一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法技术

技术编号:11003466 阅读:86 留言:0更新日期:2015-02-05 03:40
一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法,步骤如下:1.收集历史数据;2.建立密度分布函数及对数极大似然函数;3.明确截尾期望值与质量特性的潜在分布形式的关系;4.还原初始质量检测数据并确定截尾分布参数与其期望值的关系;5.迭代步骤2—4至参数值所需精度,并确定收敛CEV下的截尾期望值;6.对样本检测值进行分组,设计和计算各组检测统计量;7.确定控制图的控制限;8.确定截尾型质量特性控制图的控制界限属性;9.控制图的性能比较分析;10.基于平均运行链长的控制图的性能比较分析;11.录入样本检测值,完成控制图的构建。本发明专利技术弥补了传统控制图在过程监控中的局限性,具有广阔的应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法
本专利技术提供了一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法,属于统 计过程控制

技术介绍
统计过程控制是当今一种最流行和最有效的质量改进方法。统计过程控制技术主 要指运用休哈特的过程控制理论即控制图来监测产品在生产过程中的各个阶段(工序)的 质量特性,根据控制图上的点子分布状况,分析质量特性的趋势,采取预防措施,确保生产 过程始终处于统计控制状态,从而达到改进与保证质量的目的。 由于检测技术、时间和成本的约束,为了达到更高的质量要求,统计过程控制领域 中存在着大量的截尾型质量特性需要更加精确的分析与监控。有限的检测条件,提前设定 的检测阈值以及样本的非持续性跟踪都可能造成数据的截尾或删失,造成了质量数据信息 的不完整性,限制了准确获知质量特性分布情况的能力。截尾质量特性不同于传统的计量 型和计数型统计数据,因为它不是单纯的记录每一个质量特征值,也不是单纯的统计合格 品或不合格品数。通常情况下,截尾型质量特性数据是计量型和计数型混杂的复合型数 据,因此,无论是采用传统的计量型控制图还是计数型控制图对截尾特性的统计控制,都会 导致采样信息的不充分利用和监控效果的降低,其结果是相对成本的提高和监控能力的降 低。针对截尾质量特性数据的混合型特点,亟需充分利用样本信息,构建适于截尾特性的控 制图。为此,本专利技术以应用最为广泛的威布尔型截尾特性为对象,给出了一种基于收敛CEV 的威布尔型截尾特性控制图的制作方法,用于截尾特性的统计过程监控。 【
技术实现思路
】 (1)本专利技术的目的: 针对截尾型质量特性的复合型特点,传统过程控制中计量型和计数型控制图并不 适用的问题,本专利技术提供一种新的控制图--一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制 图的制作方法。在充分正视截尾型数据失真的基础上,选用逼近问题中逐次渐进的数学原 理为指导,深入剖析截尾特性以尽可能还原数据的真实状态,并基于威布尔分布广泛应用 于截尾数据分布处理的规律,提出基于数据渐近还原思想的截尾特性收敛CEV分析方法并 用于威布尔型截尾数据的拟真处理。一方面,最大程度地还原截尾数据以获取更多的样本 信息;另一方面,基于还原后的样本信息合理的构建威布尔分布下的截尾特性控制图,很好 的解决了进行截尾特性统计控制的两个突出问题:截尾特性的最佳取值和截尾特性的最优 控制图选用。本专利技术监测过程截尾型质量特性的波动,弥补了传统控制图对复合型质量特 性的监控瓶颈,完善了高质量过程的监控。 (2)技术方案: 本专利技术一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法,提出的基本假 设如下: 假设1过程是可测量。 假设2过程检测值是右截尾型质量特性。 假设3测量值相互独立。 假设4过程检测值服从威布尔分布。 假设5过程期望误报警率Rf -定。 基于上述假设,本专利技术提出的一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制 作方法,其步骤如下: 步骤1收集过程中右截尾质量检测数据(简称收集历史收据); 步骤2建立右截尾型质量特性的密度分布函数及考虑截尾因素的对数极大似然 函数; 步骤3明确截尾数据的截尾期望值与质量特性的潜在分布形式的相关函数关系; 该相关函数关系为v。= EC{(X,0 ) I (X,0 )彡C} = h( 0 ),且有本文档来自技高网...
一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法

