一种玻璃零件平面度检测设备制造技术

本发明专利技术涉及玻璃零件领域，尤其涉及一种玻璃零件平面度检测设备，玻璃零件平面度检测设备包括用于放置待检测玻璃零件的支撑架、投光灯组、摄影机组及中央处理器；所述投光灯组位于所述支撑架上方，用于发射光源并将所发射的光源投射到待检测玻璃零件的外表面上；所述摄影机组位于所述支撑架斜上方处，用以对支撑架上的待检测玻璃零件表面撷取影像；所述中央处理器与所述摄影机组电连接，用以根据摄影机组对玻璃零件取像的数据资料加以分析；所述支撑架的下方设置有用于带动所述支撑架旋转的驱动系统。通过该平面度检测设备可以实测到回转体玻璃灯罩各个方位的数据，并且体积较小，结构紧凑，适用范围广。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及玻璃零件领域，尤其涉及一种玻璃零件平面度检测设备，玻璃零件平面度检测设备包括用于放置待检测玻璃零件的支撑架、投光灯组、摄影机组及中央处理器；所述投光灯组位于所述支撑架上方，用于发射光源并将所发射的光源投射到待检测玻璃零件的外表面上；所述摄影机组位于所述支撑架斜上方处，用以对支撑架上的待检测玻璃零件表面撷取影像；所述中央处理器与所述摄影机组电连接，用以根据摄影机组对玻璃零件取像的数据资料加以分析；所述支撑架的下方设置有用于带动所述支撑架旋转的驱动系统。通过该平面度检测设备可以实测到回转体玻璃灯罩各个方位的数据，并且体积较小，结构紧凑，适用范围广。【专利说明】一种玻璃零件平面度检测设备
本专利技术涉及玻璃零件领域，尤其涉及一种玻璃零件平面度检测设备。
技术介绍
现有技术中所使用的玻璃零件，因制造过程中杂质残留、刮伤或生产工艺等情况，有些会出现表面平整度不佳的问题，特别是呈回转体状的玻璃零件，表面平整度不佳的情况更是时有发生，有可能对使用玻璃零件的产品产生不好的影响。故该行业对玻璃零件这类的基材品质要求甚高，故基材制造后，均会再利用一组检测设备进行检测，以确保基材的品质。 目前检测设备对玻璃零件进行检测，通常利用设备中的CCD摄影机配合投光灯组对玻璃零件进行取像；然后将影像资料传输至系统主机，经系统主机的分析判断，检测该玻璃零件表面平整度及是否有刮痕等现象，并提供玻璃零件生产作业的警示功能，于异常玻璃零件上标示记号，以利于品质管理人员对异常玻璃零件的处理，用以确保玻璃零件的品质及玻璃零件后续加工作业。 但是，现有技术中的检测设备主要以CCD摄影机配合投光灯组对玻璃零件表面进行取像，现有的玻璃零件检测设备的检测能力除CCD摄影机的解析能力外，对于CCD摄影机是否位于最佳取像位置及相对投光灯组的反光角度，均会影响其取像效果。因此，无法供使用者依不同表面类型的玻璃零件或取像清晰度作调整，以致使该检测设备的检测能力无法达到最佳化。 现有技术中的检测设备还有的CCD摄影机可以依不同表面类型的玻璃零件或取像清晰度作调整，以使该检测设备的检测能力达到最佳化。但是，这种设备通常体积都比较大，结构不紧凑，适用范围受限；并且不能检测待玻璃零件各个方位的数据。 针对以上问题，亟需要一种新的玻璃零件平面度检测设备，以解决现有技术中存在的不能检测玻璃零件各个方位的数据，并且体积较大，结构不紧凑，适用范围受限的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种玻璃零件平面度检测设备，该检测设备能检测玻璃零件各个方位的数据，并且体积较小，结构紧凑，适用范围广。 为达此目的，本专利技术采用以下技术方案: 一种玻璃零件平面度检测设备，包括用于放置待检测玻璃零件的支撑架、投光灯组、摄影机组及中央处理器； 所述投光灯组位于所述支撑架上方，用于发射光源并将所发射的光源投射到待检测玻璃零件的外表面上； 所述摄影机组位于所述支撑架斜上方处，用以对支撑架上的待检测玻璃零件表面撷取影像； 所述中央处理器与所述摄影机组电连接，用以根据摄影机组对玻璃零件取像的数据资料加以分析； 所述支撑架的下方设置有用于带动所述支撑架旋转的驱动系统。 作为优选，所述驱动系统为步进电机。 作为优选，所述摄影机组包括摄影机及定位架，所述摄影机安装在所述定位架上，所述摄影机的镜头可相对于所述定位架进行旋转。 作为优选，所述摄影机为CXD工业相机。 作为优选，所述投光灯组包括灯具及定位架，所述灯具包括至少一投光灯及套设于投光灯外侧用以限制其投光范围的灯罩，所述投光灯组通过所述定位架设于所述支撑架及回转体玻璃灯罩的上方。 