一种生产高对比合格率荧光分析生料的工艺制造技术

本发明专利技术公开了一种生产高对比合格率荧光分析生料的工艺，包括：a、调整磨机；b、调整光谱仪；c、定期筛查滴定管，调整助磨剂的配方；d、利用调整后的磨机、光谱仪和助磨剂，生产荧光分析生料，所得荧光分析生料中各组分的重量份数为：SiO2：13.1份；Al2O3：2.37份；Fe2O3：3.41份；CaO：43.77份；MgO：1.27份。本发明专利技术所述生产高对比合格率荧光分析生料的工艺，可以克服现有技术中故障率高、稳定性差和配比不合理等缺陷，以实现故障率低、稳定性好和配比合理的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种生产高对比合格率荧光分析生料的工艺
本专利技术涉及水泥加工
，具体地，涉及一种生产高对比合格率荧光分析生 料的工艺。
技术介绍
X射线荧光分析是一种快速测定各种材料化学组分的方法，此法因具有快速准确 的特点已被广泛应用于水泥行业。目前我公司石灰石、砂页岩、生料、熟料、水泥等样品分析 均采用此方法，因此，荧光检验的准确性，间接得影响到出厂水泥的质量，因此，荧光分析在 整个水泥生产控制过程中显得尤其重要。 2012年，我们发现出磨生料的波动大，合格率低，针对这些情况，为了能更好得做 好配料工作配合生产，需要提高生料对比合格率。荧光分析生料对比合格率为85. 5 %。 原因分析：针对影响生料对比合格率低的原因用关联图进行原因分析： 生料对比合格率低：光谱不稳，光谱漂移，光谱仪运转率低，室温不稳；生料吸水， 水分过多；生料曲线线性差；助磨剂三乙醇胺对生料影响大；磨机，压片机故障多；样品称 样误差大；光谱仪运转率低。室温不稳，见下表：

【技术保护点】
一种生产高对比合格率荧光分析生料的工艺，其特征在于，包括：a、调整磨机；b、调整光谱仪；c、定期筛查滴定管，调整助磨剂的配方；d、利用调整后的磨机、光谱仪和助磨剂，生产荧光分析生料，所得荧光分析生料中各组分的重量份数为：SiO2：13.1份；Al2O3：2.37份；Fe2O3：3.41份；CaO：43.77份；MgO：1.27份。

【技术特征摘要】
1. 一种生产高对比合格率荧光分析生料的工艺，其特征在于，包括： a、 调整磨机； b、 调整光谱仪； c、 定期筛查滴定管，调整助磨剂的配方； d、 利用调整后的磨机、光谱仪和助磨剂，生产荧光分析生料，所得荧光分析生料中各组 分的重量份数为： Si02 :13. 1 份； A1203 :2. 37 份； Fe203 :3. 41 份； CaO :43. 77 份； MgO :1. 27 份。2. 根据权利要求1所述的生产高对比合格率荧...

【专利技术属性】
技术研发人员：张芳，黄小青，江英，廖双双，黄丽霖，
申请(专利权)人：广西鱼峰水泥股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广西;45