温度计制造技术

本发明专利技术提供一种温度计，能够可靠且高精度地测量流动有高温气体的烟道内的规定位置的温度，所述高温气体中含有粉尘等使光散射的光散射颗粒。温度计(100)包括照射部(1)、受光部(3)、透镜部(5)和计算部(773)。照射部(1)向流动有含有光散射颗粒(P)的气体(S)的烟道(50)内照射测量光(Lm)。受光部(3)接收测量光(Lm)中被光散射颗粒(P)散射的散射测量光(Ld)。透镜部(5)设置在比受光部(3)靠近烟道(50)侧。此外，透镜部(5)位于向受光部(3)的受光面的法线方向延伸的受光轴(Ar)上。透镜部(5)的焦点F设置在受光轴(Ar)上的烟道(50)内的规定位置上。计算部(773)根据多个波长的吸收光谱的强度比，计算烟道(50)内的温度。

【技术实现步骤摘要】
温度计
本专利技术涉及根据在烟道中流动的气体对光的吸收测量烟道内的温度的温度计。
技术介绍
大家知道，根据废气中规定成分的吸收光谱测量工厂或焚烧装置等的烟道中流动 的废气温度的装置(例如参照专利文献1)。 在专利文献1所示的测量系统中，使来自半导体激光器的入射光入射到容器内的 气体上，因此通过了该容器的透射光被受光元件接收。此时，容器内的气体吸收特定波段的 光。由于在该波段中存在有吸收线，通过进行半导体激光器的激光波长扫描，能够测量透射 光（由气体造成的光的吸收）的谱线轮廓。 在专利文献1所示的测量系统中，用半导体激光器的振荡波长分别对容器内的气 体所吸收的光的不同的两个波长进行扫描，测量出两个吸收线，通过它们的面积比(或峰高 比)，对容器内的气体的温度进行测量。 专利文献1 :日本专利公开公报特开2000-74830号 利用专利文献1所示的测量系统测量烟道内的温度时，需要在隔着烟道与设置有 半导体激光器的烟道侧壁相反一侧的烟道侧壁上，设置受光元件(有时也把这种结构的测 量装置称为交叉叠放方式的测量装置)。因此可以考虑到有以下两个问题。 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种温度计，其特征在于，包括：照射部，向流动有含有光散射颗粒的气体的烟道内照射测量光；受光部，接收所述测量光中被所述光散射颗粒散射的散射测量光；透镜部，设置在比所述受光部靠近所述烟道侧、且位于向所述受光部的受光面的法线方向延伸的受光轴上，并且所述透镜部的焦点设置在所述受光轴上的所述烟道内的规定位置上；计算部，根据多个波长的吸收光谱的强度比，计算所述烟道内的温度，所述多个波长的吸收光谱包含在由所述受光部接收的所述散射测量光中、且在所述气体中的规定成分的吸收光谱中。

【技术特征摘要】
2013.03.21 JP 2013-0584161. 一种温度计，其特征在于，包括： 照射部，向流动有含有光散射颗粒的气体的烟道内照射测量光； 受光部，接收所述测量光中被所述光散射颗粒散射的散射测量光； 透镜部，设置在比所述受光部靠近所述烟道侧、且位于向所述受光部的受光面的法线 方向延伸的受光轴上，并且所述透镜部的焦点设置在所述受光轴上的所述烟道内的规定位 置上； 计算部，根据多个波长的吸收光谱的强度比，计算所述烟道内的温度，所述多个波长的 吸收光谱包含在由所述受光...

【专利技术属性】
技术研发人员：井户琢也，森哲也，
申请(专利权)人：株式会社堀场制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP