镜片测量仪制造技术

技术编号:10792179 阅读:110 留言:0更新日期:2014-12-18 02:12
本实用新型专利技术公开了一种镜片测量仪,用于测量待测镜片的光穿透率,该镜片测量仪包括:光源发射器、光源传感器、承载平台及处理器。其中,该光源传感器供感测第一光线,根据该第一光线的光强度而产生第一感测信号。该第一光线入射至该待测镜片的一侧后,该第一光线借由该待测镜片产生衰减,而从该待测镜片的另一侧出射第二光线,该光源传感器供感测该第二光线,根据该第二光线的光强度而产生第二感测信号。该处理器比较该第一感测信号与该第二感测信号而产生比较结果以作为该待测镜片的光穿透率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种镜片测量仪,用于测量待测镜片的光穿透率,该镜片测量仪包括:光源发射器、光源传感器、承载平台及处理器。其中,该光源传感器供感测第一光线,根据该第一光线的光强度而产生第一感测信号。该第一光线入射至该待测镜片的一侧后,该第一光线借由该待测镜片产生衰减,而从该待测镜片的另一侧出射第二光线,该光源传感器供感测该第二光线,根据该第二光线的光强度而产生第二感测信号。该处理器比较该第一感测信号与该第二感测信号而产生比较结果以作为该待测镜片的光穿透率。【专利说明】镜片测量仪
本技术涉及一种镜片测量仪,尤其涉及一种测量镜片的光穿透率的镜片测量仪。
技术介绍
在现有技术中,欲测量一镜片的光透射率时,常借由例如一紫外线/可见光分光光谱仪对物体进行测量,以精密地计算出该物体的光穿透率。 然而,实际上,当物体对于光穿透率的精准度要求不高时,若仍旧以体积大且价格昂贵的该紫外线/可见光分光光谱仪对该物体进行测量就显得不合乎成本效益,例如在一间工厂中的多条生产线,若单为了对光穿透率的精准度要求不高的产品而大量采购该紫外线/可见光分光光谱仪时,即便可非常精准的测得该产品的光穿透率,然而这样的做法将大幅增加非必要的制造成本。 故有必要提出一种镜片测量仪,用以解决现有技术所遭遇的困难。
技术实现思路
本技术的一个目的是提供一种借由简易的与低制作成本的镜片测量仪,以达到镜片光穿透率的低成本测量。 本技术的另一目的是提供一种镜片测量仪,以测量镜片对于各种波长光线的光穿透率。 为达上述目的及其他目的,本技术的镜片测量仪,用于测量待测镜片的光穿透率,该镜片测量仪包括:光源发射器、光源传感器、承载平台及处理器。其中该光源发射器供发射第一光线;该光源传感器供感测该第一光线,根据该第一光线的光强度而产生第一感测信号;该承载平台,设置于该光源发射器及该光源传感器之间且该光源传感器借由相对于该光源发射器的位置设置来接收该光源发射器所发出的光线,该承载平台包含有穿透孔且该承载平台供承载该待测镜片,其中,该第一光线透过该穿透孔入射至该待测镜片的一侧后,从该待测镜片的另一侧出射第二光线,该光源传感器感测该第二光线以根据该第二光线的光强度而产生第二感测信号;以及该处理器,连接该光源传感器,该处理器比较该第一感测信号与该第二感测信号而产生比较结果以作为该光穿透率。 于一实施例中,该第一光线的波长范围介于300奈米至800奈米之间。 于一实施例中,该光源发射器还包括:发光二极管与驱动模块,该发光二极管连接该驱动模块,该驱动模块产生驱动信号以驱动该发光二极管,而产生该第一光线。 于一实施例中,该镜片测量仪还包括显示器,连接该处理器,以显示该光穿透率。 于一实施例中,该镜片测量仪还包含计算结果输出模块,连接该处理器,以输出该光穿透率至外部取用装置。 于一实施例中,该光源发射器还包括:多个发光二极管,这些发光二极管所产生的光线的波长范围彼此相异;以及驱动模块,与这些发光二极管相连接,该驱动单元产生驱动信号以驱动这些发光二极管的至少一个,而产生该第一光线。 借此,本技术的镜片测量仪可借由该第一光线与该第二光线间的变化,来计算出该待测镜片对于特定波长范围的光线的光穿透率,其中该第二光线是该第一光线入射至该待测镜片后,因为该待测镜片的特性而被吸收部分特定波长范围的第一光线所产生。本技术的镜片测量仪亦可借由可发射涵盖不同波长范围光线的光源发射器,达到测量该待测镜片对于不同波长范围光线的光穿透率的效果。 【专利附图】【附图说明】 图1为本技术一实施例的镜片测量仪的示意图。 图2A及图2B为本技术一实施例的镜片测量仪的使用状态图。 主要部件附图标记: I镜片测量仪 10壳体 101上盖 11光源发射器 12光源传感器 13承载平台 131穿透孔 14处理器 15显示器 LBlL第一光线 LB2L第二光线 SSl第一感测信号 SS2第二感测信号 2待测镜片 21底侧面 22顶侧面 【具体实施方式】 为充分了解本技术的目的、特征及技术效果,兹由下述具体实施例,并结合附图,对本技术做详细说明,说明如下: 首先请参照图1,其为本技术一实施例的镜片测量仪I的示意图。本技术的镜片测量仪I可包括壳体10、光源发射器11、光源传感器12、承载平台13及处理器14。 该壳体10用以形成一容置空间,该光源发射器11、该光源传感器12、该承载平台13及该处理器14皆设置于其中。于一实施例中,该壳体10还包括上盖101,当该上盖101后可阻绝由外部射入的外部光线(图未示),使测量结果更为精准。 该光源发射器11用来发射第一光线(图未不)。于一实施例中,该第一光线为可见光,该第一光线的波长范围介于300奈米至800奈米之间。 该光源传感器12用以感测光线,于一实施例中,该光源传感器12为太阳能板或光二极管。该光源传感器12借由感测该光线的光强度而产生感测信号。举例而言,若光源传感器12为太阳能板,入射的光线将致使该太阳能板产生电流,而该光线的光强度将决定该电流的电流强度,该光源传感器12则会依据该电流的电流强度,产生对应的感测信号。 该承载平台13设置于该光源发射器11及该光源传感器12之间,用来承载待测镜片(图未示)。于一实施例中,该承载平台13包含有穿透孔131,以使当该光源发射器11发出该第一光线时,可透过该穿透孔131射至该光源传感器12。 该处理器14连接该光源传感器12,该处理器14可借由该光源传感器12所产生的感测信号以确定该待测镜片的该光穿透率。 于一实施例中,该镜片测量仪I还包括显示器15,可用以显示计算结果信息。 请参照图2A及图2B,为本技术一实施例的镜片测量仪I的使用状态示意图。 于图2A中,在测量待测镜片2之前,须先进行校正归零的预备测量,此时该光源发射器11发射该第一光线LBl至该光源传感器12,该光源传感器12会根据感测该第一光线LBl的光强度,而产生对应的第一感测信号SSl,并将该第一感测信号SSl输出且暂存于该处理器14。 于图2B中,在进行完该校正归零的预备测量后可开始测量该待测镜片2的光透光率。先将欲测量的该待测镜片2置于该承载平台13后,该光源发射器11发射该第一光线LBl,此时该第一光线LBl由该待测镜片2的底侧面21入射,该第一光线LBl的光强度会因为通过该待测镜片2有所衰减,而由该待测镜片2的顶侧面22出射第二光线LB2至该光源传感器12,该光源传感器12会根据感测到的该第二光线LB2的光强度,而产生对应的第二感测信号SS2并将其输出且暂存于该处理器14。 接者,该处理器14会根据该第一感测信号SSl与该第二感测信号SS2,执行一算法进行计算以产生计算结果。该处理器14借由该计算结果而确定该待测镜片2的光穿透率。 于一实施例中,该光源发射器11可包括发光二极管(图未不)与驱动模块(图未示),该发光二极管连接该驱动模块,该驱动模块产生驱动信号(图未示)以驱动该发光二极管,而产生该第一光线LBl。 该发光二极管的数量可为单一个发光二极管(在一个发光二极管的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种镜片测量仪,其特征在于,包括:光源发射器,供发射第一光线;光源传感器,供感测该第一光线,根据该第一光线的光强度而产生第一感测信号;承载平台,设置于该光源发射器及该光源传感器之间且该光源传感器借由相对于该光源发射器的位置设置来接收该光源发射器所发出的光线,该承载平台包含有穿透孔且该承载平台供承载该待测镜片,其中,该第一光线透过该穿透孔入射至该待测镜片的一侧后,从该待测镜片的另一侧出射第二光线,该光源传感器感测该第二光线以根据该第二光线的光强度而产生第二感测信号;以及处理器,连接该光源传感器,该处理器比较该第一感测信号与该第二感测信号而产生比较结果以作为该光穿透率。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:林雨潭
申请(专利权)人:杰瑞科技有限公司
类型:新型
国别省市:中国台湾;71

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