静电测试仪检测系统及方法技术方案

技术编号:11018343 阅读:111 留言:0更新日期:2015-02-11 09:02
一种静电测试仪检测方法,用于检测至少一个静电测试仪是否正常,其中,该方法包括步骤:将若干光耦合电路分别与若干待检测的静电测试仪连接,并将一单片机与该若干光耦合电路连接;通过光耦合电路侦测对应的静电测试仪的电压测试点以及连试点的电压而分别产生电压侦测信号以及连接侦测信号;以及通过单片机接收每一光耦合电路产生的电压侦测信号以及连接侦测信号,并根据该接收的电压侦测信号以及连接侦测信号确定与输出该电压侦测信号以及连接侦测信号的耦合电路所连接的静电测试仪是否工作正常而得到一检测结果。本发明专利技术还提供一种静电测试仪检测系统。本发明专利技术可自动对静电测试仪进行检测,减少了人力成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测系统,特别涉及一种。
技术介绍
目前,在电子设备的生产车间,为了防止电子设备被聚集的静电损坏,一般都要求 员工佩戴静电环,同时还需要使用静电测试仪对车间的接地线等进行测试,以及时消除静 电的隐患。为了防止静电测试仪出现故障而导致静电危害电子设备,目前的静电测试仪一 般均需要专门人员进行经常检查,确定是否工作正常。这样,耗费了大量人力,且由于为人 为进行检查,容易出现漏检或检查错误的情况。
技术实现思路
本专利技术提供一种,能够自动检查静电测试仪是否良 好。 一种静电测试仪检测系统,用于对至少一个静电测试仪进行检测,每一静电测试 仪具有一连接测试点以及一电压测试点,其中,该静电测试仪检测系统包括至少一光耦合 电路以及一单片机。每一光耦合电路用于分别与一静电测试仪连接,用于将对应连接测试 点的电压以及电压测试点的电压分别转换成连接测试信号以及电压测试信号。该单片机 与该至少一光耦合电路均连接,用于接收光耦合电路产生的连接测试信号以及电压测试信 号,并根据该连接测试信号以及电压测试信号确定每一光耦合电路所连接的静电测试仪的 是否工作正常。 -种静电测试仪检测方法,用于检测至少一个静电测试仪是否正常,其中,该方法 包括步骤:将若干光耦合电路分别与若干待检测的静电测试仪连接,并将一单片机与该若 干光耦合电路连接;通过光耦合电路侦测对应的静电测试仪的电压测试点以及连试点的电 压而分别产生电压侦测信号以及连接侦测信号;以及通过单片机接收每一光耦合电路产生 的电压侦测信号以及连接侦测信号,并根据该接收的电压侦测信号以及连接侦测信号确定 与输出该电压侦测信号以及连接侦测信号的耦合电路所连接的静电测试仪是否工作正常 而得到一检测结果。 本专利技术的,能够自动检查静电测试仪是否良好,减少 人力成本。 【附图说明】 图1为本专利技术一实施方式中静电测试仪检测系统的框架示意图。 图2为本专利技术一实施方式中静电测试仪检测系统中光耦合电路的电路图。 图3为本专利技术一实施方式中逻辑表的不意图。 图4为本专利技术一实施方式中静电测试仪检测系统中的服务器的模块示意图。 图5为本专利技术一实施方式中静电测试仪检测方法的流程图。 主要元件符号说日日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种静电测试仪检测系统,用于对至少一个静电测试仪进行检测,每一静电测试仪具有一连接测试点以及一电压测试点,其特征在于,该静电测试仪检测系统包括:至少一光耦合电路,用于分别与一静电测试仪连接,用于将对应连接测试点的电压以及电压测试点的电压分别转换成连接测试信号以及电压测试信号;一单片机,与该至少一光耦合电路均连接,用于接收光耦合电路产生的连接测试信号以及电压测试信号,并根据该连接测试信号以及电压测试信号确定每一光耦合电路所连接的静电测试仪的是否工作正常。