【技术保护点】
一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法,假设条件如下: 假设1过程是可测量; 假设2过程检测值是右截尾型质量特性; 假设3测量值相互独立; 假设4过程检测值服从威布尔分布; 假设5过程期望误报警率Rf一定; 基于上述假设,所述的制作方法,其特征在于:其步骤如下: 步骤1收集过程中右截尾质量检测数据; 步骤2建立右截尾型质量特性的密度分布函数及考虑截尾因素的对数极大似然函数; 步骤3明确截尾数据的截尾期望值与质量特性的潜在分布形式的相关函数关系; 该相关函数关系为vc=Ec{(X,θ)|(X,θ)≥C}=h(θ), 且有步骤4拟真还原初始质量检测数据并确定截尾过程分布参数与截尾期望值的函数关系; 步骤5迭代步骤2—步骤4至参数值所需精度,并确定收敛CEV下的截尾期望值,完成最终的数据拟真还原; 步骤6对更新后的样本检测值进行分组,并设计和计算各组检测统计量; 所述的“分组”是指将未经排序的右截尾样本数据每n个为一组,分别计算每小组的检验统计量Tj=Σi∈DXi+mC/n,(j=1,2,...,N/n),得到统计量矩阵TS=[T1,T2,...,TN/n]T; 步骤7依据给定的期望误报警率确定所构建控制图的控制限; 步骤8确定截尾型质量特性控制图的控制界限属性; 步骤9过程稳定情况下的基于最优反应距离的控制图的性能比较分析; 步骤10过程异常情况下的基于平均运行链长的控制图的性能比较分析;所述“平均运行链长”是指过程失控状态下的平均运行链长; 步骤11录入拟真还原后的样本检测值,完成控制图的构建,并观察有无异常点,否则返回步骤1重新执行至过程判定为稳受控。...

【技术特征摘要】
1. 一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法,假设条件如下: 假设1过程是可测量; 假设2过程检测值是右截尾型质量特性; 假设3测量值相互独立; 假设4过程检测值服从威布尔分布; 假设5过程期望误报警率Rf -定; 基于上述假设,所述的制作方法,其特征在于:其步骤如下: 步骤1收集过程中右截尾质量检测数据; 步骤2建立右截尾型质量特性的密度分布函数及考虑截尾因素的对数极大似然函数; 步骤3明确截尾数据的截尾期望值与质量特性的潜在分布形式的相关函数关系; 该相关函数关系为v。= E。{(X,0 ) I (X,0 )彡C} = h ( 0 ), 且有尽{(Z,)} 〇/(1;外Zx,瓦{(JT,沒)2 C} =£V(x;外Zx ; 步骤4拟真还原初始质量检测数据并确定截尾过程分布参数与截尾期望值的函数关 系; 步骤5迭代步骤2-步骤4至参数值所需精度,并确定收敛CEV下的截尾期望值,完成 最终的数据拟真还原; 步骤6对更新后的样本检测值进行分组,并设计和计算各组检测统计量; 所述的分组是指将未经排序的右截尾样本数据每n个为一组,分别计算每小组的检 验统计量 Tj = I: i e A+mC/n,(j = 1,2,. . .,N/n),得到统计量矩阵 TS = [T1, T2,. . .,TN/n] T 步骤7依据给定的期望误报警率确定所构建控制图的控制限; 步骤8确定截尾型质量特性控制图的控制界限属性; 步骤9过程稳定情况下的基于最优反应距离的控制图的性能比较分析; 步骤10过程异常情况下的基于平均运行链长的控制图的性能比较分析;所述平均运 行链长是指过程失控状态下的平均运行链长; 步骤11录入拟真还原后的样本检测值,完成控制图的构建,并观察有无异常点,否则 返回步骤1重新执行至过程判定为稳受控。2. 根据权利要求1所述的一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法, 其特征在于:在步骤1中所述的收集过程中右截尾质量检测数据,是指收集过程右截尾 质量检测历史数据,它应当采集20-70组右截尾数据,样本数量太少,不利于评估过程是否 失控,样本数量过多,则会增加采样成本。3. 根据权利要求1所述的一种基于收敛CEV的威布尔型截尾特性控制图的制作方法, 其特征在于:在步骤2中所述的右截尾质量特性的密度分布函数及考虑截尾因素的对数 极大似然函数,分别为/bp 即/bf'n S(xf+和 log L(e) = (N-IOS(CJ) + !^ eDf (Xi ;0),0代表一个或多个质量特性...

【专利技术属性】
技术研发人员:何益海王林波何珍珍
申请(专利权)人:北京航空航天大学
类型:发明
国别省市:北京;11

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