【技术实现步骤摘要】
一种西数2.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法
本专利技术涉及硬盘检测设备及检测方法,尤其是一种西数2.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法。
技术介绍
每年产生的巨量的电子垃圾中,有近七成的西数硬盘是可以进行回收并循环再生利用的,可是由于很多西数硬盘不通电、电机不转动、磁头撞击、无法就绪、大量坏道、无法读写等故障,特别是新款的西数硬盘(特指西数三角板)有一种常见的故障,通电后硬盘电机不转,好像电路板已经损坏,一般情况下,用户根本无法通过正常的ATA信道口进行操作,都会做废品处理了,然而这是可以进行维修的,只是目前还没有一种很好的工具能对废弃的西数硬盘进行可靠性检测、再生修复,现有的修复过程复杂,再生成本高,进而限制了西数硬盘的回收利用率。由于无法通过ATA信道口读取西数硬盘的数据,因此没有维修基础,但是如果能从硬盘的COM端口中实现西数硬盘的底层通信,获取硬盘的信息进而检测出故障所在,则有可能进行维修。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术的目的在于提供一种西数2.5寸硬盘故障检测设备及其故障检测方法,能十分方便地实现硬盘COM的连接,快速准确地检测出硬盘的故障问题,提高维修效率。本专利技术解决其问题所采用的技术方案是:一种西数2.5寸硬盘故障检测设备,包括硬盘安装支架和TTL主芯片电路板,所述硬盘安装支架包括硬盘进入口和设置于其两侧用于供西数2.5寸硬盘推至后侧底部的平推式导槽,所述硬盘安装支架包括设置于后侧的接线面板,所述接线面板上设置有与西数硬盘COM口位置相对应的COM连接口,所述COM连接口上设置有分别与西数硬盘COM口内4根插针相对应的4个 ...
【技术保护点】
一种西数2.5寸硬盘故障检测设备,其特征在于:包括硬盘安装支架(1)和TTL主芯片电路板(5),所述硬盘安装支架(1)包括硬盘进入口(11)和设置于其两侧用于供西数2.5寸硬盘推至后侧底部的平推式导槽(12),所述硬盘安装支架(1)包括设置于后侧的接线面板(17),所述接线面板(17)上设置有与西数硬盘COM口位置相对应的COM连接口(2),所述COM连接口(2)上设置有分别与西数硬盘COM口内4根插针相对应的4个插口(21),所述TTL主芯片电路板(5)包括TTL主芯片(51)和用于连接PC控制器(6)的USB端口(52),所述COM连接口(2)内4根插口(21)的输出端与TTL主芯片(51)连接, 所述TTL主芯片(51)包括RXD端口和TXD端口,所述COM连接口(2)左边开始第一、第二根插口(21)分别为与西数硬盘TXD端和RXD端连接的TXD插口(23)和RXD插口(22),所述TTL主芯片(51)的RXD端口和TXD端口分别通过RXD插口(22)和TXD插口(23)连接西数硬盘的RXD端和TXD端,所述PC控制器(6)通过COM连接口(2)与西数2.5寸硬盘连接进行串口通讯 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于西数2.5寸硬盘故障检测设备的故障检测方法,所述西数2.5寸硬盘故障检测设备包括硬盘安装支架(1)和TTL主芯片电路板(5),所述硬盘安装支架(1)包括硬盘进入口(11)和设置于其两侧用于供西数2.5寸硬盘推至后侧底部的平推式导槽(12),所述硬盘安装支架(1)还包括设置于后侧的接线面板(17),所述接线面板(17)上设置有与西数2.5寸硬盘COM口位置相对应的COM连接口(2),所述COM连接口(2)上设置有分别与西数2.5寸硬盘COM口内4根插针相对应的4个插口(21),所述TTL主芯片电路板(5)包括TTL主芯片(51)和用于连接PC控制器(6)的USB端口(52),所述COM连接口(2)内4根插口(21)的输出端与TTL主芯片(51)连接,所述TTL主芯片(51)包括RXD端口和TXD端口,所述COM连接口(2)左边开始第一、第二根插口(21)分别为与西数2.5寸硬盘TXD端和RXD端连接的TXD插口(23)和RXD插口(22),所述TTL主芯片(51)的RXD端口和TXD端口分别通过RXD插口(22)和TXD插口(23)连接西数2.5寸硬盘的RXD端和TXD端,所述PC控制器(6)通过COM连接口(2)与西数2.5寸硬盘连接进行串口通讯,并通过PC控制器(6)设置COM端口和串口通讯波特率;其特征在于:所述故障检测方法包括以下步骤:步骤A,接收西数2.5寸硬盘,将西数2.5寸硬盘正面朝上推入平推式导槽(12)中;步骤B,使西数2.5寸硬盘后方的COM口与接线面板(17)上COM连接口(2)连接;步骤C,设置COM端口和串口通讯波特率,波特率设置为57600BPS;步骤D,PC控制器(6)通过TTL主芯片(51)的RXD端口和TXD端口与西数2.5寸硬盘进行串口通讯测试;步骤E,若通过串口通讯测试,则进入步骤F,若串口通讯测试失败,则更换硬盘电路板,重新进行串口通讯测试;步骤F,串口通讯正常,检查硬盘的各项运行参数是否正常;步骤G,若硬盘的各项运行参数检查全部通过,则进入步骤H,若其中某一项参数运行不通过,则判断电路固件或磁头存在故障;步骤H,进入盘片检测,全部磁道读取延时都小于50ms,则硬...
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡杨毅,蔡杰,莫小丽,莫奕远,蔡敏灵,
申请(专利权)人:江门市未来之星网络科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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