多批次成败型试验下产品贮存期评估的Buehler 方法技术

本发明专利技术针对产品不同贮存年限下的成败型贮存寿命试验，建立了贮存可靠性及贮存期评估的样本空间排序方法。所提供的方法适用于贮存寿命服从指数分布、威布尔分布、对数正态分布情形。基于上述模型，利用多批次成败型实验信息确定产品可靠性评估结果。本发明专利技术能快速准确的利用不完全实验信息对目标产品进行可靠性评估。

【技术实现步骤摘要】

：本专利技术设计一种针对多批次成败型试验数据的可靠性评估方法。
技术介绍
当前，在军事、航天等领域，甚至一些商业领域，对产品的可靠性的要求越来越高。但是由于产品性质的限制，造成在对某些种类的产品做贮存寿命试验只能进行破坏性试验，得到成败型试验数据。对此类产品所做的试验得到多批次成败型试验，所蕴含的信息量较少，传统方法难以针对此类数据作出评估。本产品通过引入样本空间排序法针对不同模型提出的排序准则，对目标产品可靠性进行更高效高精度的评估。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基于多批次成败型试验数据的产品可靠性统计评估方法，它是针对特定的试验数据类型，确定产品可靠性评估结果的计算方法。本专利技术通过考虑产品寿命试验数据类型，针对多批次成败型试验产品，确定产品寿命模型，利用样本空间排序法建立相应的排序准则，并利用分支定界算法确定产品可靠性评估结果。本专利技术是一种针对多批次成败型试验数据的可靠性统计评估方法，其具体步骤如下：步骤1，确定产品寿命模型：产品寿命模型来自于对该产品性质的分析，为该类型的产品提供了重要信息。步骤2，确定样本空间排序法所需要的不同模型下的排序方法：基于多批次成败型试验数据，针对不同的寿命模型，提出适当的排序准则。该排序准则是模型可靠性参数的重要度量，对序的选择决定了方法的效率和精度。步骤3，可靠性评估算法：基于上面的寿命模型和确定的排序准则，利用分枝定界算法得到产品贮存可靠性的置信下限。其中步骤1中所述的产品寿命模型来自指数分布、对数正态分布、韦布尔分布。其中，步骤2中所述的样本空间排序法，是指，设产品贮存寿命随机变量X～Fθ(x)，x＞0，分布参数θ∈Θ，。我们所能观测到的是I型删失试验数据，即(t1，y1)，…，(tn，yn)，其中II{.本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种考虑多批次成败型产品的可靠性统计评估方法，包括：确定产品试验数据模型；利用产品的多批次成败型试验数据，针对不同的产品寿命数据模型，利用样本空间排序法对可靠性参数作出评估统计推断。

【技术特征摘要】
1.一种考虑多批次成败型产品的可靠性统计评估方法，包括：确定产品试验数据模型；利用产品的多批次成败型试验数据，针对不同的产品寿命数据模型，利用样本空间排序法对可靠性参数作出评估统计推断。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述确定产品试验数据模型包括确定产品实验数据形式以...

【专利技术属性】
技术研发人员：于丹，李赵辉，胡庆培，
申请(专利权)人：中国科学院数学与系统科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11