光电采样用仪表指针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光电采样用仪表指针，其属于计量检测领域。它主要包括指针本体，指针本体顶面设有一组以上的反射区，所述反射区包括强反射区和弱反射区，强反射区和弱反射区相邻放置，指针本体侧面上设有与指针本体顶面相应的反射区；所述指针本体呈圆柱或圆筒型结构；所述指针本体底部设有转轴。本实用新型专利技术的反射区在同一平面上，增强了光电采样的可操作性，增大了检测范围，且侧面也设有反射区，增加了可采样的方向，便于仪表智能化处理。本实用新型专利技术主要用于光电采样计量检测。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种光电采样用仪表指针，其属于计量检测领域。它主要包括指针本体，指针本体顶面设有一组以上的反射区，所述反射区包括强反射区和弱反射区，强反射区和弱反射区相邻放置，指针本体侧面上设有与指针本体顶面相应的反射区；所述指针本体呈圆柱或圆筒型结构；所述指针本体底部设有转轴。本技术的反射区在同一平面上，增强了光电采样的可操作性，增大了检测范围，且侧面也设有反射区，增加了可采样的方向，便于仪表智能化处理。本技术主要用于光电采样计量检测。【专利说明】光电采样用仪表指针
本技术属于计量检测领域，具体地说，尤其涉及一种光电采样用仪表指针。
技术介绍
现有的用在水表、热量表等流量仪表的初级齿轮上的指针俗称梅花指针，一般是圆形的刻度盘，盘外印有针形标记来指示刻度盘转角度(刻度)。另一些是单色锯齿或者是单色多翅螺旋桨样的转盘，主要是显示仪表始动和转动。但在光电采样过程中，传统指针存在以下缺陷:1、指针的两锯齿之间对光的反射不在同一平面上，背景的远近和反射强度不稳定，不同的仪表需要经常调节探测的距离才能达到要求；2、由于传统指针的中心位置没有锯齿，导致光电采样探测器范围减少，且探测器寻找合适的位置较难；3、传统指针的侧面不能进行光电采样，导致光电采样的可操作性差，效率低，不便于光电检测和仪表机电转换。
技术实现思路
本技术的目的在于克服上述缺陷，提供一种结构简单、便于操作的光电采样用仪表指针。 所述的光电采样用仪表指针，包括指针本体，指针本体顶面设有一组以上的反射区，所述反射区包括强反射区和弱反射区，强反射区和弱反射区相邻放置，指针本体侧面上设有与指针本体顶面相应的反射区。 所述指针本体呈圆柱或圆筒型结构。 所述指针本体底部设有转轴。 与现有技术相比，本技术的有益效果是: 1、强反射区和弱反射区在同一平面上，指针本体转动时，两反射区反射强度不同，光电转换后的波形明显，一般光电传感器就能达到要求； 2、强反射区和弱反射区中心相交于一点，除该点外在整个指针本体的平面上都可以光电采样，增大了检测范围，增强了光电采样的可操作性，提高劳动效率； 3、指针本体的侧面也设有反射区，增加了可采样的方向，且指针本体侧面可用于仪表内部光电采样，把机械检测转动转化为光电脉冲，便于仪表智能化处理:指针本体正面用于计量检定校准的光电采样，便于仪表的自动化检定校准。 【专利附图】【附图说明】 图1为本技术的结构示意图； 图2为本技术的主视图； 图3为本技术的俯视图。 图中，1、指针本体；2、强反射区；3、弱反射区；4、转轴。 【具体实施方式】 下面结合附图对本技术作进一步说明: 如图1、图2所示，光电采样用仪表指针，包括圆柱或圆筒型的指针本体1，指针本体I顶面设有一组以上的反射区，所述反射区包括强反射区2和弱反射区3，强反射区2和弱反射区3相邻放置，指针本体I侧面上设有与指针本体I顶面相应的反射区；所述指针本体I底部设有转轴4。 本技术在制作时，根据具体情况确定反射区的组数，强反射区2和弱反射区3可通过在指针本体I上分别贴浅色、深色的贴片或涂浅色、深色的涂层来制作，浅、深颜色可采用白、黑色或其它颜色代替；转轴4可通过轴孔安装到指针本体I上。 本技术在使用时，安装到水表或热量表等流量仪表上，并与光电传感器配合使用，工作时，指针本体I转动，通过光电发光管照射指针本体1，指针本体I上的强反射区2和弱反射区3使光电传感器产生明显的波形，通过计算机计数波峰或波谷的数量，并把数量转化为流量，从而达到的计量检测或仪表机电转换的目的。【权利要求】1.一种光电采样用仪表指针，其特征在于:包括指针本体(I)，指针本体(I)顶面设有一组以上的反射区，所述反射区包括强反射区(2)和弱反射区(3)，强反射区(2)和弱反射区⑶相邻放置，指针本体⑴侧面上设有与指针本体⑴顶面相应的反射区。2.根据权利要求1所述的光电采样用仪表指针，其特征在于:所述指针本体(I)呈圆柱或圆筒型结构。3.根据权利要求1或2所述的光电采样用仪表指针，其特征在于:所述指针本体(I)底部设有转轴(4)。【文档编号】G01D13/22GK203929097SQ201420312461【公开日】2014年11月5日 申请日期:2014年6月12日 优先权日:2014年6月12日 【专利技术者】陈国涛, 陈姝颖 申请人:陈国涛本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电采样用仪表指针，其特征在于：包括指针本体(1)，指针本体(1)顶面设有一组以上的反射区，所述反射区包括强反射区(2)和弱反射区(3)，强反射区(2)和弱反射区(3)相邻放置，指针本体(1)侧面上设有与指针本体(1)顶面相应的反射区。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈国涛，陈姝颖，
申请(专利权)人：陈国涛，
类型：新型
国别省市：山东;37