电阻式触摸屏的校准方法技术

本发明专利技术提供了一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤：在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取m台电子设备，对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，：基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数kx以及Y轴偏差系数ky；取m台电子设备的X轴偏差系数kx，以及Y轴偏差系数ky，分别得到二者的平均值以及将基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值存入每一台该批电子设备中。

【技术实现步骤摘要】
电阻式触摸屏的校准方法
本专利技术涉及电子设备触摸屏校准的方法，尤其涉及一种电阻式触摸屏的校准方法。
技术介绍
电阻式触摸屏是一种传感器，它将矩形区域中触摸点(X,Y)的物理位置转换为代表X坐标和Y坐标的电压。很多LCD模块都采用了电阻式触摸屏。电阻式触摸屏是一种传感器，基本上是薄膜加上玻璃的结构，薄膜和玻璃相邻的一面上均涂有ITO(纳米铟锡金属氧化物)涂层，ITO具有很好的导电性和透明性。当触摸操作时，薄膜下层的ITO会接触到玻璃上层的ITO，经由感应器传出相应的电信号，经过转换电路送到处理器，通过运算转化为屏幕上的X、Y值，而完成点选的动作，并呈现在屏幕上。具体地，电阻触摸屏的屏体部分是一块与显示器表面非常配合的多层复合薄膜，由一层玻璃或有机玻璃作为基层，表面涂有一层透明的ITO导电层，上面再盖有一层外表面硬化处理、光滑防刮的塑料层，它的内表面也涂有一层ITO导电层，在两层导电层之间有许多细小(小于千分之一英寸)的透明隔离点把它们隔开绝缘。点触电阻屏时，两层ITO导电层出现一个接触点，因其中一面导电层接通Y轴方向的5V均匀电压场，使得侦测层的电压由零变为非零，控制器侦测到这个接通后，进行A/D转换，并将得到的电压值与5V相比，即可得触摸点的Y轴坐标，同理得出x轴的坐标，这就是电阻技术触摸屏的最基本原理。在使用电阻屏的电子设备组装完成后，一般在出货前，会对电阻屏进行校准。电阻屏校准的基本原理是将CPU采集到的逻辑坐标(通过点击电阻屏获取)与显示屏建立一一对应的的关系。在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现现有技术中存在如下问题，由于校准工序的时间关系，不可能对电阻屏的每个点进行采集，而要保证精度，采集点的数量又不能太少，所以校准过程费时费力，而且在校准过程中，很容易出现因为工作人员操作失误导致校准失败，从而需要重新校准或者误判定电阻屏不合格的情况。特别是，大批量生产时，进行每一台设备的电阻屏进行逐台校准，生产效率较低。
技术实现思路
为此，需要提供一种快捷准确的电阻式触摸屏的校准方法，以解决大批量生产时的电阻屏校准时间长、效率低的问题。为实现上述目的，专利技术人提供了一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤：在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取m台电子设备，其中m≥1；对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，所述校准参数包括电阻式触摸屏上各点的物理坐标与逻辑坐标之间的函数关系参数，校准参数的获取过程包括步骤：在每台取出的电子设备的电阻式触摸屏上取n个的测试点，n≥2，点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标，根据各测试点的物理坐标与逻辑坐标计算校准参数；将校准参数或其平均值存入每一台该批电子设备中。其中，对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，校准参数的获取过程包括步骤：在电阻式触摸屏上取n个的测试点，n≥3，其中包括3个以上不同X坐标的测试点，以及3个以上不同Y坐标的测试点，各测试点物理坐标分别表示为(Xa，Ya)，(Xb，Yb)……(Xn，Yn)；点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标(XLa，YLa)，(XLb，YLb)……(XLn，YLn)；在测试点中，选取p对物理X坐标不同的测试点计算X轴偏差系数kx，p≥1，选取q对物理Y坐标不同的测试点计算Y轴偏差系数ky，q≥1，x轴偏差系数kx的计算公式如下：其中ΔXLi表示每对物理X坐标不同的点的逻辑X坐标差值，ΔXi表示每对物理X坐标不同的点的物理X坐标差值，Y轴偏差系数ky的计算公式如下：其中ΔYLi表示每对物理Y坐标不同的点的逻辑Y坐标差值，ΔYi表示每对物理Y坐标不同的点的物理Y坐标差值；在测试点中选取一点C点(Xc，Yc)点作为基准点，记录该电子设备的校准参数如下：基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数kx以及Y轴偏差系数ky；取m台电子设备的基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数kx，以及Y轴偏差系数ky，分别得到这些参数的平均值以及将基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标的平均值X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值存入每一台该批电子设备中。可选的，点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标(XLa，YLa)，(XLb，YLb)……(XLn，YLn)之后，比较测试点之间的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值之间的差异，若测试点的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值之间的差异在预设范围之内，则进行下一步骤，否则重复点触各测试点，以重新得到各测试点的逻辑坐标(XLa，YLa)，(XLb，YLb)……(XLn，YLn)，直至测试点的逻辑坐标的差值与物理坐标的差值的之间差异在预设范围之内。可选的，获取电子设备的校准参数还包括步骤：在测试点中选取一点C点(Xc，Yc)点作为基准点，并选取一点E(Xe，Ye)点作为校准点，计算E点的理论逻辑坐标(XLe’，YLe’)，E点的理论逻辑坐标计算公式如下：XLe'＝XLc+kx(Xe-Xc)，YLe'＝YLc+ky(Ye-Yc)；将E点的理论逻辑坐标(XLe’，YLe’)与E点的逻辑坐标(XLe，YLe)进行比对，若E点的理论逻辑坐标(XLe’，YLe’)与E点的逻辑坐标(XLe，YLe)的差值在预设的范围之内，则记录该电子设备的校准参数如下：基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数kx以及Y轴偏差系数ky，若否，重复点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标(XLa，YLa)，(XLb，YLb)……(XLn，YLn)，并重新计算X轴偏差系数kx以及Y轴偏差系数ky，然后计算E点的理论逻辑坐标，直至若E点的理论逻辑坐标(XLe’，YLe’)与E点的逻辑坐标(XLe，YLe)的差值在预设的范围之内。可选的，所述电阻式触摸屏为矩形，所述测试点数量n＝5，其中4个测试点分别构成一测试矩形的4个顶点，所述测试矩形的4条边与电阻式触摸屏的4条边分别平行，另一测试点位于测试矩形之中。可选的，位于测试矩形之中的测试点具体位于测试矩形的中点。可选的，所述测试点距电阻式触摸屏的边缘3mm以上。区别于现有技术，上述技术方案在测试时对一批次使用电阻式触摸屏的电子产品进行抽样，并利用通过获取这些样品的校准参数，求得X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值连同基准点的物理坐标与逻辑坐标存储到这一批电子产品中，使得每一台设备均可以在软件中读取这些参数，而不需要通过手动校准的方式去获得，节省了人力。附图说明图1为具体实施方式所述电阻式触摸屏的校准方法的流程图；图2为具体实施方式所述电阻式触摸屏的校准方法所述测试点的分布示意图1；图3为具体实施方式所述电阻式触摸屏的校准方法所述测试点的分布示意图2；图4为具体实施方式所述电阻式触摸屏的校准方法所述测试点的分布示意图3。具体实施方式为详细说明技术方案的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。请参阅图1，本实施例提供了一种电阻式触摸屏的校准方法，包括以下步骤：S101在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取m台电子设备，其中m≥1，例如选取30台屏幕尺寸为320*240带电阻式触摸屏的电子设备。由于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤：在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取m台电子设备，其中m≥1；对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，所述校准参数包括电阻式触摸屏上各点的物理坐标与逻辑坐标之间的函数关系参数，校准参数的获取过程包括步骤：在每台取出的电子设备的电阻式触摸屏上取n个的测试点，n≥2，点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标，根据各测试点的物理坐标与逻辑坐标计算校准参数；将校准参数或其平均值存入每一台该批电子设备中。