作为优选，所述投光灯为LED灯。 作为优选，所述支撑架与所述投光灯组之间设置有用于屏蔽数据信号的隔离板。 作为优选，所述中央处理器与摄影机组之间电连接。 作为优选，所述玻璃零件平面度检测设备设置在架体上，所述架体由若干个纵向架杆及若干个横向架杆纵横相接组设而成，所述架体上设有用以提供玻璃零件平整导入的导轨。 本专利技术的有益效果为:本专利技术提供一种玻璃零件平面度检测设备，由于其包括用于放置待检测玻璃零件的支撑架、投光灯组、摄影机组及中央处理器；所述投光灯组位于所述支撑架上方，用于发射光源并将所发射的光源投射到待检测玻璃零件的外表面上；所述摄影机组位于所述支撑架斜上方处，用以对支撑架上的待检测玻璃零件表面撷取影像；所述中央处理器与所述摄影机组电连接，用以根据摄影机组对玻璃零件取像的数据资料加以分析；所述支撑架的下方设置有用于带动所述支撑架旋转的驱动系统。所以通过该平面度检测检测设备可以实测到回转体玻璃灯罩各个方位的数据，并且体积较小，结构紧凑，适用范围广。 【专利附图】【附图说明】 图1是本专利技术提供的玻璃零件平面度检测设备的结构示意图； 图2是本专利技术提供的玻璃零件平面度检测设备的一种优选方式的结构示意图； 图3是本专利技术提供的设置在架体上的玻璃零件平面度检测设备的结构示意图。 其中: 10、支撑架；20、驱动系统；30、投光灯组；40、摄影机组；50、中央处理器；60、隔离板；70、架体；80、导轨； 【具体实施方式】 下面结合附图并通过【具体实施方式】来进一步说明本专利技术的技术方案。 如图1所示，本专利技术提供的玻璃零件平面度检测设备包括支撑架10、驱动系统20、投光灯组30、摄影机组40及中央处理器50。 本专利技术提供的玻璃零件平面度检测设备既可以对回转体玻璃零件进行检测，判断回转体玻璃零件的平面度，也可以对平面玻璃零件或其它形状的玻璃零件进行检测，判断玻璃零件的平面度。本申请以检测回转体玻璃灯罩为例对该检测设备进行介绍。 所述支撑架10用于放置待检测的玻璃零件。所述支撑架10的上表面优选为平面状。 所述摄影机组40定位于支撑架10斜上方处，用以对支撑架10上的回转体玻璃灯罩表面撷取影像。 于本实施例中，作为优选，所述摄影机组40包括摄影机及定位架。摄影机安装在定位架上，并且摄影机的镜头朝向支撑架10上的回转体玻璃灯罩。所述摄影机的镜头可相对于所述定位架进行旋转调整，进而改变其相对回转体玻璃灯罩的取像角度，用以对回转体玻璃灯罩表面撷取影像。 于本实施例中，作为进一步的优选方案，所述摄影机为CCD工业相机，该相机完全可读到回转体玻璃灯罩边界线的数据。但所述摄影机并不局限于此，还可以为其它类型的相机。 所述投光灯组30位于支撑架10上方，投光灯组30发出的光源可投射到回转体玻璃灯罩外平面上，形成可捕捉的一个区域。 于本实施例中，作为优选方案，所述投光灯组30包括灯具及定位架。灯具包括至少一投光灯及套设于投光灯外侧用以限制其投光范围的灯罩。投光灯组30通过定位架设于支撑架10及回转体玻璃灯罩的上方，用以由上而下对回转体玻璃灯罩特定范围投光照明，以利摄影机组40对回转体玻璃灯罩的取像。 于本实施例中，作为优选方案，所述投光灯为LED灯。但所述投光灯并不局限于此，还可以为其它类型的投光灯。 所述驱动系统20位于所述支撑架10的下方，用于带动所述支撑架10旋转，进而带动所述支撑架10上的待检测回转体玻璃灯罩旋转。通过该方案，可以实测到回转体玻璃灯罩各个方位的数据。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种玻璃零件平面度检测设备，包括用于放置待检测玻璃零件的支撑架、投光灯组、摄影机组及中央处理器；其特征在于，所述投光灯组位于所述支撑架上方，用于发射光源并将所发射的光源投射到待检测玻璃零件的外表面上；所述摄影机组位于所述支撑架斜上方处，用以对支撑架上的待检测玻璃零件表面撷取影像；所述中央处理器与所述摄影机组电连接，用以根据摄影机组对玻璃零件取像的数据资料加以分析；所述支撑架的下方设置有用于带动所述支撑架旋转的驱动系统。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：形雪順，許元澤，
申请(专利权)人：苏州镭络视觉技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32