本发明专利技术公开了一种多点位移测量装置。该装置包括一根核心测杆和n个游标，其中n为大于等于2的自然数，该测量装置工作时，各游标运动轨迹与核心测杆的长度方向平行，各游标独立运动，且各游标最大运动行程大于或等于核心测杆的有效量程，每个游标对应一个独立的位置测量点，参与测量的游标数为自然数m，且1≤m≤n。本装置各游标都在自己唯一对应的滑槽内独立运动，实现了各游标之间并行工作独自测量，游标最大测量范围覆盖核心测杆最大量程，不会出现传统多点位移测量装置工作时的游标相互影响的情况。
【技术实现步骤摘要】
一种多点位移测量装置
本专利技术涉及一种多点位移测量装置，特别是涉及一种在测量方向上各游标之间并 行运动、独立测量的位移测量装置。
技术介绍
传统的多点位移测量装置，拥有2个及2个以上游标，分为两种类型。 类型1是装置工作时，多个游标在一根核心测杆的同一根导轨上或者同一个滑槽 中移动，各个游标的位置有前后之分或者上下之分。有如下两种工作模式。 -种工作模式为：各个游标在核心测杆有效量程的多个独立的不重合区间内移动 测量，即各个游标以在核心测杆有效量程内只测量其中一段区域，所述区域之间没有重合 部分。假设核心测杆有效量程为〇到15米，需要测3个位置，有3个游标a、b、c，游标a的 测量范围在〇到4米，游标b的测量范围在5到10米，游标C的测量范围在10. 5到13米， 游标a、游标b、游标c工作在核心测杆有效量程的不同区间，各区间之间不重合。 另一种工作模式为：各个游标按先后次序或上下次序在核心测杆有效量程的有效 量程内移动测量，即假设有3个游标a、b、c，各游标依次在核心测杆的同一根导轨上或者同 一个滑槽中移动。从核心测杆的零点到最大量程方向，游标的排列顺序为a、b、c。 类型2是将2个或独立的位移测量装置并联，组合到统一的测量方向上，每个位移 测量装置的游标都对应一个独立的位置测量点。在需要3个位移测量值的应用中，将3个 位移测量装置A、B、C并联，每个位移测量装置都有自身的核心测杆，每个位移测量装置游 标的测量范围，都在对应的核心测杆有效量程以内，工作时，位移测量装置A、B、C之间互不 影响。 上述两种类型的多点位移测量装置存在如下不足： 类型1的多点位移测量装置中，在第一种工作模式下，没有一个游标的测量范围或称 量程可以覆盖核心测杆的有效量程，且不同游标的测量范围之间没有区间重合的情况。在 需要多个游标测量范围有所重叠的场景中就无法发挥作用。 类型1的多点位移测量装置中，在第二种工作模式下，虽然各个游标之间的测量 范围在很大程度上重合，但各游标之间必须遵循既定的测量顺序，任一游标不可能越过其 前方/后方/上方/下方的游标进行测量。游标的测量范围受到其相邻游标当前位置的影 响，各游标不能做到在自身量程范围内自由移动。 类型2的多点位移测量装置，存在2个或2个以上的核心测杆，不仅造价昂贵，而 且在安装、调试、校准、输出等各个方面都比单核心测杆多点位移测量装置复杂许多。 所以，需要设计一种新型的多点位移测量装置，在只使用一根核心测杆的情况下， 其上的2个及2个以上游标可以独立在核心测杆的有效量程内自由测量，每个游标的最大 测量范围等于核心测杆有效量程，每个游标的运动位置、测量范围不受其他游标影响。
技术实现思路
针对以上技术问题，本专利技术提出了一种多点位移测量装置。 一种多点位移测量装置，该装置包括一根核心测杆和η个游标，其中η为大于等于 2的自然数，该测量装置工作时，各游标运动轨迹与核心测杆的长度方向平行，各游标独立 运动，且各游标最大运动行程大于或等于核心测杆的有效量程，每个游标对应一个独立的 位置测量点，参与测量的游标数为自然数m，且1 < η。 所述核心测杆表面有滑槽或导轨，所述滑槽为直线型，所述导轨为直线型，且滑 槽、导轨的直线方向与核心测杆的长度方向平行，所述测量装置工作时，游标沿滑槽或导轨 运动。 所述核心测杆表面光滑，无滑槽，无导轨，所述测量装置工作时，游标悬浮于核心 测杆表面。 所述核心测杆有滑槽或者导轨的部分为圆柱形，滑槽与滑槽之间、或者滑槽与导 轨之间、或者导轨与导轨之间相互平行；或者核心测杆为有r个侧面的棱柱，每个侧面上有 s条滑槽或者导轨，r为大于等于3的自然数，s为大于等于1的自然数；滑槽与滑槽之间、 或者滑槽与导轨之间、或者导轨与导轨之间相互平行。 所述多点位移测量装置还包括游标连杆和位置连杆，游标连杆与位置连杆间为刚 性连接，游标连杆与游标之间为铰接。 所述多点位移测量装置还包括游标连杆和位置连杆，游标连杆与位置连杆间为刚 性连接，游标连杆与游标之间为刚性连接。 所述核心测杆的测量器件为磁致伸缩位移传感器，或电阻尺，或光栅尺，或磁栅 尺，或LVDT。 本专利技术阐述的多点位移测量装置专为解决目前多点测量中存在的问题而设计。