本发明专利技术涉及一种能增加收光量及角度的收光装置，包括一积分球及一支撑治具，其中该积分球为一中空的圆形球体，其内壁面均匀形成有一反射面，其外壁则设有一收光柱及至少一出光柱，该收光柱及该出光柱上分别开设有一收光孔及一出光孔，以与该积分球内之空间相连通；该支撑治具则包括一定位环及一透光玻板，该定位环能套接至该收光柱，该透光玻板则固设于该定位环的顶侧，以供支撑及放置一待测发光元件，使该待测发光元件产生的光线进入该积分球后，能投射至一光检测装置进行检测，如此，由于该待测发光元件能透过该透光玻板，定位于紧邻该收光孔的位置，故能有效增加该收光孔接收该待测发光元件产生的光线的收光量及收光角度，提升检测上的精确度。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种能增加收光量及角度的收光装置，包括一积分球及一支撑治具，其中该积分球为一中空的圆形球体，其内壁面均匀形成有一反射面，其外壁则设有一收光柱及至少一出光柱，该收光柱及该出光柱上分别开设有一收光孔及一出光孔，以与该积分球内之空间相连通；该支撑治具则包括一定位环及一透光玻板，该定位环能套接至该收光柱，该透光玻板则固设于该定位环的顶侧，以供支撑及放置一待测发光元件，使该待测发光元件产生的光线进入该积分球后，能投射至一光检测装置进行检测，如此，由于该待测发光元件能透过该透光玻板，定位于紧邻该收光孔的位置，故能有效增加该收光孔接收该待测发光元件产生的光线的收光量及收光角度，提升检测上的精确度。【专利说明】能增加收光量及角度的收光装置
本专利技术涉及一种能增加收光量及角度的收光装置，尤指在一积分球的收光柱上装 设一支撑治具，令一待测发光元件能被定位于邻近该收光柱的位置，以增加该积分球收光 量及角度的收光装置。
技术介绍
发光二极管（Light-Emitting Diode, LED)是一种于通电后能产生光亮的半导体 电子元件，相较于传统的照明用具，发光二极管具有效率高、成本低、反应速度快且使用寿 命长的优点，故近年来开始被大量应用在交通号志、照明器具、显示面板甚至光通讯等领域 上，成为经济发展及科技研发上极具影响力的关键技术之一。 发光二极管中主要发光的元件为晶粒（crystal grain)，由于晶粒的发光亮度、波 长、色温及操作电压等特性会因加工条件上的些微差异而有所不同，且即便是由同一片晶 圆（wafer)切割而成的晶粒，其发光特性亦并不完全相同，因此，在业者将晶圆切割成多个 晶粒后，切割下来的晶粒尚须经过一检测程序，以根据晶粒的主波长、发光强度、光通亮、色 温、工作电压、反向击穿电压等特性参数进行分级后，再将不同等级的晶粒应用于适合的领 域中。 -般而言，现今业者在进行检测程序时，多使用积分球（Integrating Sphere),积 分球一种理想的光学扩散器，其构形为一中空球体，且内部涂布有高稳定度、高反射率的一 反射层（如：硫酸钡)，以在其内部形成一无光害的空间，确保光线投射至该积分球内后，不 会受到其他光源的光害影响，进而降低因光线形状、发散角度及不同检测位置的响应度所 造成的检测误差，使得检测结果更为可靠。请参阅图1所示，为一种公知检测装置1的结构， 该检测装置1包括一积分球11及一点测探针12,该积分球11上设有一收光柱111及二出 光柱112,该收光柱111及出光柱112分别开设有开孔，以连通至该积分球11内的空间，该 出光柱112分别与一光纤13及一光检测器14相连接；该点测探针12经由一点测装置（图 中未示）定位于对应该收光柱111的位置，且该点测探针12下方呈放有一发光二极管的晶 粒10。在进行检测时，该点测探针12能朝下位移，以分别电气连接至该晶粒10的接脚，令 该晶粒10投射出光线，使该发光二极管的晶粒10发出的光线投射至该积分球11内部后， 再通过该光纤13与光检测器14,检测该发光二极管的晶粒10的特性参数。 该晶粒10投射出的光线能在该积分球11中反射、漫射，而形成极为均匀地光束， 被该光纤13及该光检测器14接收，有效地避免了各种可能造成误差的干扰因素。然而，实 际上在进行检测程序时，通过该检测装置1所检测出的光线数据，仍无法理想地完全反应 出该晶粒10的真正特性，现分别详述其理由及该检测装置1的缺陷如下： (1)晶粒10与收光柱111间的距离：由于该晶粒10必须经由该点测探针12来通 电驱动，故该晶粒10与该收光柱111间必然存在着一间隔距离D1，因此，该晶粒10投射出 的光线并无法在不受外界干扰的情况下，理想地投射至该积分球11中，且该晶粒10在投射 出光线时，尚具有一预定的投射角度A，若该投射角度A较大或该间隔距离D1过长，则该光 线在经过该间隔距离D1后，必然会有部分的光线无法顺利被该收光柱111收集，而影响在 测量上的精准度。 (2)收光柱111上开孔的孔径大小：如前所述，由于该收光柱111与该晶粒10间 具有该间隔距离D1，故在进行检测时，该收光柱111上的开孔必然需设计成远较该晶粒10 为大，如此，才能尽可能地避免光线经该投射角度A扩散后，无法全部进入该积分球11的问 题，然而，在该收光柱111的开孔与该晶粒10并不匹配的情况下，该晶粒10投射出的光线 于该积分球11内反射与漫射后，尚可能会由该收光柱111射出，造成该积分球内原应完全 密闭的检测环境被破坏，进而影响到检测上的精准性。 因此，如何对公知的检测装置进行改良，以解决过去在进行检测程序时，晶粒10 产生的光线无法完全地进入该积分球11，且该积分球11中经反射及漫射后的光线，尚可能 由该收光柱111散漏至外界的问题，即成为本专利技术在此亟欲解决的重要问题。
技术实现思路
有鉴于公知检测装置在进行检测程序时，积分球的收光量受限于晶粒的收光角度 影响的问题，专利技术人凭借着多年的实务经验，在不断地研究、测试及改良后，终于设计出一 种能增加收光量及角度的收光装置，期能解决公知检测装置的诸多问题。 本专利技术的目的，是提供一种能增加收光量及角度的收光装置，所述收光装置包括 一积分球及一支撑治具，其中所述积分球为一中空的圆形球体，所述积分球的内壁表面均 匀涂布或形成有一反射面，所述积分球的外壁开设有一收光孔及至少一出光孔，所述收光 孔及出光孔分别与所述积分球内的空间相连通；所述支撑治具包括一定位环及一透光玻 板，其中所述定位环能固设至所述积分球上对应于所述收光孔的位置，并与所述积分球结 合成一体，所述透光玻板固设在所述定位环的顶侧，以在所述定位环与所述积分球结合成 一体时，所述透光玻板能对应于所述收光孔。如此，由于所述待测发光元件直接被置放在 所述透光玻板上紧邻该收光孔的位置，故能有效缩减所述积分球与待测发光元件的间隔距 离，避免所述待测发光元件产生的光线经一发光角度扩散后，无法完全进入所述积分球的 问题，以确保所述待测发光元件在发光角度范围内所产生的所有光线，均能经由反射面均 匀反射及漫射，再经由所述出光孔射出，有效改善所述光检测装置对所述待测发光元件的 量测准确度。 在优选的实施方式中，所述透光玻板面对所述收光孔的一侧表面上，除中央对应 于供支撑及放置所述待测发光元件的部位形成有一透光检测区外，其余部位均涂布有一反 光层，以形成一不透光反射区，所述透光检测区的构形对应于所述待测发光元件的大小。 如此，由于所述透光检测区的构形对应于所述待测发光元件的大小，故在一点测 探针对所述待测发光元件施加电流，进行点测时，所述待测发光元件所产生的光线，除了会 在所述积分球内被所述反射面均匀地反射及漫射外，尚会因所述不透光反射区的辅助，被 反射回所述积分球内，直到形成均匀光强，经由所述出光孔，射出所述积分球外为止，以降 低反射及漫射光由所述收光孔散失的程度。 【专利附图】【附图说明】 图1是公知的检测装置示意图； 图2是本专利技术的收光装置的立体示意图； 图3A是本专利技术的收光装置的作动示意图；及 图3B是本专利技术的收光装本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种能增加收光量及角度的收光装置，其特征在于，所述能增加收光量及角度的收光装置包括：一积分球，为一中空的圆形球体，其内壁表面形成有一反射面，所述积分球的外壁上开设有一收光孔及至少一出光孔，所述收光孔及出光孔分别与所述积分球内的空间相连通；及一支撑治具，包括一定位环及一透光玻板，其中所述定位环的底侧构形与所述积分球上对应于所述收光孔的部位的构形相匹配，以使所述定位环能固设于所述积分球上对应于所述收光孔的位置，并与所述积分球结合成一体，所述透光玻板固设于所述定位环的顶侧，使所述透光玻板能对应于所述收光孔，在一待测发光元件定位于所述透光玻板的背对所述收光孔的一侧表面，且一光检测装置定位于所述出光孔的情况下，所述待测发光元件产生的光线能依序通过所述透光玻板及收光孔，投射至所述积分球内，并在所述积分球内被所述反射面均匀地反射及漫射后，再由所述出光孔，投射至所述光检测装置。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：陈正泰，李志宏，陈志伟，
申请(专利权)人：豪勉科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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