【技术特征摘要】
1.一种电阻式触摸屏的校准方法，包括步骤：在一批使用电阻式触摸屏的电子设备产品中选取m台电子设备，其中m≥1；对每台取出的电子设备的电阻式触摸屏的进行测试，以获取该电子设备的校准参数，所述校准参数包括电阻式触摸屏上各点的物理坐标与逻辑坐标之间的函数关系参数，校准参数的获取过程包括步骤：在每台取出的电子设备的电阻式触摸屏上取n个的测试点，n≥2，点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标，根据各测试点的物理坐标与逻辑坐标计算校准参数；将校准参数或其平均值存入每一台该批电子设备中；校准参数包括X轴偏差系数kx，Y轴偏差系数ky，以及基准点的物理坐标与逻辑坐标，校准参数的获取过程包括步骤：在电阻式触摸屏上取n个的测试点，n≥3，其中至少3个测试点的物理X坐标不同，且至少3个测试点的物理Y坐标不同，各测试点物理坐标分别表示为(Xa，Ya)，(Xb，Yb)……(Xn，Yn)；点触各测试点，得到各测试点的逻辑坐标(XLa，YLa)，(XLb，YLb)……(XLn，YLn)；在测试点中，选取p对物理X坐标不同的测试点计算X轴偏差系数kx，p≥1，选取q对物理Y坐标不同的测试点计算Y轴偏差系数ky，q≥1，x轴偏差系数kx的计算公式如下：其中ΔXLi表示每对物理X坐标不同的点的逻辑X坐标差值，ΔXi表示每对物理X坐标不同的点的物理X坐标差值，Y轴偏差系数ky的计算公式如下：其中ΔYLi表示每对物理Y坐标不同的点的逻辑Y坐标差值，ΔYi表示每对物理Y坐标不同的点的物理Y坐标差值；在测试点中选取一点C点(Xc，Yc)点作为基准点，记录该电子设备的校准参数如下：基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数kx以及Y轴偏差系数ky；取m台电子设备的基准点C的逻辑坐标(XLc，YLc)，X轴偏差系数kx，以及Y轴偏差系数ky，分别得到以上参数的平均值以及将基准点C的物理坐标(Xc，Yc)，基准点C的逻辑坐标的平均值X轴偏差系数平均值以及Y轴偏差系数平均值存入每一台该批电子设备中。2.根据权利要求1所述的电阻式触摸屏的校准方法，其特征在于，点触各测试点，得到各测试点的逻辑...

【专利技术属性】
技术研发人员：张明辉，刘勤能，
申请(专利权)人：福建联迪商用设备有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35