键槽对称度测量工装制造技术

技术编号:10837978 阅读:73 留言:0更新日期:2014-12-31 10:04
本实用新型专利技术提供了一种键槽对称度测量工装,包括定位架和设置于定位架测量端的对称度测量仪表;定位架的端部设置有塞入键槽内,对键槽的宽度进行测量的槽宽量块;对称度测量仪表的测量端与键槽宽度方向的轴外圈相抵。在利用对称度测量仪表对键槽的对称度进行测量时,将定位架的端部塞入到键槽内,定位架的端部设置为槽宽量块,其宽度与键槽的宽度相同,保证键槽在宽度方向上的下极限值在合格范围内,对称度测量仪表的测量端与轴外圈相抵,推动定位架使得槽宽量块在键槽的长度方向上滑动,通过对对称度测量仪表的数值变化进行记录,以获得键槽中心平面的偏离程度,即可对键槽在轴上的对称度进行准确测量。

【技术实现步骤摘要】
键槽对称度测量工装
本技术涉及键槽公差测量
,更具体地说,涉及一种键槽对称度测量工装。
技术介绍
离心压缩机使用物料叶片,用于压缩机入口冷媒流量的控制,叶片上的键槽尺寸较为关键,因此对叶片的尺寸、形位公差要求较高。 对称度是指被测要素中心平面的公差带,位于基准平面两平行平面的中间。 如图1和图2为键槽中心平面偏离的两种情况,图1为键槽偏离对称度的示意图;图2为键槽倾斜对称度的示意图。简单的说,叶片键槽对称度的概念,就是键槽中心平面相对于轴的基准中心平面偏离距离的大小。 目前对叶片物料的精密尺寸检测,基本上靠三次元进行测量,然而三次元测量的方法对键槽对称度公差无法进行有效的控制,很可能造成叶片与压缩机的装配异常。因为三次元是以坐标值进行分析测量,对物料只是进行部分坐标的确定,三次元测量的对称度数据不可靠。 因此,如何实现对叶片键槽对称度公差进行有效控制,是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此,本技术提供了一种键槽对称度测量工装,以实现对叶片键槽对称度公差进行有效控制。 为了达到上述目的,本技术提供如下技术方案: 一种键槽对称度测量工装,包括定位架和设置于所述定位架测量端的对称度测量仪表;所述定位架的端部设置有塞入键槽内,对所述键槽的宽度进行测量的槽宽量块;所述对称度测量仪表的测量端与所述键槽宽度方向的轴外圈相抵。 优选地,在上述键槽对称度测量工装中,所述定位架的支撑端设置有与所述键槽宽度方向的轴外圈相抵的限位块。 优选地,在上述键槽对称度测量工装中,所述限位块的内端面设置为与所述轴外圈弧度相同的圆弧限位内端面。 优选地,在上述键槽对称度测量工装中,所述定位架的尾端设置有沿所述对称度测量仪表的支撑方向布置的限位座,所述限位座上设置有与所述对称度测量仪表的尾端相抵,调节所述对称度测量仪表靠近和远离所述轴外圈的调节杆。 优选地,在上述键槽对称度测量工装中,所述调节杆为转动连接于所述限位座上的调节杆。 优选地,在上述键槽对称度测量工装中,所述限位座上设置有对所述调节杆的转动进行锁紧的第一固定螺栓。 优选地,在上述键槽对称度测量工装中,所述定位架的中部设置有贯穿其厚度方向上,对所述对称度测量仪表与所述定位架的间距进行调节的第二固定螺栓。 优选地,在上述键槽对称度测量工装中,所述对称度测量仪表为千分表测量仪表。 优选地,在上述键槽对称度测量工装中,所述千分表测量仪表包括调节块和设置于所述调节块上千分表仪表盘,所述千分表仪表盘的测量端设置于所述调节块的端部。 优选地,在上述键槽对称度测量工装中,所述调节块的尾部设置有沿所述定位架的支撑方向布置的燕尾形导向轨。 本技术提供的键槽对称度测量工装,包括定位架和设置于定位架测量端的对称度测量仪表;定位架的端部设置有塞入键槽内,对键槽的宽度进行测量的槽宽量块;对称度测量仪表的测量端与键槽宽度方向的轴外圈相抵。在利用对称度测量仪表对键槽的对称度进行测量时,将定位架的端部塞入到键槽内,定位架的端部设置为槽宽量块,其宽度与键槽的宽度相同,保证键槽在宽度方向上的下极限值在合格范围内,对称度测量仪表的测量端与轴外圈相抵,通过推动定位架使得槽宽量块在键槽的长度方向上滑动,则对称度测量仪表在轴外圈的表面滑行,通过对对称度测量仪表的数值变化进行记录,以获得键槽中心平面的偏离程度,即可对键槽在轴上的对称度进行准确测量。 【附图说明】 为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。 