【技术特征摘要】
1. 一种静电测试仪检测系统,用于对至少一个静电测试仪进行检测,每一静电测试仪 具有一连接测试点W及一电压测试点,其特征在于,该静电测试仪检测系统包括: 至少一光禪合电路,用于分别与一静电测试仪连接,用于将对应连接测试点的电压W 及电压测试点的电压分别转换成连接测试信号W及电压测试信号; 一单片机,与该至少一光禪合电路均连接,用于接收光禪合电路产生的连接测试信号 W及电压测试信号,并根据该连接测试信号W及电压测试信号确定每一光禪合电路所连接 的静电测试仪的是否工作正常。2. 如权利要求1所述的静电测试仪检测系统,其特征在于,每一光禪合电路包括第一 接入点、第二接入点、第一输出点W及第二输出点;该第一接入点用于与对应的静电测试仪 的连接测试点连接而获得连接测试点的电压,第二接入点用于与该电压测试点连接而获得 该电压测试点的电压;该单片机包括若干对连接侦测引脚W及电压侦测引脚,每一对连接 侦测引脚W及电压侦测引脚与一光禪合电路的第一输出点W及第二输出点分别连接,该单 片机通过该连接侦测引脚获得光禪合电路输出的连接测试信号W及通过该电压侦测引脚 获得光禪合电路输出的电压测试信号。3. 如权利要求2所述的系统,其特征在于,该光禪合电路用于对连接测试点的电压W 及电压测试点的电压进行反转而得到该连接测试信号W及电压测试信号,其中,当该静电 测试仪的电压测试点与连接测试点的电压均为高电平时,表明静电测试仪工作正常,从而, 单片机在一静电测试仪的连接测试信号W及电压测试信号均为低电平时,确定对应的静电 测试仪工作正常。4. 如权利要求3所述的系统,其特征在于,每一光禪合电路包括第一光禪合器、第二光 禪合器、电压端W及第一、第二电阻,该第一光禪合器包括第一输入端、第二输入端、第一输 出端W及第二输出端,该第一光禪合器的第一输入端与该第一接入点电连接,第二接入端 接地,第一输出端与该第一输出点连接且通过第一电阻与电压端连接,第二输出端接地;该 第二光禪合器包括第一输入端、第二输入端、第一输出端W及第二输出端,该第二光禪合器 的第一输入端与该第二接入点电连接,第二输入端接地,第一输出端与该第二输出点连接 且通过电阻与该电压端连接,第二输出端接地。5. 如权利要求3所述的系统,其特征在于,该单片机还根据每一对连接至一相应的光 禪合电路的连接侦测引脚W及电压侦测引脚接收的连接测试信号W及电压测试信号建立 当前时间对应的包括该至少一个静电测试仪的检测数据的逻辑表,该逻辑表包括名称栏 位、电压测试信号栏位、连接测试信号栏位、检测结果栏位W及检测时间栏位,其中,该名称 栏位包括各个静电测试仪名称,该检测结果栏位记录了每一静电测试仪的检测结果,该检 测时间栏位记录了当前的检测时间。6. 如权利要求5所述的系统,其特征在于,该系统还包括创建模块、分析模块、存储控 制模块W及状态确定模块,该创建模块用于创建包括正常工作时间数据库表格W及休息时 间数据库表格在内的多个数据库表格;该分析模块用于对单片机发送的逻辑表进行分析, 根据逻辑表中的测试时间与预设的工作时间表进行对比,确定逻辑表中检测数据的测试时 间所属的时间段,该分析模块并根据待测试的静电测试仪与产线的对应关系,确定该逻辑 表中的检测结果所对应的产线编号;存储控制模块用于根据逻辑表中检测数据的测试时间 而将产线编号、检测结果W及测试时间关联存储至对应的数据库表格中;该状态确定模块 用于根据各个数据库表格中存储的关联数据确定每一产线编号对应的产线/静电测试仪 的状态是否正常。7. 如权利要求6所述的系统,其特征在于,该存储控制模块用于根据逻辑表中检测数 据的测试时间而将产线编号、检测结果W及测试时间关联存储至对应的数据库表格中为: 该存储控制模块判断当前逻辑表中的测试时间所属为工作时间段,则将产线编号、测试时 间W及检测结果...

【专利技术属性】
技术研发人员:张贵真杨全龙曾泓仁
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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