本实用新型专利技术提供了一种基座及桥式一贯机测试定位装置，属于半导体测试领域。基座包括，连接板、夹爪连接件、连接杆、弹簧、第一夹爪和第二夹爪。桥式一贯机测试定位装置包括基座和定位机构，定位机构包括基座载台和带动连接件，基座与基座载台连接，基座载台通过套设第二弹簧的第二连接杆和套设第三弹簧的第三连接杆与带动连接件连接。第一夹爪和第二夹爪在连接板的带动下可以合拢或撑开，第一夹爪和第二夹爪合拢后可以把待测物件准确定位在测试位置上，改善了现有技术中待测物件不能准确定位在测试位置上的问题。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供了一种基座及桥式一贯机测试定位装置，属于半导体测试领域。基座包括，连接板、夹爪连接件、连接杆、弹簧、第一夹爪和第二夹爪。桥式一贯机测试定位装置包括基座和定位机构，定位机构包括基座载台和带动连接件，基座与基座载台连接，基座载台通过套设第二弹簧的第二连接杆和套设第三弹簧的第三连接杆与带动连接件连接。第一夹爪和第二夹爪在连接板的带动下可以合拢或撑开，第一夹爪和第二夹爪合拢后可以把待测物件准确定位在测试位置上，改善了现有技术中待测物件不能准确定位在测试位置上的问题。【专利说明】基座及桥式一贯机测试定位装置
本技术涉及半导体测试领域，具体涉及一种测试模组基座及桥式一贯机测试定位装置。
技术介绍
将待测物件通过链条与设置在链条上的固定间距齿片传送到测试位置，一贯机测试定位装置则将待测物件定位在测试位置上以便于进行测试。现有的桥式一贯机测试定位装置，在测试模组沿链条运动的方向上加装有挡片，在桥式一贯机测试定位装置的运行过程中，当待测物件通过链条与固定间距齿片载运到测试探针下方位置后，一贯机测试定位装置下移，再通过所述挡片和固定间距齿片来固定待测物件，使其定位在测试探针位置。由于链条在长时间的运行下，局部造成拉伸，使固定间距齿片之间的距离变长，由于待测物件在运行时紧靠固定间距齿片，固定间距齿片之间的间距因长期使用距离变长使待测物件无法准确定位及导正在测试位置，造成测试不良及误判的情况。此外，在链条达到测试位置停止时，由于惯性，待测物件可能滑过挡片的下方，使挡片无法定位，进而导致测试无法完成。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种基座，同时提供一种应用该基座的桥式一贯机测试定位装置，以改善现有技术中，由于链条的拉伸或者待测物件划过挡片后，待测物件不能准确定位在测试位置的问题。 本技术是这样实现的: 一种基座，包括连接板、夹爪连接件、连接杆和弹簧；所述夹爪连接件设置于所述连接板的下方，所述连接板设置有第一通孔，所述夹爪连接件设置有第二通孔，所述连接杆穿出所述第一通孔并与所述连接板滑动连接，所述连接杆穿出所述第二通孔并与所述夹爪连接件固定连接；所述弹簧设置于所述连接板与所述夹爪连接件之间且套设于所述连接杆夕卜，并且所述弹簧的外径大于所述第一通孔的直径； 所述基座还包括分别位于所述连接杆的两侧的第一夹爪和第二夹爪，所述第一夹爪设置有第一转动轴，所述第一夹爪通过所述第一转动轴与所述夹爪连接件转动连接，所述第二夹爪设置有第二转动轴，所述第二夹爪通过所述第二转动轴与所述夹爪连接件转动连接；所述连接板设置有固定件，所述固定件设置有平行于所述第一转动轴的第三转动轴和平行于所述第二转动轴的第四转动轴，所述第三转动轴和所述第一夹爪转动连接，所述第四转动轴和所述第二夹爪转动连接。 较优的，所述夹爪连接件设有第一通槽和第二通槽，且所述第一通槽和所述第二通槽分别位于所述连接杆的两侧；所述第一通槽包括两个第一槽壁，所述第一转动轴位于所述第一通槽内，且第一转动轴的两端分别与一个所述第一槽壁连接；所述第二通槽包括两个第二槽壁，所述第二转动轴位于所述第二通槽内，且第二转动轴的两端分别与一个所述第二槽壁连接。这样设置使夹爪的连接更稳定，并且使连接部位的受力更均匀，延长夹爪及夹爪连接件的使用寿命。 较优的，所述第一通孔设置于所述连接板中部，所述第二通孔设置于所述夹爪连接件中部，所述第一夹爪与所述第二夹爪关于所述连接杆轴对称，所述第一夹爪与所述第二夹爪的结构相同。这样设置使得所述夹爪能够更好的实现定位的目的，同时也便于安装。 进一步的，所述第一夹爪包括“L”形夹杆、第一夹片和第二夹片，所述“L”形夹杆包括相连接的转轴连接部和夹持部，所述第一夹片与所述第二夹片分别位于所述夹持部的两侧，所述第一转动轴设置于所述转轴连接部，所述第三转动轴与所述转轴连接部转动连接。