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光电采样用仪表指针制造技术
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文档序号:10630875
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本实用新型公开了一种光电采样用仪表指针,其属于计量检测领域。它主要包括指针本体,指针本体顶面设有一组以上的反射区,所述反射区包括强反射区和弱反射区,强反射区和弱反射区相邻放置,指针本体侧面上设有与指针本体顶面相应的反射区;所述指针本体呈圆柱...
该专利属于陈国涛所有,仅供学习研究参考,未经过陈国涛授权不得商用。
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