一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置制造方法及图纸

技术编号:11027701 阅读:129 留言:0更新日期:2015-02-11 15:01
本发明专利技术公开了一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置,包括电流取样电路,移相电路、恒流输出电路和微处理单元控制器;其中,所述装置还包括一个应对不同标准电容器输出电流变化的调幅电路,调幅电路的输入与移相电路的输出连接,调幅电路输出连接恒流输出电路,所述微处理单元控制器控制连接调幅电路。本发明专利技术可以实现高电压下的电容介质损耗的模拟,模拟电阻不产生电能的损耗,可以在带电的状况下实现无触点的切换,扩大了介质校正的范围,工作安全、操作简单;除了模拟电阻外,本发明专利技术还实现了对电容的变化调整,将一个标准电容扩展为多个标准电容器。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置,包括电流取样电路,移相电路、恒流输出电路和微处理单元控制器;其中,所述装置还包括一个应对不同标准电容器输出电流变化的调幅电路,调幅电路的输入与移相电路的输出连接,调幅电路输出连接恒流输出电路,所述微处理单元控制器控制连接调幅电路。本专利技术可以实现高电压下的电容介质损耗的模拟,模拟电阻不产生电能的损耗,可以在带电的状况下实现无触点的切换,扩大了介质校正的范围,工作安全、操作简单;除了模拟电阻外,本专利技术还实现了对电容的变化调整,将一个标准电容扩展为多个标准电容器。【专利说明】—种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装
本专利技术属于仪器仪表领域,特别涉及一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置。
技术介绍
当电容施加交流电压后,产生的有功损耗称为介质损耗,理想的电容施加交流电压后,流过电容器的电流与电压是成90度角,当电容器有损耗的时,流过电容器的电流与电压的夹角会小于90度,此时与理想的电容电流Ic之间的夹角δ称之为损耗角,其正切值即为介质损耗因素(tgS )。 目前的标准损耗器都是采用串联模型的结构,如图1所示,是用一台标准电容器C(接近理想的电容器)与一个电阻器R串联来实现不同的介质损耗因素值。串联模型下的介质损耗因素(tgS)计算公式: tg δ = ω RC在工作频率一定,电容C 一定的情况下,介质损耗因素的大小与串联的电阻成正比。通过改变R的大小可以改变试品电流与电压之间的夹角,以得到不同的介损值。传统的介损标准器就是采用的此方法实现的。 传统方式的缺陷是:1、串联电阻上消耗的功率大,串联电阻的上消耗的功率P?(UcoC)2XR (注:通常电容的容抗远大于R)在电容量一定的情况下,电阻上消耗的功率与试验电压和串联电阻大小成正比的。也就是试验电压越高,介损档位越大时,串联电阻上消耗的功率越大。 比如当试验电压为200kV,电容量10pF,频率50Hz,tg δ =0.1时, R= tg δ / ω C=3.18ΜΩ P= (200000X314X100X10-12) 2X3.18X106=125ff为了在200kV电压下,用一个10pF标准电容器串联一个电阻器来模拟tg δ =0.1的试品时,需要串联的电阻器电阻值为3.18ΜΩ,电阻功率必须大于125W,电阻的耐压必须大于20kV,电阻还要求有很高的精度,及很低的温度漂移,才能满足设计要求。事实上这样的电阻器是很难得到的。 2、标准电容器测量端耐压受限另外从上例中还能发现,电阻器上需要承受20kV的高压,而标准电容器测量端插座(既Ur上端)一般只能允许最高电压为2kV,因此标准电容器测量端的耐压要求也是无法满足的。 3、分布参数影响如上述的例子,串联电阻阻值达到了 3ΜΩ以上,那么电阻与标准电容器测量端相连的引线对外壳之间分布电容会与串联电阻呈并联关系,还有电阻表面的受潮脏污能都会对电阻的阻抗造成影响。在现实中表现为在不同的环境条件下,介损值会发生变化,不能满足装置最为标准器的要求。 4、不能带电换档。 传统方式切换档位都是采用的机械开关K或插座来实现:如果带电情况下是不允许换档的,会带来不安全因素,一方面切换过程中可能会产生瞬间开路,造成电容器测量端电位太高,产生放电等危险后果。另外通常模拟损耗装置部分离标准电容器距离较近,操作人员是无法靠近的。因此目前传统的标准损耗器使用过程中需要换档,必须将试验电压降至零,并将电容器放电后才可以进行换档。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对上述问题提出的一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置,利用虚拟模拟技术模拟不同电阻值,同时还可以在一个标准电容器下模拟不同容量的电容器。 