【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有测量仪和扫描模块的测量系统
本专利技术涉及具有测量仪和扫描模块的测量系统、根据本专利技术的扫描模块、测量仪以及扫描方法。
技术介绍
为了采集物体或表面,通常采用以下方法,其连续扫描并同时记录下结构(如建筑)的形貌。这样的形貌此时构成相关联的描绘物体的表面的一系列点或者相应的模型或表面描绘。通常做法是借助激光扫描器进行扫描,该激光扫描器总是如此采集表面点的空间位置,即,通过激光来测量至所瞄准的表面点的距离并且使测量结果与激光发射的角度信息相关联。根据该距离信息和角度信息,可以确定所采集的点的空间位置并且能够连续地测量所述表面。在许多情况下,与单纯的几何形状采集并行地还执行借助照相机的图像拍摄,该照相机除了可视总体视图之外还提供例如关于表面纹理的其它信息。因此,例如在WO97/40342中描述了以下方法,其通过以位置固定的方式设立的扫描系统来记录形貌。为这些系统选择固定的设立点,并且这些固定的设立点用作由马达所引起的扫描过程的基准。各表面点的三维位置信息可通过至测量点的距离、测量时的角度位置和扫描装置的已知设立地点被推导出来。在此,该扫描系统专门设计为用于形貌采集任务并通过扫描系统的运动或光路的变化来扫描表面。此外,扫描功能可以作为附加功能被集成到各种不同的仪器中。例如WO2004/036145公开了一种大地测量仪,该测量仪从其位于所采集区域内的位置起发射出距离测量用激光束。这样的测量仪也可被改动或无需改动地被操作以用扫描的方式采集表面。其一个例子是机动化的经纬仪或全站仪。其它方法采用了可移动系统,该可移动系统通过扫描系统的运动来扫描待采集的结构或者支持或 ...
【技术保护点】
一种测量系统(50),该测量系统具有:·测量仪(20),该测量仪尤其是全站仪、经纬仪或激光跟踪器,该测量仪包括:□基座(20b);□安置在所述基座(20b)上且能绕枢转轴线(22)枢转的构造(20a);□瞄准单元(30),该瞄准单元尤其是瞄准望远镜,其中所述瞄准单元(30)至少具有·用于发出第一激光束的发射单元,所述发射单元限定光学瞄准轴线;和·用于测量至目标(70)的距离的第一测距功能;以及□第一角度测量功能(24),该第一角度测量功能用于高精度地采集由所述构造(20a)相对于所述基座(20b)的相对枢转位置所限定的至少一个枢转角;·用于数据处理并用于控制所述测量系统(50)的控制和处理单元,其特征是,·所述测量系统(50)具有扫描模块(10),该扫描模块包括:□固定机构(18),该固定机构用于将所述扫描模块(10)固定到对应于该固定机构的承座;□光束偏转元件(11,11a),该光束偏转元件用于使扫描激光束(60)偏转,所述光束偏转元件能以马达驱动的方式绕转动轴线(12)转动,其中所述转动轴线(12)在接纳状态下相对于所述枢转轴线(22)成规定角度,尤其是与所述枢转轴线垂直;以及□第 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.01.30 EP 12153162.81.一种测量系统(50),该测量系统具有:测量仪(20),该测量仪包括:基座(20b);安置在所述基座(20b)上且能绕枢转轴线(22)枢转的构造(20a);瞄准单元(30),其中所述瞄准单元(30)至少具有用于发出第一激光束的发射单元,所述发射单元限定光学瞄准轴线;和用于测量至目标(70)的距离的第一测距功能;以及第一角度测量传感器(24),该第一角度测量传感器用于高精度地采集由所述构造(20a)相对于所述基座(20b)的相对枢转位置所限定的至少一个枢转角;用于数据处理并用于控制所述测量系统(50)的控制和处理单元,其特征是,所述测量系统(50)具有扫描模块(10),该扫描模块包括:固定机构(18),该固定机构用于将所述扫描模块(10)固定到对应于该固定机构的承座;光束偏转元件(11,11a),该光束偏转元件用于使扫描激光束(60)偏转,所述光束偏转元件能以马达驱动的方式绕转动轴线(12)转动,其中所述转动轴线(12)在接纳状态下相对于所述枢转轴线(22)成规定角度,所述扫描激光束(60)由所述发射单元或所述扫描模块(10)中的光束源(15)发出;以及第二角度测量传感器(13),该第二角度测量传感器用于根据所述光束偏转元件(11,11a)的角位置来确定转动角,所述测量仪(20)具有如此构成的所述承座,即,所述扫描模块(10)能借助所述承座与所述固定机构(18)的相互作用而以模块化方式按照规定的定位被固定在所述测量仪(20)上,所述控制和处理单元如此构成,即,将针对所述目标(70)上的一个点的相应的转动角、相应的枢转角和相应的距离进行关联,从而通过所述关联来限定相应的点位;能产生具有多个所述点位的点云。