温度测试仪制造技术

技术编号:10945205 阅读:103 留言:0更新日期:2015-01-22 20:59
本发明专利技术涉及一种测试装置,具体涉及一种温度测试装置。一种温度测试仪,由温度信号采集单元,单片机数据处理单元以及输出单元组成;其中,由温度信号采集单元、单片机数据处理单元以及输出单元顺次连接。所述温度信号采集单元部分包括依次连接的温度传感器、信号放大调理电路以及A/D转换电路,A/D转换电路连接片机数据处理单元。本温度测量系统设计,是采用PT100温度传感器经过放大和A/D转换器送到单片机进行控制温度显示,另外本系统还可以通过外接电路扩展实现温度报警功能,从而更好的实现温度现场的实时控制。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试装置,具体涉及一种温度测试装置。
技术介绍
温度传感器从使用的角度大致可分为接触式和非接触式两大类,前者是让温度传感器直接与待测物体接触,而后者是使温度传感器与待测物体离开一定的距离,检测从待测物体放射出的红外线,达到测温的目的。在接触式和非接触式两大类温度传感器中,相比运用多的是接触式传感器,非接触式传感器一般在比较特殊的场合才使用,目前得到广泛使用的接触式温度传感器主要有热电式传感器,其中将温度变化转换为电阻变化的称为热电阻传感器,将温度变化转换为热电势变化的称为热电偶传感器。热电阻传感器可分为金属热电阻式和半导体热电阻式两大类,前者简称热电阻,后者简称热敏电阻。常用的热电阻材料有铂、铜、镍、铁等,它具有高温度系数、高电阻率、化学、物理性能稳定、良好的线性输出特性等,常用的热电阻如PT100、PT1000等。近年来各半导体厂商陆续开发了数字式的温度传感器,如DALLAS公司DS18B20,MAXIM公司的MAX6576、MAX6577,ADI公司的AD7416等,这些芯片的显著优点是与单片机的接口简单,如DS18B20该温度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种温度测试仪,其特征在于:由温度信号采集单元,单片机数据处理单元以及输出单元组成;其中,由温度信号采集单元、单片机数据处理单元以及输出单元顺次连接。

【技术特征摘要】
1.一种温度测试仪,其特征在于:由温度信号采集单元,单片机数据处理单元以及输出单元组成;其中,由温度信号采集单元、单片机数据处理单元以及输出单元顺次连接。
2.如权利要求1一种温度测试仪,其特征在于:所述温度信号采集单元部分包括依次连接的温度传感器、信号放大调理电路以及A/D转换电路,A/D转换电路连接片机数据处理单元。
3.如权利要求2一种温度测试仪,其特征在于:所述温度传感器采用PT100传感器。

【专利技术属性】
技术研发人员:王耀斌
申请(专利权)人:陕西高新实业有限公司
类型:发明
国别省市:陕西;61

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