作为一种使用方式，本技术提供的基座在使用时，连接杆放置于待测物件上，连接杆两侧的夹爪夹住待测物件以实现定位。这样设置使夹爪的重量减轻，从而减轻了连接杆对待测物件施加的压力，避免对待测物件造成损坏，并且由于本技术的桥式一贯机测试定位装置在实际应用中常处于24小时连续工作，夹爪的长时间转动会对轴产生明显的磨损，减轻夹爪的重量可以有效的减缓对轴的磨损速度。 进一步的，所述连接杆远离所述连接板的一端的端面为平滑的曲面，所述曲面上设置有光滑的涂层。这样设置避免了夹爪在定位待测物件时对待测物件表面造成划痕，并且通过增加与待测物件接触面的光滑度，使夹爪移动待测物件更容易。 一种包含上述基座的桥式一贯机测试定位装置，还包括定位机构；所述定位机构包括基座载台和带动连接件；所述基座载台设有第二连接杆、第三连接杆，所述带动连接件设置有第三通孔、第四通孔，所述第二连接杆、所述第三连接杆与所述带动连接件连接，且所述第二连接杆、所述第三连接杆分别穿出所述第三通孔、所述第四通孔；所述第二连接杆和所述第三连接杆外分别套设有第二弹簧、第三弹簧，且所述第二弹簧、所述第三弹簧均位于所述基座载台与所述带动连接件之间，所述第二弹簧的外径大于所述第三通孔的直径，所述第三弹簧的外径大于所述第四通孔的直径；所述基座的连接板与所述基座载台连接。 进一步的，所述基座的连接板与所述基座载台通过螺栓连接。这样设置使基座能够从定位机构上拆卸下来，方便对基座的更换。 本技术实现的技术效果: 本技术提供的基座，通过连接板的下移带动第三转动轴、第四转动轴下移，继而带动第一夹爪、第二夹爪下移并向中间合拢，把待测物件准确修正并且定位在测试位置上，改善了现有技术中，由于链条的拉伸或者待测物件划过挡片后，待测物件不能准确定位在测试位置上的问题。 本技术提供的桥式一贯机测试定位装置，通过将所述基座与现有技术的定位机构连接，来实现所述基座随着所述定位机构的升/降而升/降，并且通过所述基座的下降来实现，将待测物件准确的定位在测试位置上，通过所述基座的上升来实现夹爪撑开、连接杆离开已测物件，以便链条移动，使已测物件移动到下一个工序。本技术提供的桥式一贯机测试定位装置，改善了现有技术中，由于链条的拉伸或者待测物件划过挡片后，待测物件不能准确定位在测试位置的问题。 【专利附图】【附图说明】 图1示出了本技术实施例提供的基座的外形结构； 图2示出了本技术实施例提供的基座的内部结构； 图3示出了本技术实施例提供的桥式一贯机测试定位装置的结构。 【具体实施方式】 下面通过具体的实施例子并结合附图对本技术做进一步的详细描述。 本技术提供的基座的实施例 参阅图1-图2，本技术实施例提供的基座包括，连接板105、夹爪连接件112、连接杆107和弹簧111 ;所述夹爪连接件112设置于所述连接板105的下方，所述连接板105设置有第一通孔113，所述夹爪连接件112设置有第二通孔，所述连接杆107穿出所述第一通孔113与所述连接板105滑动连接。作为最简单的一种滑动连接的实施方式，可将第一通孔113的直径设置为略大于连接杆的外径。在实际应用中，较优的，所述第一通孔113的中心与所述第二通孔的中心位于同一竖直线上。当然，第一通孔11本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基座，其特征在于，包括连接板、夹爪连接件、连接杆和弹簧；所述夹爪连接件设置于所述连接板的下方，所述连接板设置有第一通孔，所述夹爪连接件设置有第二通孔，所述连接杆穿出所述第一通孔并与所述连接板滑动连接，所述连接杆穿出所述第二通孔并与所述夹爪连接件固定连接；所述弹簧设置于所述连接板与所述夹爪连接件之间且套设于所述连接杆外，并且所述弹簧的外径大于所述第一通孔的直径；所述基座还包括分别位于所述连接杆的两侧的第一夹爪和第二夹爪，所述第一夹爪设置有第一转动轴，所述第一夹爪通过所述第一转动轴与所述夹爪连接件转动连接，所述第二夹爪设置有第二转动轴，所述第二夹爪通过所述第二转动轴与所述夹爪连接件转动连接；所述连接板设置有固定件，所述固定件设置有平行于所述第一转动轴的第三转动轴和平行于所述第二转动轴的第四转动轴，所述第三转动轴和所述第一夹爪转动连接，所述第四转动轴和所述第二夹爪转动连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：田志纶，
申请(专利权)人：田志纶，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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