化，产生对应的指示信号，所述触摸变化包括触摸点的角度变化和距离变化中的至少一个。4.如权利要求2所述的触摸检测方法，其特征在于，所述指示信号至少包括指示执行放大、缩小、旋转、翻页、前进、后退、加快、减慢、弹出当前状态的快捷菜单中的一种操作。5.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述触摸点的个数为两个，所述关联点的坐标包括第一轴坐标和第二轴坐标；所述关联点的第一轴坐标根据第一坐标和第二坐标中的至少一个获得，所述第一坐标与触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的一个电极的电压相关，所述第二坐标与所述触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的另一个电极的电压相关；所述关联点的第二轴坐标根据第三坐标和第四坐标中的至少一个获得，所述第三坐标与所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的一个电极的电压相关，所述第四坐标与所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的另一个电极的电压相关。6.如权利要求5所述的触摸检测方法，其特征在于，将阻性层偏置包括：对所述阻性层上的一个电极施加第一电压，对所述阻性层上的另一个电极施加第二电压，所述第一电压的电压值大于所述第二电压的电压值。7.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述触摸点的个数为两个；所述获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值包括：分别测量两个阻性层的外接电阻上的电压或电流，或者分别测量两个阻性层上的电极之间的电流或电压，以获得所述触摸屏在对应轴方向上的电阻变化值；基于所述触摸屏在第一轴和第二轴方向上的电阻变化值确定在对应轴方向上所述两个触摸点的距离值。8.如权利要求7所述的触摸检测方法，其特征在于，所述触摸屏在对应轴方向上的电阻变化值为触摸时所述触摸屏在对应轴方向上的电阻值与无触摸时所述触摸屏在对应轴方向上的电阻值的差值；所述触摸时所述触摸屏在对应轴方向上的电阻值通过测量对应阻性层的外接电阻上的电压或电流相关获得，或者通过测量对应阻性层上电极之间的电流或电压获得。9.如权利要求7所述的触摸检测方法，其特征在于，所述基于所述触摸屏在第一轴和第二轴方向上的电阻变化值确定在对应轴方向上所述两个触摸点的距离值包括：基于计算在第一轴方向上所述两个触摸点的距离值Δx，其中，ΔRx为所述触摸屏在所述第一轴方向上的电阻变化值，Kx、Ky分别为两个阻性层的电阻率，rt为所述触摸屏上单点接触电阻值；基于计算在第二轴方向上所述两个触摸点的距离值Δy，其中，ΔRy为所述触摸屏在所述第二轴方向上的电阻变化值。10.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述根据第一阻性层或第二阻性层上两个电极的电压的大小关系选择一组待定坐标值作为所述两个触摸点的实际坐标值包括：在所述第一阻性层上两个电极的电压差值大于所述第二阻性层上两个电极的电压差值时，根据所述第一阻性层上两个电极的电压大小关系选择一组待定坐标值作为所述两个触摸点的实际坐标值。11.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述根据第一阻性层或第二阻性层上两个电极的电压的大小关系选择一组待定坐标值作为所述两个触摸点的实际坐标值包括：在所述第二阻性层上两个电极的电压差值大于所述第一阻性层上两个电极的电压差值时，根据所述第二阻性层上两个电极的电压大小关系选择一组待定坐标值作为所述两个触摸点的实际坐标值。12.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所选择的一组待定坐标值所确定的两个触摸点为：靠近所述一阻性层的电压较大的电极且靠近另一阻性层偏置时接较高电压的电极的触摸点，以及靠近所述一阻性层的电压较小的电极且靠近另一阻性层偏置时接较低电压的电极的触摸点。13.一种触摸检测装置，其特征在于，包括：关联点确定单元，适于获得触摸点的关联点的坐标；距离确定单元，适于获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值；待定坐标确定单元，适于基于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：虞华伟，
申请(专利权)人：展讯通信上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31