图1为键槽偏离对称度的示意图; 图2为键槽倾斜对称度的示意图; 图3为本技术提供的键槽对称度测量工装的安装结构示意图; 图4为图3所示的安装结构的背面结构示意图; 图5为本技术提供的键槽对称度测量工装的翻转安装结构示意图; 图6为图5中提供的安装结构的顶部结构示意图; 图7为图1中定位架的结构示意图; 图8为图7中所示定位架的顶面结构示意图; 图9为图8的左视结构示意图。 【具体实施方式】 下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。 如图3-图8所示的键槽对称度测量工装的安装结构示意图,以及定位架的结构示意图。 本技术提供了一种键槽对称度测量工装,包括定位架5和设置于定位架5测量端的对称度测量仪表2 ;定位架5的端部设置有塞入键槽7内,对键槽7的宽度进行测量的槽宽量块51 ;对称度测量仪表2的测量端与键槽7宽度方向的轴外圈相抵。在利用对称度测量仪表2对键槽7的对称度进行测量时,将定位架5的端部塞入到键槽7内,定位架5的端部设置为槽宽量块51,其宽度与键槽7的宽度相同,保证键槽7在宽度方向上的下极限值在合格范围内,对称度测量仪表2的测量端与轴外圈相抵,通过推动定位架5使得槽宽量块51在键槽7的长度方向上滑动,则对称度测量仪表2在轴外圈的表面滑行,通过对对称度测量仪表2的数值变化进行记录,以获得键槽中心平面的偏离程度,即可对键槽在轴上的对称度进行准确测量。 在本技术一具体实施例中,定位架5的支撑端设置有与键槽7宽度方向的轴外圈相抵的限位块52。在利用对称度测量仪表2对键槽7在轴上的对称度进行测量时,通过定位架5端部的槽宽量块51沿键槽7长度方向的滑动,获得对称度测量仪表2在轴外圈表面的测量数值,为了保证槽宽量块51在键槽7内滑动过程中的稳定性,在定位架5的支撑端,即与对称度测量仪表2安装侧相对的一侧,设置与轴外圈相抵的限位块52,从而通过槽宽量块51与键槽7的内壁相抵,限位块52与轴的外圈表面相抵,保证定位架5在轴上滑动过程中,对称度测量仪表2与轴表面接触的稳定性。 在本技术一具体实施例中,限位块52的内端面53设置为与轴外圈弧度相同的圆弧限位内端面。进一步地,为了提高限位块52与轴表面的稳定接触,将限位块52与轴表面相靠近的内端面53设置为圆弧结构,且圆弧的弧度与轴外圈的弧度相同,使得限位块52抱紧在轴上,通过槽宽量块51对键槽7的卡紧,和限位块52与轴外圈的圆弧接触结构,使得轴与定位架5形成稳定的滑动结构。 在本技术一具体实施例中,定位架5的尾端设置有沿对称度测量仪表2的支撑方向布置的限位座54,限位座54上设置有与对称度测量仪表2的尾端相抵,调节对称度测量仪表2靠近和远离轴外圈的调节杆4。在通过键槽对称度测量工装对轴上键槽7的对称度进行测量时,首先将定位架5的槽宽量块51塞入到键槽7内,并使限位块52与轴外圈紧密贴合,然后调节对称度测量仪表2与轴外圈相接触,获得对称度测量仪表2的零位测量位,对称度测量仪表2在定位架5上移动,移动过程中对称度测量仪表2的测量端与轴外圈相抵,通过设置限位座54本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键槽对称度测量工装,其特征在于,包括定位架和设置于所述定位架测量端的对称度测量仪表;所述定位架的端部设置有塞入键槽内,对所述键槽的宽度进行测量的槽宽量块;所述对称度测量仪表的测量端与所述键槽宽度方向的轴外圈相抵。

【技术特征摘要】
1.一种键槽对称度测量工装,其特征在于,包括定位架和设置于所述定位架测量端的对称度测量仪表;所述定位架的端部设置有塞入键槽内,对所述键槽的宽度进行测量的槽宽量块;所述对称度测量仪表的测量端与所述键槽宽度方向的轴外圈相抵。2.根据权利要求1所述的键槽对称度测量工装,其特征在于,所述定位架的支撑端设置有与所述键槽宽度方向的轴外圈相抵的限位块。3.根据权利要求2所述的键槽对称度测量工装,其特征在于,所述限位块的内端面设置为与所述轴外圈弧度相同的圆弧限位内端面。4.根据权利要求1所述的键槽对称度测量工装,其特征在于,所述定位架的尾端设置有沿所述对称度测量仪表的支撑方向布置的限位座,所述限位座上设置有与所述对称度测量仪表的尾端相抵,调节所述对称度测量仪表靠近和远离所述轴外圈的调节杆。5.根据权利要求4所述的键槽对称度测...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢永泰邓智方亮黄月林
申请(专利权)人:珠海格力电器股份有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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