2.根据权利要求1所述的测量系统(50),其特征是,所述扫描模块(10)具有光束通道单元(9),并且所述瞄准单元(30)能够被如此对准,即,所述第一激光束在耦合输入的状态下能借助所述光束通道单元(9)被耦合输入所述扫描模块(10),并且该第一激光束作为扫描激光束(60)能借助所述光束偏转元件(11,11a)绕所述转动轴线(12)以转动的方式进行偏转。3.根据权利要求2所述的测量系统(50),其特征是,所述扫描模块(10)具有如此构成的采集单元(16),即,在耦合输入的状态下能借助所述光束偏转元件(11,11a)被偏转到所述采集单元(16)上的所述第一激光束的入射位置能在所述采集单元(16)上被采集,其中能够根据所述入射位置产生指示所述扫描模块(10)相对于所述测量仪(20)的相对定位的定位参数。4.根据权利要求1至3中任一项所述的测量系统(50),其特征是,所述测量系统(50)具有至少由两个部件组成的对中装置,该对中装置用于按规定的方式将所述扫描模块(10)定位在所述测量仪(20)上,其中第一部件(19)配属于所述扫描模块(10),第二部件(33)配属于所述测量仪(20)。5.根据权利要求1至3中任一项所述的测量系统(50),其特征是,该测量系统(50)具有至少一个测距传感器(32),该测距传感器用于在接纳状态下测量所述扫描模块(10)和所述测量仪(20)之间的距离,以产生指示所述扫描模块(10)相对于所述测量仪(20)的相对定位的另一个定位参数,和/或所述测量系统(50)具有用于采集图像的照相机(16,28,85)。6.根据权利要求1至3中任一项所述的测量系统(50),其特征是,所述扫描模块(10)相对于测量仪(20)的倾斜度可借助扫描显著结构来确定,其中所述倾斜度是根据将代表所述显著结构并且借助所述扫描模块(10)产生的扫描点云与代表所述显著结构并且利用所述测量仪(20)产生的测量点云进行比较来确定的。7.根据权利要求1所述的测量系统(50),其特征是,该测量仪是全站仪、经纬仪或激光跟踪器。8.根据权利要求1所述的测量系统(50),其特征是,该瞄准单元是瞄准望远镜。9.根据权利要求1所述的测量系统(50),其特征是,所述转动轴线(12)在接纳状态下与所述枢转轴线(22)垂直。10.根据权利要求2所述的测量系统(50),其特征是,在所述目标(70)处所反射的扫描激光束(60)能借助所述光束通道单元(9)而从所述扫描模块(10)被耦合输出。11.根据权利要求3所述的测量系统(50),其特征是,所述点位能够借助该定位参数被修正。12.根据权利要求1所述的测量系统(50),其特征是,所述扫描模块(10)具有用于进行距离测量的第二测距功能。13.根据权利要求12所述的测量系统(50),其特征是,所述扫描模块(10)具有用于借助所述扫描激光束(60)进行距离测量的所述第二测距功能。14.根据权利要求4所述的测量系统(50),其特征是,能借助传感器(34)来测量定位精度,所述传感器用于确定所述第一部件(19)相对于所述第二部件(33)的相对定位。15.一种用于根据权利要求1所述的测量系统(50)的扫描模块(10),该扫描模块包括:光束偏转元件(11,11a),该光束偏转元件用于使扫描激光束(60)偏转,所述光束偏转元件能以马达驱动的方式绕转动轴线(12)进行转动;以及角度测量传感器(13),该角度测量传感器用于根据所述光束偏转元件(11,11a)的角度位置来确定转动角,其特征是,所述扫描模块(10)具有固定机构(18),该固定机构用于将所述扫描模块(10)固定到与该固定机构(18)对应的承座,其中所述扫描模块(10)能借助所述固...
【专利技术属性】
技术研发人员:克努特·西尔克斯,伯恩哈德·麦茨勒,
申请(专利权)人:赫克斯冈技术中心,
类型:发明
国别省市:瑞士;CH
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