本发明专利技术公开了一种薄片类介质运动状态检测方法和装置及介质处理设备。该薄片类介质运动状态检测方法用于对薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动状态进行检测，该方法包括：检测所述薄片类介质在所述薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度；根据所述薄片类介质在所述薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度判断所述薄片类介质的运动状态。通过本发明专利技术，提高了对薄片类介质运动状态检测的灵敏度。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种薄片类介质运动状态检测方法和装置及介质处理设备。该薄片类介质运动状态检测方法用于对薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动状态进行检测，该方法包括：检测所述薄片类介质在所述薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度；根据所述薄片类介质在所述薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度判断所述薄片类介质的运动状态。通过本专利技术，提高了对薄片类介质运动状态检测的灵敏度。【专利说明】薄片类介质运动状态检测方法和装置及介质处理设备
本专利技术涉及介质处理领域，具体而言，涉及一种薄片类介质运动状态检测方法和 装置及介质处理设备。
技术介绍
薄片类介质处理设备，如打印机、扫描仪、复印机、磁读写设备等，均包括有驱动单 元，驱动单元驱动介质在输送通道中移动，当驱动单元将介质输送至介质处理单元时，介质 处理单元对介质进行打印、扫描、或磁读写等处理，然后驱动单元驱动介质离开输送通道。 当介质处理过程中出现介质输送异常时，不仅会影响介质的正常处理，而且可能 会造成介质处理设备部件的损坏，比如，当介质输送过程中，用户堵在输送通道出口，阻止 介质输出时，就会造成介质卡塞，导致介质处理设备无法继续执行介质处理；再比如，当介 质输送过程中，如果用户拉拽正在被处理的介质，就会容易造成介质偏斜，导致介质处理结 果异常，比如导致打印或扫描的图像出现偏斜，或导致磁读写失败等。 专利号为JPH10245140(A)的日本专利公开了一种打印机中记录纸运动状态的检 测装置和检测方法，如图1所示，驱动电机3通过齿轮4与驱动辊5传动连接，驱动辊5和 驱动辊6相对设置，连续纸8从二者之间穿过并被二者驱动传输，码盘2与齿轮4、驱动辊5 同轴安装，光电传感器1与码盘2相对设置，通过检测光电传感器1输出的脉冲信号可以检 测码盘2的转动速度，也即驱动辊5的转动速度，通过将检测到的的驱动辊5的转动速度与 预设转动速度进行对比，判断连续纸8的运动状态，比如，当驱动辊5的转动速度小于预设 转动速度时，判定连续纸8卡塞，当驱动辊5的转动速度大于预设转动速度时，判定连续纸 8被拉拽。 在上述相关技术中，介质处理设备通过检测驱动单元的驱动辊的转动速度是否异 常从而推断介质运动状态是否异常，但是，专利技术人发现，在介质处理设备中，当介质运动状 态异常时，该异常状态必然经过一定过渡时间后才能传递给驱动辊，引起驱动辊的转动速 度异常，因此，在介质运动状态异常时，采用上述相关技术不能及时检测到驱动辊转动速度 的异常，即相关技术存在检测灵敏度低的问题。这样，当介质运动状态异常时，介质处理设 备不能及时对介质的异常运动状态进行响应。 针对相关技术中对薄片类介质运动状态检测的灵敏度低的问题，目前尚未提出有 效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种薄片类介质运动状态检测方法和装置及介质处 理设备，以解决相关技术中对薄片类介质运动状态检测的灵敏度低的问题。 为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种薄片类介质运动状态检 测方法。该方法用于对薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动状态进行检 测，该方法包括：检测薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度；根据 检测到的薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度判断薄片类介质的 运动状态。 进一步地，根据检测到的薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动 速度判断薄片类介质的运动状态包括：将检测到的薄片类介质的运动速度与第一预设速度 和/或第二预设速度进行对比，得到对比结果，其中，第一预设速度用于判断薄片类介质是 否处于被拉拽状态，第二预设速度用于判断薄片类介质是否处于卡塞状态，第一预设速度 大于第二预设速度；根据对比结果判断薄片类介质的运动状态，其中，当检测到的薄片类介 质的运动速度大于第一预设速度时，确定薄片类介质处于被拉拽状态，当检测到的薄片类 介质的运动速度小于第二预设速度时，确定薄片类介质处于卡塞状态。 进一步地，检测薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度包 括：检测预设时间内薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的位移量；根据位移 量和预设时间计算薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度。 进一步地，检测预设时间内薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的位 移量包括：对薄片类介质进行图像采集，得到薄片类介质的光学影像；将光学影像转化为 矩阵电信号；对矩阵电信号进行处理分析，计算预设时间内薄片类介质在薄片类介质处理 设备的输送通道中的位移量。 进一步地，检测薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度包 括：检测薄片类介质的瞬时速度。 为了实现上述目的，根据本专利技术的另一方面，提供了一种薄片类介质运动状态检 测装置。该装置用于对薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动状态进行检 测，该装置包括：检测机构，用于检测薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运 动参数；以及控制单元，与检测机构相连接，用于根据检测到的运动参数得到薄片类介质在 薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度，并根据薄片类介质在薄片类介质处理设备 的输送通道中的运动速度判断薄片类介质的运动状态。 进一步地，该运动参数可以是薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的 位移量，也可以是薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度，如果是位 移量，控制单元需要根据位移量计算薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运 动速度，如果是运动速度，则控制单元可以直接得到薄片类介质在薄片类介质处理设备的 输送通道中的运动速度。 进一步地，控制单元用于采用以下方式根据薄片类介质的运动速度判断薄片类介 质的运动状态：将薄片类介质的运动速度与第一预设速度和/或第二预设速度进行对比， 得到对比结果，其中，第一预设速度用于判断薄片类介质是否处于被拉拽状态，第二预设速 度用于判断薄片类介质是否处于卡塞状态，第一预设速度大于第二预设速度；根据对比结 果判断薄片类介质的运动状态，其中，当薄片类介质的运动速度大于第一预设速度时，确定 薄片类介质处于被拉拽状态，当薄片类介质的运动速度小于第二预设速度时，确定薄片类 介质处于卡塞状态。 进一步地，检测机构包括：介质位移检测单元，用于检测预设时间内薄片类介质在 薄片类介质处理设备的输送通道中的位移量；控制单元用于读取介质位移检测单元检测到 的位移量，根据读取到的位移量和预设时间计算薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送 通道中的运动速度。 进一步地，介质位移检测单元用于采用以下方式检测预设时间内薄片类介质在薄 片类介质处理设备的输送通道中的位移量：对薄片类介质进行图像采集，得到薄片类介质 的光学影像；将光学影像转化为矩阵电信号；对矩阵电信号进行处理分析，计算预设时间 内薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的位移量。 进一步地，控制单元用于根据检测机构检测到的运动参数得到薄片类介质的瞬时 速度。 为了实现上述目的，根据本专利技术的另一方面，提供了一种薄片类介质处理设备。该 薄片类介质处理设备包括本发本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种薄片类介质运动状态检测方法，用于对薄片类介质在薄片类介质处理设备的输送通道中的运动状态进行检测，其特征在于，包括：检测所述薄片类介质在所述薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度；以及根据检测到的所述薄片类介质在所述薄片类介质处理设备的输送通道中的运动速度判断所述薄片类介质的运动状态。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：焦朋，车磊，王春涛，徐善华，王鑫平，
申请(专利权)人：山东新北洋信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37
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