键盘寿命测试装置制造方法及图纸

一种键盘寿命测试装置，其应用于笔记本电脑键盘测试中，所述键盘上具有标注不同数字的按键，所述按键具有第一至第二十四信号引脚，所述测试装置包括：键盘排线，其具有对应所述第一至第二十四信号引脚的第一至第二十四端子；键盘连接器,其具有与所述第一至第二十四端子对应的第一至第二十四引脚；测试电路，其包括显示单元、供电单元及导线，所述显示单元及供电单元均电性串接于所述导线中，所述导线的一端接所述第一至第十六引脚中的任意一引脚，另一端接所述第十七至第二十四引脚中的任意一引脚。本发明专利技术可以随时监测被测试按键的状态，无需每测试百万次就必须取下键盘，从而节省了精力和避免频繁的拆卸安装机台及停始寿命测试机。

【技术实现步骤摘要】
键盘寿命测试装置
本专利技术涉及一种测试装置，特别是涉及一种键盘寿命测试装置。
技术介绍
随着生活水平的提高，人们对电子产品的质量要求也越来越高。为了保证电子产品的质量，在电子产品出货前都会对按键进行耐久（信赖性）测试，以保证电子产品的按键在使用过程中能保持良好的电性性能。传统的对按键的耐久测试，是直接在系统内设置按键开/关的次数。例如，针对笔记本电脑键盘中普通键和功能键寿命的测试，其中普通键设置2000万次下压，功能键设置1000万次下压。关于笔记本电脑键盘寿命的测试，一般是在寿命测试机上每200万次或100万次下压后，将键盘取出安装到规格型号的机台上来验证每个按键的功能是否合格，如果合格则继续安装在寿命测试机上测试，如果不合格则取下进行分析改善。然而，上述测试的方法必须要等到一定的测试次数后，才能确认被测键盘是否出现不合格的现象，如果键盘在达到测试次数之前已产生不良现象，之后的测试就是浪费时间及电力。另外，在键盘每达到一定测试次数，就必须取下键盘、拆卸机台后，以安装确认被测键盘是否出现不良现象，如此的频繁的拆卸安装机台及停始寿命测试机不仅浪费了大量时间更浪费了大量精力。有鉴于此，实有必要提供一种键盘寿命测试装置，以解决上述问题。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种键盘寿命测试装置，以解决上述键盘寿命测试方法浪费时间、浪费电力及浪费精力的问题。为了达到上述目的，本专利技术提供的键盘寿命测试装置，其应用于笔记本电脑键盘测试中，所述键盘上具有标注不同数字的按键，所述按键包括分布于网格矩阵边缘的入口及出口，所述入口具有第一至第十六信号引脚，所述出口具有第十七至第二十四信号引脚，所述测试装置包括：键盘排线，其具有第一至第二十四端子，所述的第一至第十六端子依次对应所述按键入口的第一至第十六信号引脚，所述第十七至第二十四端子依次对应所述按键出口的第十七至第二十四信号引脚；键盘连接器,其具有与所述第一至第二十四端子对应的第一至第二十四引脚，所述键盘连接器的一端与所述键盘排线连接；若干测试电路，其包括一显示单元、一供电单元及一导线，所述显示单元及供电单元均电性串接于所述导线中，所述导线的一端接所述第一至第十六引脚中的任意一引脚，所述导线的另一端接所述第十七至第二十四引脚中的任意一引脚。可选的，所述测试电路具有三个，所述测试电路的数量对应测试所述按键的数量。可选的，所述显示单元为LED灯。可选的，所述供电单元为1.5V电池。相较于现有技术，本专利技术键盘寿命测试装置，可以随时监测被测试按键的状态，避免了被测试按键已经不良还在继续测试，从而节省了时间和电力；该键盘寿命测试装置无需每测试百万次就必须取下键盘，从而节省了精力和避免频繁的拆卸安装机台及停始寿命测试机。【附图说明】图1绘示为本专利技术键盘寿命测试装置一较佳实施例的键盘矩阵图。图2绘示为图1在键盘上的按键分布图。图3绘示为本专利技术键盘寿命测试装置一较佳实施例的结构示意图。【具体实施方式】一般键盘的按键都是利用矩阵图控制而实现相应的功能，即由所述矩阵图中的行线及列线确定所述按键的坐标位，当该坐标位上的按键被下压时，内部电路会因接触而导通，从而产生该坐标所表示特定的字符型号。请参阅图1及图2绘示，根据需要对三个按键进行寿命测试。