本 专利技术的核心设计为单核心测杆+n个全量程游标设计，工作时游标独立测量，相互间无影 响。本专利技术中所述的的滑槽，是一种凹槽结构，游标下端嵌在滑槽内滑动。本专利技术中所述的 导轨，是一种外凸结构，游标下端扣住导轨沿导轨滑动。 多点位移测量装置结构类型I为：多点位移测量装置包括一根核心测杆和η个游 标。核心测杆表面带有直线型滑槽，核心测杆带滑槽部分的形状为圆柱体，滑槽的方向与核 心测杆的长度方向平行，滑槽的数量为η个，每条滑槽对应一个游标，游标在滑槽内运动。η 为大于等于2的自然数。 多点位移测量装置结构类型Ι-i为：多点位移测量装置包括一根核心测杆和η个 游标。核心测杆表面带有直线型滑槽，核心测杆带滑槽部分的形状为圆柱体，滑槽的方向 与核心测杆的长度方向平行，滑槽的数量为η个，每条滑槽对应一个游标，游标在滑槽内运 动。η为大于等于2的自然数。所述滑槽在核心测杆表面均匀分布，即核心测杆表面任一滑 槽与前后相邻滑槽之间的距离都相等。 多点位移测量装置结构类型I-i-i为：多点位移测量装置包括一根核心测杆和η 个游标。核心测杆表面带有直线型滑槽，核心测杆带滑槽部分的形状为圆柱体，滑槽的方向 与核心测杆的长度方向平行，滑槽的数量为η个，每条滑槽对应一个游标，游标在滑槽内运 动。η为大于等于2的自然数。所述滑槽在核心测杆表面均匀分布，即核心测杆表面任一滑 槽与前后相邻滑槽之间的距离都相等。所述滑槽的长度均相同，各游标在滑槽内运动时，游 标的最大运动行程相同。 多点位移测量装置结构类型I-i-i-i为：多点位移测量装置包括一根核心测杆和 η个游标。核心测杆表面带有直线型滑槽，核心测杆带滑槽部分的形状为圆柱体，滑槽的方 向与核心测杆的长度方向平行，滑槽的数量为η个，每条滑槽对应一个游标，游标在滑槽内 运动。η为大于等于2的自然数。所述滑槽在核心测杆表面均匀分布，即核心测杆表面任 一滑槽与前后相邻滑槽之间的距离都相等。所述滑槽的长度均相同，各游标在滑槽内运动 时，游标的最大运动行程相同。滑槽的长度大于或等于或小于核心测杆的有效量程。滑槽 的长度大于核心测杆的有效量程时，各游标最大运动行程大于核心测杆的有效量程，滑槽 的头部和尾部各有一段测量盲区，这样在保证利用核心测杆有效量程的前提下，测量盲区 为核心测杆装配内部、外部的机械结构件和电子电气件、磁学元件、光学原件提供了装配空 间。滑槽的长度等于核心测杆的有效量程时，各游标最大运动行程小于等于核心测杆的有 效量程。滑槽的长度小于核心测杆的有效量程时，各游标最大运动行程小于核心测杆的有 效量程。 多点位移测量装置结构类型I-i-i-i-i为：多点位移测量装置包括一根核心测杆 和η个游标。核心测杆表面带有直线型滑槽，核心测杆带滑槽部分的形状为圆柱体，滑槽的 方向与核心测杆的长度方向平行，滑槽的数本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种多点位移测量装置，其特征在于：该装置包括一根核心测杆（1）和n个游标（2），其中n为大于等于2的自然数，该测量装置工作时，各游标（2）运动轨迹与核心测杆（1）的长度方向平行，各游标（2）独立运动，且各游标（2）最大运动行程大于或等于核心测杆（1）的有效量程，每个游标（2）对应一个独立的位置测量点，参与测量的游标（2）数为自然数m，且1≤m≤n。
【技术特征摘要】
1. 一种多点位移测量装置，其特征在于：该装置包括一根核心测杆（1)和η个游标 (2) ，其中η为大于等于2的自然数，该测量装置工作时，各游标（2)运动轨迹与核心测杆 (1)的长度方向平行，各游标（2)独立运动，且各游标（2)最大运动行程大于或等于核心测 杆（1)的有效量程，每个游标（2)对应一个独立的位置测量点，参与测量的游标（2)数为自 然数m，且1 < m < η。2. 如权利要求1所述的多点位移测量装置，其特征在于：所述核心测杆（1)表面有滑槽 (3) 或导轨（4)，所述滑槽为直线型，所述导轨为直线型，且滑槽（3)、导轨（4)的直线方向与 核心测杆（1)的长度方向平行，所述测量装置工作时，游标（2)沿滑槽（3)或导轨（4)运动。3. 如权利要求1所述的多点位移测量装置，其特征在于：所述核心测杆（1)表面光滑， 无滑槽，无导轨，所述测量装置工作时，游标（2)悬浮于核心测杆（1)表面。4. 如权利要求2所述的多点位移测量装置，其特征在于：...
【专利技术属性】
技术研发人员：龚大成，车红昆，
申请(专利权)人：龚大成，车红昆，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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