【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种CMOS图像传感器产品的CP测试装置，包括探针卡，探针卡上设有自动对焦的镜头组件，自动对焦的镜头组件包括镜头，镜头连接有自动马达，自动马达通过FPC柔性电路板与所述探针卡连接。可以自动控制镜头的焦距，极大的提高了调试的效率、降低了测试的成本。【专利说明】CMOS图像传感器产品的CP测试装置
本技术涉及一种WAFER测试装置，尤其涉及一种CMOS图像传感器产品的CP测试装置。
技术介绍
如图1所示，CMOS图像传感器产品的WAFER测试(CP测试)，需要在探针卡(PROBECARD)上安装镜头(PUPIL LENS)，才能保证测试的准确性。 现有技术中的方式是固定焦距的镜头，调试效率低、测试成本高。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种调试效率高、测试成本低的CMOS图像传感器产品的CP测试装置。 本技术的目的是通过以下技术方案实现的: 本技术的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，包括探针卡，所述探针卡上设有自动对焦的镜头组件，所述自动对焦的镜头组件包括镜头，所述镜头连接有自动马达，所述自动马达与所述探针卡连接。 由上述本技术提供的技术方案可以看出，本技术实施例提供的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，由于探针卡上设有自动对焦的镜头组件，提高了调试的效率、降低了测试的成本。 【专利附图】【附图说明】 图1为现有技术中CMOS图像传感器产品的CP测试装置的探针卡的组装结构示意图； 图2为本技术实施例中自动对焦的镜头组件的结构示意图。 图中:1、镜头，2、自动马达，3、FPC柔性电路板，4、...
【技术保护点】
一种CMOS图像传感器产品的CP测试装置，其特征在于，包括探针卡，所述探针卡上设有自动对焦的镜头组件，所述自动对焦的镜头组件包括镜头，所述镜头连接有自动马达，所述自动马达与所述探针卡连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：冯建中，
申请(专利权)人：北京思比科微电子技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11
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