为了实现上述目的,本专利技术的技术方案是:一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置,包括电流取样电路,移相电路、恒流输出电路和微处理单元控制器;所述电流取样电路用取样电阻将流经标准电容器的电流转换为电压信号;移相电路与电压信号连接,所述移相电路含有相位选择开关电路,相位选择开关电路由微处理单元控制器控制,相位选择开关电路根据已知电阻值对应标准电容器电流的相位损耗角选择通路将电压信号进行移相,恒流输出电路的输出为介质虚拟装置的模拟电流输出;其中,所述装置还包括一个应对不同标准电容器输出电流变化的调幅电路,调幅电路的输入与移相电路的输出连接,调幅电路输出连接恒流输出电路,所述微处理单元控制器控制连接调幅电路。 方案进一步是:所述恒流输出电路包括一个负反馈电路,所述负反馈电路包括一个反馈运算放大器,反馈运算放大器的输出驱动一个恒流输出变压器,恒流输出变压器输出了介质虚拟装置的输出电流信号,其中,反馈运算放大器的正极输入连接电压调幅电路输出,电流信号同时作为反馈连接反馈运算放大器的负极输入用以保证调幅电路输出变化等于电流信号的变化。 方案进一步是:所述恒流输出电路还包括电容量程选择电路,所述电容量程选择电路包括:在所述恒流输出变压器输出与电流信号之间设置的电压比例输出电路,所述电压比例输出电路由多个相同阻值电阻和量程切换开关组成,多个电阻相互串联后并联至恒流输出变压器输出两端,量程切换开关的多个切入触点分别连接至串联电阻之间的节点,量程切换开关的公用触点作为所述电流信号引出,在电流信号引出与运算放大器的负极之间设置有反馈信号放大比例调节电路,所述反馈信号放大比例调节电路由一个比例运算放大器和放大比例开关电路组成,放大比例开关电路由多个电阻和反馈切换开关连接组成,反馈切换开关控制输出的反馈信号放大比例与量程切换开关控制输出的电压输出比例趋势相反,用以保证电流信号引出的是标准电容器的比例输出,所述量程切换开关和反馈切换开关联动。 方案进一步是:所述调幅电路包括一个比较运算放大器,比较运算放大器输出连接恒流输出电路,所述比较放大器含有一个放大倍数选择电路,所述放大倍数选择电路的放大倍数范围保证所述模拟电流输出符合装置设定的工作电压和电容量调节范围。 方案进一步是:所述放大倍数选择电路是由不同比例电阻组成的多级放大倍数选择电路。 方案进一步是:所述放大倍数选择电路是一个由数/模转换电路实现的无级放大倍数选择电路。 方案进一步是:所述微处理单元控制器有一个微处理器,微处理器连接有键盘、显示器和无线信号输入输出处理器,微处理器数据控制输出连接一个译码电路,译码电路输出控制连接所述相位选择开关电路,所述微处理器的数据线输出连接所述放大倍数选择电路。 本专利技术具有的有益效果是:消除了
技术介绍
中的四点缺陷,可以实现高电压下的电容介质损耗的模拟,模拟电阻不产生电能的损耗,可以在带电的状况下实现无触点的切换,扩大了介质校正的范围,工作安全、操作简单;除了模拟电阻外,本专利技术实现了对电容的变化调整,将一个标准电容扩展为多个标准电容器。 下面结合附图和实施例对本专利技术作一详细描述。 【专利附图】【附图说明】 图1为传统电容介质损耗质损耗因数标准校正电路;图2为使用本专利技术电容介质虚拟装置的介质损耗因数标准校正电路;图3为本专利技术电容介质虚拟装置电路结构示意图;图4为本专利技术带电容本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置,包括电流取样电路,移相电路、恒流输出电路和微处理单元控制器;所述电流取样电路用取样电阻将流经标准电容器的电流转换为电压信号;移相电路与电压信号连接,所述移相电路含有相位选择开关电路,相位选择开关电路由微处理单元控制器控制,相位选择开关电路根据已知电阻值对应标准电容器电流的相位损耗角选择通路将电压信号进行移相,恒流输出电路的输出为介质虚拟装置的模拟电流输出;其特征在于,所述装置还包括一个应对不同标准电容器输出电流变化的调幅电路,调幅电路的输入与移相电路的输出连接,调幅电路输出连接恒流输出电路,所述微处理单元控制器控制连接调幅电路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张军朱琦叶剑涛卢冰李伟付济良李炯
申请(专利权)人:国家电网公司国网安徽省电力公司电力科学研究院中国电力科学研究院上海思创电器设备有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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