为了达到上述目的，请参阅图3绘示，本专利技术提供的键盘寿命测试装置，其应用于笔记本电脑键盘测试中，所述键盘100上具有标注不同数字的按键200，所述按键200包括分布于网格矩阵边缘的入口及出口，所述入口具有第一至第十六信号引脚（1～～16），所述出口具有第十七至第二十四信号引脚（17～～24），所述测试装置包括：键盘排线300，其具有第一至第二十四端子，所述的第一至第十六端子依次对应所述按键入口的第一至第十六信号引脚（1～～16），所述第十七至第二十四端子依次对应所述按键出口的第十七至第二十四信号引脚（17～～24）；键盘连接器400,其具有与所述第一至第二十四端子对应的第一至第二十四引脚（1’～～24’），所述键盘连接器400的一端与所述键盘排线300连接；若干测试电路，其包括一显示单元500、一供电单元510及一导线520，所述显示单元500及供电单元510均电性串接于所述导线520中，所述导线520的一端接所述第一至第十六引脚（1’～～16’）中的任意一引脚，所述导线520的另一端接所述第十七至第二十四引脚（17’～～24’）中的任意一引脚。其中，所述测试电路具有三个，所述测试电路的数量对应测试所述按键200的数量。其中，所述显示单元500为LED灯。其中，所述供电单元510为1.5V电池。于本实施例中，图1绘示为本专利技术键盘寿命测试装置一较佳实施例的键盘矩阵图，首先根据图1选择数字标注为“210”、“220”及“230”的三个按键200进行寿命测试。于测试时，对照图1，根据按键上标注的数字对应找到该按键入口及出口对应的信号引脚，所述数字标注为“210”的按键对应第一信号引脚1及第二十四信号引脚24，所述数字标注为“220”的按键对应第二信号引脚2及第二十三信号引脚23，所述数字标注为“230”的按键对应第四信号引脚4及第二十三信号引脚23，从而将所述三个测试电路中的三根导线520的一端分别依次接第一引脚1’、第二引脚2’、第四引脚4’，对应所述三根导线520的另一端依次接第二十四引脚24’、第二十三引脚23’、第二十三引脚23’，将上述键盘100连接好后形成半闭合的电路回路。其次，根据图1对应找到图2中数字标注为“210”、“220”及“230”的按键200在键盘100中的实际位置，并将键盘100对应测试的按键200放置在寿命测试机上进行测试。如果电路连接无误，下压数字标注为“210”、“220”及“230”的按键后，则会形成闭合的电路回路，从而显示单元500会根据寿命测试机的下压频率同步闪烁，开始如有显示单元500闪烁不良，再次检查线路或检查寿命测试机的压力是否足够。在寿命测试机下压百万次后或百万次的过程中，如若出现有显示单元500常量，从而说明已有按键联键，如若出现等闪亮频率与测试频率不同，则说明已出现了串键等不良现象，则可以停止寿命测试。本专利技术键盘寿命测试装置，可以随时监测被测试按键的状态，避免了被测试按键已经不良还在继续测试，从而节省了时间和电力；该键盘寿命测试装置无需每测试百万次就必须取下键盘，从而节省了精力和避免频繁的拆卸安装机台及停始寿命测试机。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键盘寿命测试装置，其应用于笔记本电脑键盘测试中，所述键盘具有标注不同数字的按键，所述按键包括分布于网格矩阵边缘的入口及出口，所述入口具有第一至第十六信号引脚，所述出口具有第十七至第二十四信号引脚，其特征在于，所述测试装置包括：键盘排线，其具有第一至第二十四端子，所述的第一至第十六端子依次对应所述按键入口的第一至第十六信号引脚，所述第十七至第二十四端子依次对应所述按键出口的第十七至第二十四信号引脚；键盘连接器,其具有与所述第一至第二十四端子对应的第一至第二十四引脚，所述键盘连接器的一端与所述键盘排线连接；若干测试电路，其包括一显示单元、一供电单元及一导线，所述显示单元及供电单元均电性串接于所述导线中，所述导线的一端接所述第一至第十六引脚中的任意一引脚，所述导线的另一端接所述第十七至第二十四引脚中的任意一引脚。

【技术特征摘要】
1.一种键盘寿命测试装置，其应用于笔记本电脑键盘测试中，所述键盘具有标注不同数字的按键，所述按键包括分布于网格矩阵边缘的入口及出口，所述入口具有第一至第十六信号引脚，所述出口具有第十七至第二十四信号引脚，其特征在于，所述测试装置包括：键盘排线，其具有第一至第二十四端子，其中，第一至第十六端子依次对应所述按键入口的第一至第十六信号引脚，第十七至第二十四端子依次对应所述按键出口的第十七至第二十四信号引脚；键盘连接器,其具有与所述第一至第二十四端子对应的第一至第二十四引脚，所述键盘连接器的一端与所述键盘排线连接；若...

【专利技术属性】
技术研发人员：张荣斌，
申请(专利权)人：神讯电脑昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32