光学侦测系统的光源角度分析方法技术方案

技术编号:2523163 阅读:212 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术光学侦测系统的光源角度分析方法,主要是比较正多面柱体上不同光侦检器(Photo Detector)感应光电流强度的差异、分析出其光电流强度比例及修正函数F(x),藉以计算基础角度θ↓[m]、增益率x,及设定加权值w,进而精算出光源的方位角度θ=θ↓[m]+w×dθ;本发明专利技术能精确测知对方航行器的方位角度,应用简单、成本低。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种,尤指一种适用于以多方位光侦检器来侦测对方航行器的被动式光学侦测系统,特别适用于螺旋浆飞机、小型或经济型飞机中的光源角度分析方法。传统高级或中大型喷射机多是于飞机上装设有精密雷达等侦测系统,用以主动侦测四周有无障碍物体(比如来机或高山),故可预先告知驾驶员予以避开。然而,小型、经济型、或螺旋浆型飞机的造价相对较低,无法负担此类造价高昂的雷达先进设备,驾驶员平时只能以目视方式环顾四周有无来机。本专利技术人前以第88206664号“被动式光学侦测系统”专利,申请以复数片光侦检器围成的多面柱体来感应光讯号,藉此比较光电流讯号的强弱来判别来机光源方位。然而,该案只能得知光源的粗略方位角度,专利技术人并不以此为满足,本于积极专利技术的精神,亟思一种可以精确测知来机光源的方位角度的“”,几经研究实验终至完成此项嘉惠世人的专利技术。本专利技术的主要目的是在提供一种,以便能精确测知对方航行器的方位角度。为达上述目的,本专利技术藉由分析围成正n面柱体的复数片光侦检器P0,P1,…,Pm,m=0,1,…,n-1,所感应到的光电流强度I0,I1,…,Im,以精确判断光源S的方位角本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学侦测系统的光源角度分析方法,用以分析围成正n面柱体的复数片光侦检器P↓[0],P↓[1],…,P↓[m],m=0,1,…,n-1所感应到的光电流强度,藉以精确判断光源的方位角角θ,其特征在于,该方法主要包括下列步骤:(S1)选取 具有最大光电强度的光侦检器;(S2)计算该光侦检器的基础角度θ=(360/n)×m;(S3)撷取前一片光侦检器及下一片光侦检器的光电流强度I↓[m-1],I↓[m+1];(S4)比较该二光电流强度I↓[m-1],I↓[m+1]的 大小;(S5)计算修正系数;加权值w、增益率x,若I↓[m+1]>I↓[m-1],令加权值w=1,计算增...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:史则羽贾敏忠林志鸿
申请(专利权)人:财团法人资讯工业策进会
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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